Антенная система Советский патент 1985 года по МПК H01Q15/08 

Изобретение .относится к антенной технике, а именно к антенным системам линзового типа с электрическим сканированием. Цель изобретения - увеличение се тора сканирования до полусферы и ус ранение затенения облучателями излу чающего раскрьгаа. На чертеже представлена струк- турная схема антенной системы. Антенная система содержит сферическую линзу 1 из неоднородаого диэлектрика радиусом Н, решетку облу чателей 2, расположенных на сферической поверхности 3 радиусом. R2, концентричной поверхности сферичес кой линзы 1. При этом коэффициент преломления неоднородного диэлектрика изменяется по закону п(н) а -..-.. (т.е. сферическая лин за 1 из неоднородного диэлектрика является линзой Максвелла), радиус R. выбран из соотношения Rl/R. - 0,5-0,7, а раскрыв решеткиоблучателей 2 не более диаметра сферической линзы 1. Антенная система работает следую щим образом. При возбуждении решетки облучате лей 2 пучок формируемых ими парал92дельных лучей 4 проходит через сферическую линзу 1 из неоднородного диэлектрика и образует в излучающем раскрьюе пучок параллельных лучей 4. При этом из свойств линзы Максвелла следует, что оптические длины всех лучей 4 равны, каждый луч 4, проходящий сферическую линзу 1 из иеоднородного диэлектрика, выходит в точке, диаметрально противоположной точке входа, угол падения и угол выхода из сферической линзы I равны. При изменении угла падения (сканировании например, изменением фазы возбуждения облучателей 2) на такую же величину изменяется угол выхода из сферической линзы 1, т.е. обеспечивается неискаженное сканирование. Для обеспечения сектора сканирования QC в полусфере в р 1 необходимо cos что соответствует RVI/RZ 0,5-0,7. Отсутствие значения облучателями излучающего раскрыва обеспечивается, как следует из геометрии антенной системы, при раскрьше решетки облучателей 2, не превьппающем диаметр сферической линзы .

АНТЕННАЯ СИСТЕМА, содержащая сферическую линзу из неоднородиого диэлектрика и решетку облучателей, расположенных на сферической поверхности, концентричной поверхности сферической линзы, о т.личающаяся тем, что, с целью, увеличения сектора сканирова ВИЯ до полусферы и устранения затенения облучателями излучающего раскрыва, коэффициент преломления неоднородного диэлектрика изменяется в зависимости от радиусаR по закону 2 n(R) EzJEf где RJ - радиус сферической линзы, причем радиус Rg сферической поверхности, концентричной поверхности сферической линзы выбран из соотношения 0,5-0,7, а раскрыв i решетки облучателей не бблее диаметkn ра сферической линзы.