Фотоэлектрический прибор для объективного определения степени кристалличности излома стального слитка Советский патент 1958 года по МПК G01J1/10 

Изобретение относится к приборам для измерения степени кристалличности и излома стального образца. Известные приборы для металлографического анализа не дают возможности достаточно объективно и быстро оценивать степень кристалличности иЗоТОма.

Для устранения этогО недостатка нредлагается степень К1)исталличности излома металлического образна определять путем сравнения света, отраженного от поверхности излома образца, с интенсивностью света, отраженного от поверхности излома эталона.

Для уменьшения в.тияния общей освещенногт; o6j)a3Ha интенсивность отраженного света измеряют в перпендикулярном или близком к этому, направлении по отношению к направлению светового потока, ндугцего от осветите.ля. При этом, сравнивается интенсивность света, отраженного от обгцей освещенной поверхности в направлении, фиксированном с помощью собирательной линзы при вращении образца в плоскости излома на 360°. Для измерения отраженного света используются фотоэлемент, ламповый усилитель и самопишущий или показывающий логометр. Логометр или другой индикатор могут быть проградуированы в безразмерных единицах, например в биллах и т. п.

Индикатор включается по мостовой схеме на выходе лампового усилителя, стройство прибора пояспяется чертежом, где представлена его принципиальная схема. Предметньп столик /, получающий вращение от электропривода через червячную пару J, служит для удерживания образца 5. Осветитель 4 направляет пучок света на иоверхность излома образца. Отраженный свет с помощью собирательной линзы о направляется на фотоэлемент 6. Возннкающий здесь фототок усиливается с помощью электронных л а МП 7 и S. Обмотки 5 и/О логометра включены в анодную цень лампы 8. Обмотка 10 логометра обтекается постоянным по величине током, соответствующие --/ алойному фототоку. Угол поворота указателя логометра иропорционалеи относительному нзменению кристалличности излома образца, по сравнению с эталоном.

Предмет изобретения

1.Фотоэлектрический прибор для определения степени кристзотличности изло.ма стального слитка, о тличающийся тем, что, с целью объективного анализа степени кристалличности излома, быстроты и точности определения, в основу прибора положено сравнение интенсивности света, отраженного от поверхности излома образца, с интенсивностью света, отраженного от поверхности излома эталона к фиксированном направлении.

2.Форма выполнения прибора по п. 1, отличающаяся тем, что для уменьшения влияния общей освещенности образца, в качестве фиксированного направления выбрано направление, перпендикулярное (или близкое к нему) направлению лучей, падающих на поверхность излома.

3.Форма выполнения прибора по п. 1, о т л и ч а ю щ а я с я тем, что для более объективной оценки кристалличности излома сравниваютсясуммарные интенсивности отраженного света от общей освещенности поверхности излома в фиксированном направлении с помощью линзы и от поверхности по всем возможным направлениям (от О до 360°) с помощью поворотного стола и самопищущего или показывающего прибора.

4.Форма выполнения прибора по пп. 1, 2 и 3, отличающаяся тем, что для определения относительной кристалличности в любых безразмерных единицах непосредственно по щкале прибора используется индикатор (например, логометр) с включением его по мостовой схеме в аноды лампы усиления фототока.