Способ контроля ширины рабочего зазора магнитной головки Советский патент 1983 года по МПК G11B5/46 

Описание патента на изобретение SU1045265A1

Изобретение относится к приборостроению, в частности к технике -магнитной записи, и может быть использовано для контроля параметров магнитных головок. Известно устройство для контроля ширины рабочего зазора магнитной головки, содержащее магнитный элемент, укрепленный на немагнитной основе, смонтированный с возможностью сопряжения с рабочей поверхностью магнитной головки, оптически прозрачную пластину и оптический индикатор 1. Недостаток данного способа состоит в том, что измеренная ширина рабочего зазора является функцией от величины тока намагничивания. Наиболее близким к предлагаемому является способ контроля ширины рабочего зазора магнитной головки с помощью источника света, оптической системы в виде двух поляроидов, магнитооптического датчика, оптического индикатора и источника постоянного напряжения для питания обмотки магнитной головки 2. Однако известный способ характеризуется недостаточной точностью контроля ширины рабочего зазора головки. Цель изобретения - повышение точности измерения. Поставленная цель достигается тем, что при измерении ширины рабочего зазора магнитной головки, основанном на регистрации области действия полей головки оптическими средствами, магнитную головку гтОмеш,ают в дифракционную камеру электронного микроскопа с направлением длины зазора вдоль оптической оси микроскопа, изменяют ток промежуточной линзы, получают лоренцмикроскопическое изображение поля в области рабочего зазора головки и по ординате конвергейтного изображения определяют прямо пропорциональную ей ширину рабочего зазора. На фиг. 1 и 2 изображено расположение головки в электронном микроскопе,при котором возникающая сила Лоренца F, перпендикулярна скорости электронов v, направлена от зазора (фиг. I) или к зазору (фиг.2), что в режиме недофокусирования (W- величина недофокусирования) формирует на гглоскости изображения промежуточной линзы S дивергентное изображение поля головки (фиг. 1) и конвергентное изображение (фиг. 2); на фиг. 3 - изображение поверхности записывающей головки в отсутствии поля (а), дивергентное изображение (б) и конвергентное изображение (в), ноложе65кие фокуса которого отмечено буквой L ; на фиг. 4 - то же, для воспроизводящей головки. Фигуры 3 и 4 получают при одинаковом релсиме работы электронного микроскопа. Контроль ширины рабочего зазора осушествляют следуюпги.ч образом. Магнитную головку помещают в дифракционную камеру электронного микроскопа с направлением протяженности зазора вдоль оптической оси микроскопа, затем подают рабочий ток на подмагничивающие катущки () и подбирается такая величина тока промежуточной линзы { ISOmj) (режим расфокусирования W), чтобы на конвергентном Лоренцмикроскопическом изображении поверхности головки появилась бы петля с выраженным фокусом. Затем, сфотографировав на одной фотопластинке изображение поверхности головки без подмагничивающего тока и при величине тока, соответствующей сфокусированному конвергентному Лоренцмикроскопическому изображению (в данном случае 2та);, при одном и том же значении тока промежуточной линзы, определяют ординату фокуса L петли конвергентного изображения с помощью оптического микроскопа. Q К- Ширина зазора где L - ордината фокуса; т - степень увеличения микроскопа; К - коэффициент, характеризующий глубину зазора, определяемый эмпирически. Из приведенный фиг. 3 и 4 хорошо видно различие ординат фокуса L двух различных головок. Для осуществления измерения требуется иметь на одной фотопластинке изображение поверхности головки в отсутствии гюля (а) и конвергентное изображение (в) при наличии поля. Для приведенной (фиг. 3) магнитной головки величина L 23890 мк, / 1000, К 0,28,при этом ширина из.меряемого зазора равна 6,7 мк, а для головки на фиг. 4 - L 7940 мк, и соответственно ширина зазора - 2,2 мк. Повьпиение точности определения ширины рабочего зазора предлагаемым способом обусловлено тем, что вместо непосредственного измерения очень малой величины порядка нескольких микрон, измеряется значительно больщая величина порядка десятков миллиметров, что достигается благодаря использованию Лоренцова отклонения. О

