Устройство для изменения шероховатости поверхности Советский патент 1984 года по МПК G01B11/30 

Описание патента на изобретение SU1067350A1

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного измерения параметров шероховатости полированных поверхностей. Известно устройство для определения параметров шероховатости (среднего квадратического отклонения высо неровностей и среднего квадратического значения углов наклона неровностей, связанного с интервалом корреляции определенным соотнесением), содержащее лазер, освещающий измеряе мую поверхность практически нормально, отражатель в виде сферического зеркала с отверстием в центре, через которое отводится зеркально отраженный поток, ирисовую диафрагму и фото приемник. Путем установки разных диаметров ирисовой диафрагмы измен яется телесный угол диффузно отраженного потока и производится два измерения при двух разных; телесных углах 1. Недостатком этого устройства явля ется наличие образца сравнения. Наиболее близким к изобретению по технической сущности является уст ройство для измерения шероховатости поверхности., содержащее последовательно расположенные на однОй оси и устанавливаемые под острым углом к измеряемой поверхности источник монохроматического излучения, модулятор и оптическую систему, приемник излучения, светофильтры, расположенные перед приемником излучения, и электронный блок обработки сигналов В этом устройстве используются три преемника излучения, установленные в плоскости падения так, что на первый приемник, попадает поток излучения, отраженный в зеркальном направлении под углом в , а на два других - потоки излучения, отраг женные под углом 82 и 0 также ТРИ диафрагмы, установленные перед приемниками излучения 2. Недостатком зтого устройства являются: необходимость измерения малых потоков излучения, отраженных под углом 02 и 0, связанная с малыми . значениями телесных углов, что снижает чувствительность и точность устройства; большая погрешность изме рения параметров шероховатости на анизотропных неоднородных поверхностях, обусловленная тем что в зтом случае индикатрисса рассеяния в плос кости падения существенно изменяется при различных направлениях зтой плоскости. . Цель изобре тения - повышение точности и чувствительности измерения. Указанная цель достигается гем, что устройство для измерения шероховатости поверхности, содержащее последовательно расположенные на одной оси и устанавливаемые под острым углом к измеряемой поверхности источник монохроматического излучения, модулятор и оптическую систе му, приемник излучения, светофильтры, расположенные перед приемником излучения, и электронный блок обработки сигналов, снабжено последовательно установленными перед светофильтра по ходу отражаемых от контролируемой поверхности световых лучей маской, имеющей два кольцевых концентрических отверстия и круглое отверстие в центре, тремя параллельными шторками, выполненнь 4и с возможностью перемещения относительно маски, и фокусирующим объективом. На фиг. 1 изображена принципиальная схема устройства.для измерения шероховатости поверхности; на фиг, 2, 3, 4 - конфигурация маски и расположение шторок относительно маски. Устройство содержит последовательно расположенные на одной оси и устанавливаемые под острым углом к измеряемой поверхности источник 1 монохроматического излучения, модулятор 2 и оптическую систему 3, последовательно установленные по ходу отражаемых от контролируемой поверхности световых лучей маску, имеющую два кольцевых концентрических отверстия и круглое отверстие в центре, три параллельные между собой шторки 5, 6 и 7, выполненные с возможностью перемец ения относительно 1аски 4, фокусирующий объектив 8, светофильтры 9, приемник 10 излучения и электронный блок 11 обработки сигналов. Устройство работает следующим образом. Параллельный пучок монохроматического излучения, выходящий из ирточника 1 монохроматического излучения-лазера, модулируется модулято ром 2, представляющим собой жидкокристаллическую ячейку с поляризатором, и оптической системой 3 направляется на измеряемую поверхность 12. Отраженный в зеркальном направлении поток проходит через.круглое отверстие в центре маски 4, затем чере объектив 8, светрфильтры 9,попадает на приемник 10 излучения и регистрируется электронным блоком 11 обработки сигналов. При этом подвижные шторки б и 7 вдвинуты, а шторка 5 : в,ыдвинута (фиг. 2). Затем при вдвинутых подвижных шторках 5 и 7 и выдвинутой подвижной шторке б (фиг.З) регистрируется поток излучения, прошедший через внутреннее кольцевое отверстие в маске 4. После чего, выдвинув подвижную шторку 7 и вдвинув шторки 5 и б (фиг. 4), регистрируется поток излучения, прошедший через крайнее кольцевое отверстие в маске 4. По отношению потоков излучения, прсяаедших через кольцевые отверстия в маске 4, к зеркальному отргикенному опр чделяются параметры шероховатости измеряемой поверхности г среднее квадратическЬе отклонение и интервал корреляции высот неровностей. Так как в данном устройстве петоки рассеянного излучения измеряются в больших телесных углах, реализованных за счет кольцевых отверстий в маске, и за счет того,что рассеянное излучение измеряется во всех направлениях относительно зеркально отражённого пучка, возрастает чувствйточность устройсттельностьва.

