Просвечивающий растровый электронный микроскоп Советский патент 1985 года по МПК H01J37/28 

Описание патента на изобретение SU1173464A1

о

00 4i О)

Изобретение относится к электронной микроскопии, а именно к устройству просвечивающего растрового электронного микроскопа (ПРЭМ), предназначенного для проведения исследо- 5 ваний микроструктуры пленок методом сканирования объекта тонким электронным :ЗОНДОМ, .

Цель изобретения - повышение качества изображения за счет уменьшекия искажений, возниканщих при изменении угла облучения сканирунщим пучком анизотропно рассеивающих микронеоднородностей.

На чертеже представлена схема 5 ПРЭМ.

Микроскоп содержит осветительную систему 1э включающую электронную пушку 2, конденсорную систему 3 и объективную линзу 4 с апертурной 20 диафрагмой 5, установленной в центре немагнитного зазора. Между конденсорной системой 3 и объективной линзой 4 расположена двухъярусная отклоняющая система 6 Непосредственно за объективной линзой 4 установлена дополнительная линза 7, фокус.которой совмещен с центром вращения электронного пучка, сканирующего объект, т.е. с плоскостью апертурной диафраг-30 мЫа За объектодержателем 8, по ходу электронного пучка, установлена увеличивающая электронно-оптическая система (ЭОС) 9, состоящая по крайней мере из двух линз 10 и 11 и настроен-з5 ная на передачу изображения бесконечно удаленного предмета. За увеличивающей ЭОС 9 последовательно расположены юстирующая отклоняющая система 12, сменная диафрагма 13 и детектор 40 14. Отклоняющая система 6 и детектор 14 электрически связаны с электроннолучевой трубкой (ЭЛТ) 15.

Устройство работает следуклщм образом.45

Электронный зонд, сформированный осветител зной системой ПРЭМ, с помощью двухъярусной отклоняющей системы 6 сканирует по объекту. Центр 50 вращения пучка обычно совмещен с отверстием апертурной диафрагмы 5, которая находится в фокальной плоскости дополнительной линзы 7. В этом случае образец сканируется параллель-55 но перемещающимся электронным пучком (угол падения пучка на образец остает-i ся постоянным), В общем случае отклоняющая система может содержать один ярус и располагаться до или после объективной линзы. Основным условием для сохранения угла падения пучка на образец является требование расположения центра вращения сканирующего пучка в фокальной плоскости дополнительной линзы 7, установленной непосредственно перед объектом. Послеобъектная увеличивающая ЭОС является системой телескопического -типа. В фокальной плоскости линзы 10 формируется дифракционная картина, которая не меняет своего местоположения по мере сканирукщего объекта электронным, зондом. Линза 11 (или система линз) с увеличением передает изображение дифракционной картины на экран расположенный в плоскости установки сменной диафрагмы 13. На экране формируется увеличенная дифракционная картина, которая при сканировании остается неподвижной меняются только интенсивность в рефлексах и центральном пучке. Выбирая форму и размер отверстия в сменной диафрагме 13 а также увеличение электронно-оптической системы 9, с помощью юстирую чей отклоняющей системы 12 можно направить на детектор 14 любой участок электронограммы, и в его свете получить изображение объекта на экране ЭЛТ. В результате устраняются искажения, возникающие при изучении областей распределения анизотропно рассеиваклцих микронеоднородностей в пленках, например, при изучении распределения микрокристалликов. Кроме того, используемая послеобъектная ЭОС телескопического типа позволяет получать меньший угловой размер центрального пятна в дифракционной картине, чем аналогичная система прототипа. В результате увеличивается разрешение дифракционной картины и, как следствие этого, реализуется более высокая степень локализации вьщеления того или иного участка картины рассеяния. Это не только улучшает качество светлопольного или темнопольного изображения, но и открывает новые возможности в проведении исследований на ПРЭМ путем увеличения локальности детектирования электронных пучков. Вьщеляя те или иные кольцевые зоны вблизи центрального пучка (малоугловое рассеяние) , можно формировать изображение