Похожие патенты SU1045265A1

название год авторы номер документа
Способ контроля однородности магнитного поля в зазоре магнитной головки для записи информации 1982
  • Погосян Ярослав Мкртычевич
  • Погосян Тамара Арсеновна
  • Овсепян Артур Карапетович
SU1056272A1
Способ контроля многоэлементных магнитных головок для записи и воспроизведения информации 1982
  • Погосян Ярослав Мкртычевич
  • Погосян Тамара Арсеновна
  • Овсепян Артур Карапетович
SU1035644A1
Способ исследования структуры магнитных полей с использованием лазерного излучения 2020
  • Логунов Семен Эдуардович
  • Давыдов Вадим Владимирович
RU2751462C1
ДАТЧИК ВОЛНОВОГО ФРОНТА 2006
  • Чжоу Янь
  • Чжао Цин Чунь
RU2431813C2
СПОСОБ НАВЕДЕНИЯ И ФОКУСИРОВКИ ИЗЛУЧЕНИЯ НА МИШЕНЬ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2020
  • Бородин Владимир Григорьевич
  • Мигель Вячеслав Михайлович
  • Филиппов Владимир Геннадьевич
RU2726219C1
Способ контроля линейных размеров микропроволоки 1990
  • Александров Владимир Кузьмич
  • Ильин Виктор Николаевич
SU1776986A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ НАПРЯЖЕННОСТИ ЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОЛЕЙ ЭЛЕКТРОННО-ОПТИЧЕСКИМ МЕТОДОМ 2010
  • Иванов Владимир Михайлович
  • Печагин Евгений Александрович
  • Винокуров Евгений Борисович
  • Лановая Анна Владимировна
  • Иванова Людмила Михайловна
RU2442182C1
ОПТИЧЕСКАЯ ИЗМЕРИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА И СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КРИТИЧЕСКОГО РАЗМЕРА 2012
  • Коптяев Сергей Николаевич
  • Ланцов Алексей Дмитриевич
  • Рябко Максим Владимирович
  • Щербаков Александр Вячеславович
RU2509718C1
Способ определения подлинности и качества изготовления защитных голограмм, выполненных на основе дифракционных микроструктур, и устройство для его реализации 2019
  • Бессмельцев Виктор Павлович
  • Вилейко Вадим Викторович
  • Максимов Михаил Викторович
RU2722335C1
ПЛАНАРНАЯ ЦИЛИНДРИЧЕСКАЯ МИКРОЛИНЗА 2013
  • Котляр Виктор Викторович
  • Налимов Антон Геннадьевич
RU2539850C2

Иллюстрации к изобретению SU 1 045 265 A1

Реферат патента 1983 года Способ контроля ширины рабочего зазора магнитной головки

СПОСОБ КОНТРОЛЯ ШИРИНЫ РАБОЧЕГО ЗАЗОРА МАГНИТНОЙ ГОЛОВКИ, основанный на регистрации области действия полей головки оптическими средствами, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, магнитную головку помешают в дифракционную камеру электронного микроскопа с направлением длины зазора вдоль оптической оси микроскопа, изменяют ток промежуточной линзы, лолучают лоренцмикроскопическое конвер.рентное изображение поля в области рабочего зазора головки и по ординате коивер гентного изображения определяют прямо лропорциональную ей ширину рабочего заiopa.

Формула изобретения SU 1 045 265 A1

Z.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1983 года SU1045265A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Авторское свидетельство СССР № 431544, кл
Походная разборная печь для варки пищи и печения хлеба 1920
  • Богач Б.И.
SU11A1
Аппарат для очищения воды при помощи химических реактивов 1917
  • Гордон И.Д.
SU2A1
Устройство для контроля рабочего зазора магнитной головки 1976
  • Чеканов Владимир Васильевич
  • Скибин Юрий Николаевич
  • Шацкий Владимир Петрович
SU593241A1
Кипятильник для воды 1921
  • Богач Б.И.
SU5A1
тип)

SU 1 045 265 A1

Авторы

Погосян Ярослав Мкртычевич

Погосян Тамара Арсеновна

Овсепян Артур Карапетович

Вермишян Гарник Андрушевич

Даты

1983-09-30Публикация

1982-02-08Подача