Нониус для интерферометрических приборов Советский патент 1958 года по МПК G01B9/02 G01N21/41 

Описание патента на изобретение SU114821A1

В существующих интерферометрических приборах дробные доли расстояний определяются на глаз- Такой способ субъективен, не может гарантировать требующуюся точность измерений и )1:риводит в ряде случаев, к большим ошибкам.

Предлагаемый нониус исключает этот недостаток, позволяет осуществлять наблюдение нониусной шкалы в поле зрения прибора в виде части интерференционной картины иного масштаба, чем основная, что обеспечивает большую точность измерений и облегчает пользоваттие прибором.

Сущность изобретения заключается в том, что в приборе установлен перекрывающий часть основной интерференционной картнны светофильтр, пропускающий монохроматический свет иной длины волны, чем у общего фона.

Устройство предлагаемого нониуса и принцип его действия ггоясняются чертежом.

Начертеже: О-О означает совпадение линий нониуса с образцовой .терой; /--/ и 5-2 - совпадение линий нониуса с поверяемой мерой, количество линий между /--1 и G-О (не считая О-0 показывает количество дробных долей в принятых частях нониуса; между О-О и 2-2 пока,зывает соответственно дополнительное число; цифрой 3 обозначены линии ноииуса; 4-образцовая мера; 5-поверяет-гая мера; 6-линия основного фона и 7-светофильтр.

Нониус образуется наблюдением части интерференга-юниой картины (вблизи Границы сравниваемых мер) в монохроматическом свете с длиной волнь, отлнчной от длины световой волны первоначального фона.

При этом расстояния между линиями нониуса Il будут меньше расстояний между линиями первоначалыюго фона Ао на величину, пропорциональную разности длин полуволн; Хо--Xi ----- К(-.у- --.- )гдс: Xff-Xi-расстояние между линиями первоначального фона и нониуса;

ЛЬ 1/1821

A,i AI - соответствующие длины волн; К - коэффициент пропорциональности.

При отношении длин волн цена деления нониуса .

В силу чего Хо-Xi--Xo (1-r-J- Это показывает, что при подборе отношений -- в виде правильной простой дроби можно получить требуемый

нониус. Отсчет производится по совпадению линий, как в обычных нокиусах.

Точность действия предлагаемого нониуса иллюстрируется следующим примером: приХо 0,585 иХ, 0,468 Хи--Х,Х(1 -- ---Х,

а так как о Vs, то отсчет может быть произведен с точностью 0,2 -АО .,, что соответствует 0.585 р. - 0,6..

Подбор светофильтров к соответствующему основному монохроматическому фону осуществляется подобно приведенному примеру, исходя из реальных возможностей получения числа линий в поле зрения и оптических свойств светофильтра.

Предлагаемый нониус может применяться для существующих интерференционных приборов. В этих случаях необходим только дополнительный светофильтр на ограниченной части поля зрения с возможностью перемещения его кромки.

Предмет изобретения

Нониус для интерферометрических приборов, отличающийся тем, что, с целью осуществления наблюдаемой в поле зрения прибора нониусной щкалы в виде части интерференционной картины иного масштаба, чем основная, в приборе установлен перекрывающий часть основной интерференционной картины светофильтр, пропускающий монохроматический свет иной длины волны, чем у общего фона.

UjOoo о

Похожие патенты SU114821A1

название год авторы номер документа
Способ сравнения радиусов кривизны оптических поверхностей с помощью интерферометра 1990
  • Богомолов Александр Николаевич
  • Борейко Владимир Михайлович
  • Еськов Дмитрий Николаевич
  • Захаренков Виталий Филиппович
  • Линский Борис Михайлович
  • Образцов Владимир Сергеевич
  • Подоба Владимир Иванович
  • Серегин Александр Георгиевич
  • Фирсов Николай Тимофеевич
SU1747895A1
КОМПАРАТОР ДЛЯ ЛИНЕЙНОГО ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕВЫХ 1973
  • В. Д. Свердличенко
SU382917A1
ГРАВИМЕТР 1972
SU436311A1
Устройство для измерения перемещений объекта 1980
  • Ильин Виктор Николаевич
SU1716315A1
Интерферометрический способ измерения толщины смазочной пленки 1980
  • Шварцман Владилен Шмильевич
  • Бакашвили Джемал Леванович
  • Карсанидзе Нина Акакиевна
  • Шойхет Вульф Хоневич
SU945647A1
СПОСОБ ИНТЕРФЕРОМЕТРИЧЕСКОГО ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЯ ФОРМЫ ОПТИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ И СИСТЕМА ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2002
  • Скворцов Ю.С.
  • Трегуб В.П.
  • Герловин Б.Я.
RU2263279C2
Интерферометрический способ определения концентрации вещества 1988
  • Булыга Александр Алексеевич
  • Козубовский Владимир Ростиславович
SU1606918A1
СПОСОБ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПРЕЦИЗИОННОГО ЛАЗЕРНО-ИНТЕРФЕРЕНЦИОННОГО ИЗМЕРЕНИЯ РАССТОЯНИЙ И ПЕРЕМЕЩЕНИЙ 2019
  • Минин Юрий Борисович
  • Дубров Мстислав Николаевич
  • Шевченко Владислав Максимович
RU2721667C1
АКУСТООПТИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЧАСТОТЫ РАДИОЧАСТОТНОГО СИГНАЛА 1993
  • Быковский А.Ю.
  • Быковский Ю.А.
  • Елоев Э.Н.
RU2061250C1
УЧЕБНЫЙ ОПТИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 1998
  • Амстиславский Я.Е.
RU2154307C2

Иллюстрации к изобретению SU 114 821 A1

Реферат патента 1958 года Нониус для интерферометрических приборов

Формула изобретения SU 114 821 A1

SU 114 821 A1

Авторы

Перчихин К.И.

Даты

1958-01-01Публикация

1957-02-25Подача