Похожие патенты SU1173464A1

название год авторы номер документа
Способ настройки электронно-оптической системы растрового микрозондового прибора 1986
  • Рыбалко Владимир Витальевич
  • Тихонов Александр Николаевич
SU1465922A1
Электроннооптическая система про-СВЕчиВАющЕгО элЕКТРОННОгО МиКРОСКОпА 1978
  • Анаскин Иван Филиппович
  • Агеев Евгений Васильевич
  • Стоянов Павел Александрович
SU811365A1
Электронно-оптическая система микрозондового устройства 1981
  • Дер-Шварц Георгий Владимирович
SU997135A1
СПЕКТРАЛЬНОЕ УСТРОЙСТВО 1996
  • Спирин Е.А.
  • Захаров И.С.
RU2094758C1
Сканирующее устройство для кристаллографических исследований 1980
  • Рыбалко Владимир Витальевич
  • Тихонов Александр Николаевич
  • Кисель Георгий Дмитриевич
SU920895A1
РЕНТГЕНОВСКИЙ МИКРОСКОП НАНОРАЗРЕШЕНИЯ 2010
  • Гелевер Владимир Дмитриевич
RU2452052C1
Способ корпускулярного облучения мешени и устройство для его осуществления 1981
  • Хан Эберхард
SU1287244A1
СПОСОБ КОГЕРЕНТНОЙ ЭЛЕКТРОННОЙ ТОМОГРАФИИ 2010
  • Акчурин Гариф Газизович
  • Акчурин Георгий Гарифович
RU2427793C1
Фазовый фильтр для светооптической коррекции электронно-микроскопического изображения 1977
  • Анаскин Иван Филиппович
  • Агеев Евгений Васильевич
  • Стоянов Павел Александрович
SU684647A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЛИНЕЙНЫХ РАЗМЕРОВ (ВАРИАНТЫ) И РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП 2009
  • Максимов Сергей Кириллович
  • Максимов Кирилл Сергеевич
  • Кучеренко Алексей Валентинович
  • Сухов Дмитрий Николаевич
RU2415380C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 173 464 A1

Реферат патента 1985 года Просвечивающий растровый электронный микроскоп

ПРОСВЕЧИВАЮОЩЙ РАСТРОВЫЙ ЭЛЕКТРОННЫЙ МИКРОСКОП, содержащий последовательно расположенные электронную пушку, конденсорную и отклоняющую систеьвл, объективную линзу с апертурной диафрагмой, объектодержатель, увеличивающую электроннооптическую систему и детектор, выход которого соединен с электроннолучевой трубкой, отличающийся тем, что, с делью повышения качества изображения за счет уменьшения искажений от микронеоднородностей, между объективной линзой и объектодержателем установлена дополнительная линза, фокус которой совмещен с плоскостью апертурной диафрагмы, перед детектором установлены юстирующая отклоняющая система i и сменная диафрагма, а увеличивающая электронно-оптическая система (Д образована набором по крайней мере с двух линз телескопического типа.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1985 года SU1173464A1

Патент США № 4068123, кл
Катодное реле 1921
  • Коваленков В.И.
SU250A1
Чугунный экономайзер с вертикально-расположенными трубами с поперечными ребрами 1911
  • Р.К. Каблиц
SU1978A1
Алексеев А.Г., Верховская Т.А
Дифракционно-растровый способ формирования изображения в ПРЭМ
XII Всесоюзная конференхщя по электронной микроскопии, тезисы докладов
М.: Наука, 1982, с
Пишущая машина 1922
  • Блок-Блох Г.К.
SU37A1

SU 1 173 464 A1

Авторы

Алексеев Анатолий Гаврилович

Верховская Татьяна Александровна

Даты

1985-08-15Публикация

1983-11-29Подача