Похожие патенты SU1067350A1

название год авторы номер документа
Способ измерения среднего квадратического отклонения высот неровностей анизотропной поверхности изделия и устройство для его осуществления 1989
  • Обрадович Кира Алексеевна
  • Солодухо Фаина Моисеевна
  • Буянов-Уздальский Андрей Юрьевич
SU1700359A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ 1994
  • Емельянов П.Н.
RU2092789C1
Устройство для измерения шероховатости поверхности изделий 1985
  • Симакина Наталья Васильевна
  • Ивановский Геннадий Фомич
  • Попов Юрий Николаевич
  • Слепцов Владимир Владимирович
  • Скакун Вячеслав Николаевич
SU1295215A1
Рефлектометр для измерения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей 1981
  • Обрадович Кира Алексеевна
  • Попов Юрий Николаевич
  • Солодухо Фаина Моисеевна
SU987381A1
Устройство для контроля шероховатости поверхности изделия 1988
  • Смирнов Игорь Константинович
  • Гальперин Давид Михайлович
  • Аляева Инна Николаевна
  • Королев Александр Алексеевич
SU1601514A1
Устройство для измерения шероховатости поверхности изделий 1988
  • Кабанов Иван Степанович
  • Подопригора Владимир Георгиевич
  • Сургутанов Игорь Владимирович
  • Корбан Николай Павлович
SU1608427A1
Способ измерения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей изделий 1985
  • Обрадович Кира Алексеевна
  • Попов Юрий Николаевич
  • Солодухо Фаина Моисеевна
SU1262280A1
Рефлектометрический способ определения параметров шероховатости поверхности изделия 1988
  • Буянов-Уздальский Андрей Юрьевич
  • Обрадович Кира Алексеевна
SU1582004A1
СПОСОБ БЕСКОНТАКТНОГО ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ 2008
  • Миронченко Владимир Ильич
RU2380655C1
Способ измерения шероховатостиСВЕРХглАдКиХ пОВЕРХНОСТЕй 1979
  • Орадович Кира Алексеевна
  • Солодухо Фаина Моисеевна
SU815492A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 067 350 A1

Реферат патента 1984 года Устройство для изменения шероховатости поверхности

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ШЕРОХОВАТОСТИ ПОВЕРХНОСТИ, содержа щее последовательно расположенные на одной оси и устанавливаег ые под острым углом к измеряемой поверхности источник монохроматического излучения, модулятор и оптическую систему, приемник излучения, светофильтры, расположенные перед приемником излучения, и электронный блок обработки сигналов, отли -чающееся тем, что, с целью повышения точности и чувствительности измерения, оно снабжено последовательно ,установленными перед светофильтрами по ходу отражаемых от контролируемой поверхности световых лучей маской, имеющей два кольцевых концентрических отверстия и круглое отверстие в центре, тремя параллельными шторками, выполненными с возможностью перемещения S относительно маски, и фокусирующим объективом.

Формула изобретения SU 1 067 350 A1

Фиг.г

Фиг.З

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1984 года SU1067350A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
J.Hodgkinson А simple sc ter method for.Optical Surface roughness and measurements
Roughn of polished fused silica J.iPhys Sci
Instrum
Переносная печь для варки пищи и отопления в окопах, походных помещениях и т.п. 1921
  • Богач Б.И.
SU3A1
Рефлектометр для измерения параметров шероховатости сверхгладких поверхностей 1981
  • Обрадович Кира Алексеевна
  • Попов Юрий Николаевич
  • Солодухо Фаина Моисеевна
SU987381A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 067 350 A1

Авторы

Попов Юрий Николаевич

Солодухо Фаина Моисеевна

Обрадович Кира Алексеевна

Даты

1984-01-15Публикация

1982-10-10Подача