Интерференционно-теневое устройство Советский патент 1986 года по МПК G01B9/02 G01J9/02 

Описание патента на изобретение SU1179744A1

со vj

i(

Изобретение относится к интерференционно-теневым устройствам и может быть использовано для исследования фазовых неоднородностей: плазмы газовых потоков и струй, пламен, ударных волн в газах и жидкостях.

Целью изобретения является сохранение светового потока и обеспечение пространственной фильтрации интерференционной картины при одновременной регистрации теневой и интерференционной картины.

На чертеже изображена оптическая схема предлагаемого устройства.

Устройство состоит из точечного источника света 1, полупрозрачных зеркал 2 и 3 интерферометра, непрозрачных зеркал 4 и 5 интерферометра объектива коллиматора 6, объектива регистрирующей системы 7, исследуемой фазовой неоднородности 8, визуализирующей диафрагмы 9, узла 10 регистрации интерферограммы и узла 11 регистрации шлирен-фотографии. Диафрагма 9 вьтолнена в виде зеркала с прозрачным .отверстием или зеркально отражающего экрана на прозрачном слое и установлена в фокусе объектива, а ее плоскость составляет с оптической осью и направлением на узел шлирен-фотографии равные углы. Диаметр отверстия в диаФрагме зависит от параметров использованной оптики, характера исследуемой неоднородности и лежит в пределах

P.d.2fJ§ di.

Е где f - фокусное расстояние линзы 7;

п - показатель преломления исследуемого объекта;

797442

1 - длина пути в исследуемой

неоднородности;

р - размер источника в плоскости формирования его изобра5 жения.

Устройство работает следуюпщм образом. Излучение от источника I зеркалом 2 делится на два канала: опорный и измерительный. Пучок излучения опорного канала отражается от зеркала 5 и поступает на зеркало 3. Пучок измерительного канала отражается от зеркала 4, проходит исследуемую неоднородность 8 и на

15 зеркале 3 смешивается с пучком лучей опорного канала. Опорный пучок, а также часть предметного пучка измерительного канала, прошедшая исследуемую неоднородность без отклонения (или отклоненная на малый угол, определяемый диаметром отверстия в диафрагме 9), проходят через отверстиев диафрагме и образуют интерференционную картину в плоскости регистрирующего узла 10. Эта картина образована только той частью, предметной волны, которая не претерпела рефракции. Лучи света, отклоненные исследуемой неоднородностью, отражаются от зеркальной части визуализирующей диафрагмы 9 и направляются ею в канал регистрации теневой картины в плоскости регистрирующего узла 11.

Таким образом, визуализирующая диафрагма 9 и ее расположение в фокусе объектива показанным на чертеже образом обеспечивает при одновременной регистрации теневой и ин.Q терференционной картины исключение световых потерь и пространственную фильтрацию интерференционной картины.

Похожие патенты SU1179744A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОПТИЧЕСКОЙ ТОМОГРАФИИ ТРЕХМЕРНЫХ МИКРООБЪЕКТОВ И МИКРОСКОП ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 1999
  • Левин Г.Г.
  • Вишняков Г.Н.
RU2145109C1
Способ интроскопического исследования твердого тела 1991
  • Дрейден Галина Валериановна
  • Островский Юрий Исаевич
  • Самсонов Александр Михайлович
  • Семенова Ирина Владимировна
  • Сокуринская Елена Витальевна
SU1827539A1
Интерферометр для контроля плоскостности отражающих поверхностей 1990
  • Котляр Виктор Викторович
  • Сойфер Виктор Александрович
  • Храмов Александр Григорьевич
SU1760312A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ ПРОЗРАЧНЫХ НЕОДНОРОДНОСТЕЙ 1973
SU409118A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ АСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ВТОРОГО ПОРЯДКА 2009
  • Ларионов Николай Петрович
RU2396513C1
ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР 1970
SU266103A1
ГОЛОГРАФИЧЕСКИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ ПЛОСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ЭЛЕМЕНТОВ ТВЕРДОТЕЛЬНОЙ ЭЛЕКТРОНИКИ 2009
  • Борыняк Леонид Александрович
  • Непочатов Юрий Кондратьевич
RU2406070C1
ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП 2013
  • Вишняков Геннадий Николаевич
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Латушко Михаил Иванович
RU2527316C1
ФАЗОВО-ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МОДУЛЬ 2013
  • Вишняков Геннадий Николаевич
  • Сухенко Евгений Пантелеевич
  • Левин Геннадий Генрихович
  • Беляков Владимир Константинович
  • Латушко Михаил Иванович
RU2539747C1
Дифракционный интерферометр 1989
  • Четкарева Лидия Эммануиловна
SU1818547A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 179 744 A1

Реферат патента 1986 года Интерференционно-теневое устройство

ИНТЕРФЕГЕНЦИОННО-ТЕНЕВОЕ УСТРОЙСТВО, содеркащее источник света, объектив, расположенный на выходе интерферометра, визуализирующую диафрагму, узел регистрации шлирен-фотографии и узел регистрации интерферограммы, отличающееся тем, что, с целью сохранения светового потока и обеспечения пространственной фильтрации интерференционной картины при одновременной регистрации теневой и интерференционной картины, визуализирующая диафрагма выполнена в виде зеркала с прозрачньи отверстием или зеркально отражающего экрана на прозрачном слое и установлена в фокусе объектива, а ее плоскость составляет с оптической осью и направлением на узел регистрации шпирён-фотографии равные углы. (Л

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1986 года SU1179744A1

Васильев А.А, Теневые методы
М.: Наука, 1968, с
Способ гальванического снятия позолоты с серебряных изделий без заметного изменения их формы 1923
  • Бердников М.И.
SU12A1
Интерференционно-теневая насадка 1958
  • Забелин А.А.
SU124675A1

SU 1 179 744 A1

Авторы

Давыдов А.Е.

Дрейден Г.В.

Островский Ю.И.

Этинберг М.И.

Даты

1986-03-23Публикация

1982-10-12Подача