Многолучевой интерферометр Советский патент 1984 года по МПК G01B9/02 

111 Изобретение относится к оптикоинтерференционным приборам и может быть использовано для спектрометрии источников света. .Известны многолучевые интерферометры, использующиеполосы Физо, в которых используется многократная интерференция света между пластинами интерферометра, имеющими малый угол Для обеспечения точной регистрации спектра в таких приборах необходимо с высокой степенью точности поддержи вать угол-между пластинами Г13. Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату является многолучевой интерферометр содержащий источник излучения, входной и выходной коллиматоры и две пластины с отражающими покрытиями, снабженные системой сканирования 2 Недостатком известного устройства являются низкие разрешающая способность и стабильность интерференционной картины,.обусловленные ограничен ными пределами расстояния между плас тинаии и числом интерферирующих лучей, связанными с технологическими возможностями изготовлением пластин. Цель изобретения - повышение разрешающей способности и стабильности интерференционной картины. Поставленная цель достигается тем что в многолучевом интерферометре, содержащем источник излучения, входной и выходной коллиматоры и две пластины с отражающими покрытиями, снабженные системой сканирования, одна из пластин выполнена в зиде дифракционной решетки с симметричным штрихов и, установлена парал лельно отражающему слою другой пластины, а входной и выходной коллиматоры установлены ортогонально отражающим граням штрихов дифракционной решетки. На чертеже приведена функциональная схема многолучевого интерферомет ра. Интерферометр содержит входной коллиматор 1 с источником света, выходной коллиматор 2, пластинку 3 с .ртражаюощм покрытием, дифракционную решетку 4 с симметричным профилем штрихов и систему сканирования 5. Устройство работает следующим образом. Исследуемый световой поток, выходящий из входного кол4:1иматора 1 падает под углом f на пластинку 3. После прохождения отражательного слоя пластинки 3 световые лучи падают по нормали на левые грани штрихов дифракционной решетки 4, от которых они отражаются обратно в сторону пластинки 3. После отражения от слоя пластинки 3 световой поток падает по нормали на правую грань штриха, отражаясь от которого частично выходит через отражающий слой пластинки 3 в сторону выходного коллиматора 2. Лучу, чтобы выйти из схемы многолучевого интерферометра в направлении к коллиматору 2, нужно пройти путь, равный A-fc/cosi . Далее ход лучей внутри схемы повторяется снова и в стороны выходного коллиматоры направляется новая часть радиации, которая интерферирует с ранее прошедшей и т.д. Дифракционная решетка 4 установлена на сканирующем устройстве 5. Таким образом, при смещении дифракционной решетки 4 интерференционные кольца на выходе коллиматора 1с большей частотой смещаются в фокальной плоскости по сравнению с обычню интерферометром ФП. При больших углах падения ( и отражения частота смещения колец возрастает в 2/cosi раз, например, при , частотамодуляции увеличивается в 4 раза. С другой стороны по с равнению с прототипом в предлагаемом устройстве покачивания Сканирующего злемента дифракционной решетки 4 при работе устройства 5 вносят меньшие ошибки и изменение разности хода. Так при ее наклоне по часовой стрелке в пра-, вом наклонном плече разность хода, например, будет возрастать, а в левом аклонном плече, наоборот, будет меньшаться в первом приближении на такую же величину. В результате разость хода в предлагаемом устройстве зависит в первую очередь только от асстояния дифракционной решетки 4 о пластинки 3 и меньшей степени от аклонов дифракционной решетки 4, оявляющихся при сканировании, т.е табильность оптической схемы повыается на порядок. Повышенная разрешающая способность редлагаемого устройства при анализе ложных спектров при меньшей базе ежду оптическими элементами делает го более предпочтительным по сравнеию с базовым объектом, так как при

311030764

прочих равных условиях разрешающая и т.д. В частности предлагаемое устспособность в предлагаемом устройст- ройство может быть использовано при ве возрастает в 2/со9 i . Наприне:р, создании многолучевого фурье-спектропри разрешающая способность метра - прибора нового типа. Причем возрастает в 8 раз.5 последний будет обладать не только

Подобные системы могут найти при- меньших габаритах, но имеющий более менение ,в метрологии, голографии, из- . высокую (на порядок) стабильность мерительной технике и спектроскопии оптической схемы.

большей разрешающей способностью при

МНОГОЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР, содержащий Источник излучения, входной и выходной коллиматоры и две пластины с отражающими покрытиями, снабженные системой сканирования, о т л ич а;ющйй с я тем, что, с целью повыпения ра.зрешйющей способности и стабильности интерференционной картины, одна из пластин выполнена в виде дифракционной решетки с сим