Способ определения разнотолщинности кристаллических элементов Советский патент 1983 года по МПК G01B17/02 

J

Ю

СП)

;& Изобретение относится к средствам ультразвукового контроля и может быть использовано при производстве пьезоэлектрических элементов. Наиболее близким по технической сущности к предлагаемому является способ определения разнотолщинности кристаллических элементов, заключающийся в том, что устанавливают между электродами исследуемый элемент,возбуждают в нем колебания при двух раз личных конфигурациях электродов, при каждой из них измеряют значения резонансных частот первых гармоник, по разности которых определяют разнотолщинность кристаллического элемента ij . Недостатком указанного способа является то, что при каяадом измерении необходима смена электродов. Это приводит к нарушению постоянства заэора между электродами и пьезопласти ной, что уменьшает точность оценки разнотолщинности. Цель изобретения - повышение точности определения разнотолщинности, Поставленная цель достигается тем что согласно способу определения разнотолщинности кристаллических элементов, заключающемуся в том,что устанавливают между электродами исследуемый элемент, возбуждают в нем колебания при двух различных конфигурациях электродов, при каждой из них измеряют значение резонансных частот первых гармоник, по разности которых определяют разнотолщинность кристаллического элемента, выполняют электроды составньми, подключением элементов электродов получают различ ную их конфигурацию и возбуждают колебания последовательного резонанса на основной и ангармонической модах На фиг.1 изображена электрическая схема устройства, реализующего пред.лагаемый способ при возбуждении на основной моде; на фиг,2 - то же, при возбуждении на ангармонической моде. Устройство содержит неподвижный и подвижный электроды, связанные с исследуемым кристаллическим элементом 1 и с генератором электрических колебаний (не показан). Сущность способа заключается в том, что устанавливают между элементами неподвижного и подвижного электродов исследуемый элемент 1, возбуждают в нем колебания последовательного резонанса путем включения по схеме фиг,1 на основной моде и по схеме фиг.2 при возбуждении на ангармонической моде. Измеряют значения резонансных частот первых гармоник и по их разности определяют разнотолщинность кристаллического элемента 1, Способ осуществляют следующим образом, В кристаллическом элементе 1 одним из известных способов определяют и фиксируют направление кристаллографических осей в направлении измерения разнотолщинности. Кристаллический элемент 1 укладывают в соответствую- щую центрирующую ячейку (не показана) так, чтобы определенная кристалле графическая ось была направлена перпендикулярно зазорам элементов неподвижных электродов. Затем на кристаллический элемент 1 устанавливают элементы подвижного электрода и с помощью генератора электрических колебаний и коммутирующего устройства (не показаны) возбуждают поочередно колебания основной и ангармонической моды,- Разность частот определяют по показаниям частотомера (не показан), и по полученному результату производят оценку разнотолщинности кристаллического элемента 1. Использование изобретения позволяет усовершенствовать технологический процесс шлифовки и доводки кристаллических элементов путетл повыщения точности выполнения технологических операций -.-. тем уменьшить разброс динамических параметров изделий из пьезокерамики.

I JT

СПОСОБ ОПРВДЕЛЕНИЯ РАЗНОТОЛЦИННОСТИ КРИСТАЛЛИЧЕСКИХ ЭЛЕМЕНТОВ, заключающийся в том, что устанавливают между электродами исследуе мый элемент;t возбуждают в немколебания при двух различ шх конфигурациях электродов, при каящой из них измеряют значения резонансных частот первых raiMOHHK, ito разности определяют разнотолщннность кристаллического элемента, отличающийся т&л, что, с целью повыше -. ния точности, выполняют электроды составными, подключением элементов электродов получают различную нх конфигурацию и возбужцают колебания последовательного резонанса на основной и ангармонической модах. 1 fcb,

т