Способ определения перемещения Советский патент 1990 года по МПК G01B9/21 

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении плоских перемещений диффузно отражающих объектов .

Целью изобретения является повышение точности за счет увеличения контраста интерференционной картины.

Способ осуществляется следующим образом.

Вначале на поверхность объекта наносят дифракционное зеркальное покрытие в виде двух зонных решеток Френеля, соответствующих интерференционным картинам от наложения плоской

волны и сферических волн, центры которых совпадают с центрами апертур двухапертурного спекл-интерферометра. Для этого предварительно изготавливают наносимое на объект дифракционное покрытие. При этом используют двухапертурный спекл-интерферометр. На место, предназначенное для размещения объекта, помещают фотопластину и поочередно записывают на нее две зонные решетки, образованные наложением плоской опорной волны и сфери- ческой волны, исходящей сначала из одного, а затем из другого апертурного отверстия пространственного

фильтра в спекл-интерферометре. Дважды экспонированную фотопластину подвергают химико-фотографической обработке для получения плоской голо- граммы с рельефной поверхностью. С помощью полученной таким образом фазовой голограммы изготавливают зеркальную реплику, которую наносят на поверхность исследуемого объекта.

Объект помещают в оптическую схему двухапертурного спекл-интерферо- метра и закрепляют в держателе таким образом, что его поверхность с нанесенным покрытием находится в плоско- сти, где на первом этапе устанавливают Фотопластинку. Освещают объект плоской волной, восстанавливая этим исходные сферические волны. При этом нанесенное на поверхность объекта зеркальное дифракционное покрытие фокусирует падающее на него излучение в центры апертурных отверстий пространственного фильтра, причем нулевой порядок дифракции задержи- вается непрозрачным экраном фильтра. Фотопластину помещают в плоскости резкого изображения объектива, который образует изображение поверхности объекта. Регистрируют с помощью двух апертурного спекл-интерФерометра на Фотопластине спекл-фотографию объекта, после перемещения объекта снова регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерФерометра на той же фотопластине вторую спекл-фотографию объекта, освещают полученную двуэкспозиционную спекл-фотографию плоской волной когерентного излучения и путем пространственной Фильтрации получают интерференционную картину, по которой определяют перемещение объекта.

Формула изобретения

Способ определения перемещения, заключающийся в том, что освещают объект плоской волной когерентного излучения, регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерФерометра на фотопластинке спекл-фотографию объекта, после перемещения объекта снова регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерФерометра на той же Фотопластинке вторую спекл-Фотогра- фию объекта, освещают полученную двухэкспозиционную спекл-фотографию плоской волной когерентного излучения и путем пространственной фильтрации получают интерференционную картину, по которой оцределяют перемещение объекта, отличаю р и и - с я тем, что, с целью повышения точности за счет увеличения контраста интерференционной картины-, перед освещением объекта на его поверхность наносят дифракционное зеркальное покрытие в виде двух зонных решеток Френеля, соответствующих интерференционным картинам от наложения плоской волны и сферических волн, центры которых совпадают с центрами апертур двухапертурного спекл-интерФерометра.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при определении плоских перемещений диффузно отражающих объектов. Целью изобретения является повышение точности за счет увеличения контраста интерференционной картины. На поверхность объекта наносят дифракционное зеркальное покрытие в виде двух зонных решеток Френеля, соответствующих интерференционным картинам от наложения плоской волны и сферических волн, центры которых совпадают с центрами апертур двухапертурного спекл-интерферометра. Освещают объект плоской волной когерентного излучения, регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерферометра на фотопластинке спекл-фотографию объекта, после перемещения объекта снова регистрируют с помощью двухапертурного спекл-интерферометра на той же фотопластинке вторую спекл-фотографию объекта, освещают полученную двухэкспозиционную спекл-фотографию плоской волной когерентного излучения и путем пространственной фильтрации получают интерференционную картину, по которой определяют перемещение объекта.

Редактор Н.Бобкова

Составитель В. Костюченко

Техред М.Дидык Корректор С.Шевченко

Заказ

Тираж 489

ВНИИПИ Государственного комитета по изобретениям и открытиям при ГКНТ СССР 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное