Устройство для измерения вектора смещения диффузно отражающих объектов Советский патент 1985 года по МПК G01B11/16 

Описание патента на изобретение SU1147927A1

Изобретение относится к контроль но-измерительиой области техники и может быть использовано для измерения вектора смещения диффузно отражающих объектов. Наиболее близким по технической сущности и достигаемому результату к изобретению является устройство для измерения вектора смещения диффузно отражаюш11х объектов, содержащее источник когерентного излучения и последовательно установленные по ходу излучения спекл-фотрграфию и приемник излучения ij . Недостатком известного устройств является невысокий диапазон измерения вектора смещения вследствие шум вызванного пятнистой структурой когерентного света. Целью изобретения является увели чение диапазона измерения вектора смещения. Поставленная цель достигается тем, что устройство для измерения вектора смещения диффузно отражающи объектов, содержащее источник когерентного излучения и последовательн установленные по ходу излучения спекл-фотографию и приемник излучения, снабжено .отклоняющим элементом эталонной спекл-фотографией и интер ферометром сдвига, последовательно установленными меноду спекл-фотографией и приемником излучения, двумя дополнительными приемниками излучения, один из которых установлен в ходе излучения, прошедшего отклоняю щий элемент и интерферометр, другой в ходе излучения, прошедшего откло- няющий элемент и отраженного от интерферометра, блоком обработки сигналов, входы которого электрически связаны с выходами всех приемников излучения, интерферометр выполнен в виде двух дифракционных решеток, установленных с возможностью одновр менного относительного перемещения в направлении, перпендикулярном к штрихам решеток в плоскости располо жения этих штрихов и в направлении, перпендикулярном к этой плоскости, дифракционные решетки установлены п углом Брэгга к оптической оси устро ства, а спекл-фотографии ориентированы так, чтобы их плоскости были параллельны плоскостям дифракционны решеток. 212 На чертеже представлена схема устройства для измерения вектора смещения диффузно отражающих объектов. Устройство содержит источник t когерентного излучения и последователь-, но установленные по ходу излучения спекл-фотографию 2 и приемник 3 излучения, последовательно установленные между спекл-фотографией 2 и приемником 3 излучения отключаюп(ий элемент 4, эталонную спекл-фотографию 5 и интерферометр сдвига, выполненный в виде двух дифракционных решеток 6 и 7, два дополнительных приемника 8 и 9 излучения, приемник 8 установлен в ходе излучения, прошедшего отклоняющий элемент 4 и интерферометр приемник 9 - в ходе излучения, прошедшего отклоняющий элемент 4 и отраженного от интерферометра, блок 10 обработки сигналов, входы которого электрически связаны с выходами приемников 3, 8 и 9, дифракционные решетки 6 и 7 установлены с возможностью одновременного относительного перемещения в направлении, перпендикулярном к штрихам решеток в плоскости расположения этих штрихов, и в направлении, перпендикулярном к этой плоскости, дифракционные решетки 6 и 7 установлены под углом Брэгга к оптической оси устройства, а спекл-фотографии 2 и 5 ориентированы так, чтобы их плоскости были параллельны плоскостям дифракционных решеток 6 и 7. Устройство работает следующим образом. Источник 1 .когерентного излучения освещает спекл-фотографию 2. Для того,чтобы исследовать различные точки поверхности объекта, спеклфотография закреплена на площадке (не показана), которая может перемещаться в двух взаимно перпендикулярных направлениях в плоскости спеклфотографии. Для определения ориентации вектора смещения площадка и спекл-фотография 2 вращаются с постоянной скоростью вокруг нормали к ним из точки пересечения с оптической осью устройства. Свет, рассеянный спекл-фотографией 2, падает на дифракционные решетки 6 и 7. Одна из них закреплена неподвижно, а вторая жестко связана с параллельным механизмом (не показан), в результате движения которого периодически

Похожие патенты SU1147927A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения деформаций диффузно отражающих объектов 1983
  • Хопов Владимир Викторович
SU1126812A1
Устройство для измерения вектора смещения диффузно отражающих объектов 1984
  • Нагибина Ирина Михайловна
  • Котов Игорь Ростиславович
  • Ситник Дмитрий Николаевич
  • Хопов Владимир Викторович
SU1303817A1
Интерферометр для контроля плоскостности отражающих поверхностей 1990
  • Котляр Виктор Викторович
  • Сойфер Виктор Александрович
  • Храмов Александр Григорьевич
SU1760312A1
СКАНИРУЮЩИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
RU2264595C2
Способ определения перемещения 1988
  • Артеменко Сергей Борисович
  • Бахтин Вячеслав Геннадьевич
  • Плохов Сергей Анатольевич
  • Речкалов Виктор Григорьевич
SU1566201A1
ДВУХЛУЧЕВОЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 2002
  • Лукин А.В.
RU2209389C1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
  • Герловин Б.Я.
RU2263279C2
Устройство для измерения параметров колебаний объекта 1989
  • Морозов Николай Викторович
  • Солодов Вадим Викторович
SU1651106A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ СКОРОСТИ ОБЪЕКТА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2004
  • Данилевский Леонид Николаевич
  • Данилевский Сергей Леонидович
  • Зайцев Александр Иванович
  • Лешкевич Сергей Владимирович
  • Москалик Борис Федорович
  • Таурогинский Бронислав Иванович
RU2271014C2
Устройство для измерения углового перемещения объекта 1981
  • Анчуткин Владимир Степанович
SU958852A1

Реферат патента 1985 года Устройство для измерения вектора смещения диффузно отражающих объектов

УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ВЕКТОРА СМЕЩЕНИЯ ДИФФУЗНО ОТРАЖАЮЩХ ОБЪЕКТОВ, содержащее источник когерентного излучения и последова тельно установленные по ходу излучения спекл-фотографию и приемник излучения, отличающееся тем, что. С целью увеличения диапазона измерения, оно снабжено отклоняющим элементом1 эталонной спекл-фотографией и интерферометро сдвига, последовательно установлен ными между спекл-фотографией и приемником излучения, двумя дополнительными приемниками излучения, один из которых установлен в ходе излучения, прошедшего отклоняющий элемент и интерферометр, другой - в ходе излучения, прошедшего отклоняющий злемент и отраженного от интерферометра, блоком обработки сигналов, входы которого электрически связаны с выходами всех приемников излучения, интерферометр выполнен в виде двух дифракционных решеток, установленных с возможностью одновременного относительного перемещения в направлении, перпендикулярном к штрихам решеток в плоскости расположения этих штрихов и в направлении, перпендикулярном к этой плоскости, дифракционные решетки установлены под углом Брэгга к оптической оси устройства, а спекл-фотографии ориентированы, так, чтобы их плоскости были параллельны плоское- , тям дифракционных решеток.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1985 года SU1147927A1

Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Методические указания, Горбкий, ВНИИНМАШ, 1980, с
Веникодробильный станок 1921
  • Баженов Вл.
  • Баженов(-А К.
SU53A1

SU 1 147 927 A1

Авторы

Нагибина Ирина Михайловна

Хопов Владимир Викторович

Даты

1985-03-30Публикация

1983-01-24Подача