Устройство для контроля качества объективов Советский патент 1986 года по МПК G01M11/02 

V

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике, предназначено для оперативного контроля качества объективов путем измерения энергии в пятне рассеяния и может быть использовано на предприятиях оптико-механической про- м Л11лепности при производственном контроле качества объективов, как в ходе их изготовления, так и при орсончательной аттестации.

Цель изобретения - повьшение надежности и оперативности контроля.

На чертеже схематически показано предлагаемое.устройство для контроля, качества объективов,

5 стройство состоит из установленных последовательно источника 1 излучения, конденсора i 2, модулятора 3, точечной диафрагмы 4, располо- лсенпой в фокальной плоскости кол- лиматорного объектива 5, контролируемого объектива 6, плоскость изоб ра:кенш1 которого совмещена с предме пой плоскостью микрообъектива 7, призмы -- куба 8, расположенной в плоскости изображения микрообъектива 7 и имеющей на диагональной от- рз-жающей грани эллиптическое отверстие, зеркала 9, установленного под углом к оптической оси, и параллельных ему зеркала 10 и перекидного зеркала 11 (положение 1) , окуляра 12, коллективной линзы 13, фотоприемного устройства 14, выход которого соединен с входом регистрирующего прибора 15.

Устройство работает следующим образом.

Источник 1 света с помощью конденсора 2 освещает точечную ди- афраг му 4, расположенную в фокгшь- ной плоскости коллиматорного объектива 5., Дпя достижения хорошей помехозапщщенности оптико-электронной схемы от паразитных засветок и высокой чувствительности за конденсатором 2 установлен модулятор 3 светового потока. Контролируемая система строит изображение диаф- рапчы 4 в предметной плоскости микроабъектиэа 7, который еоздает увеличенное изображение пятна рассеяния контролируемого об ьектива 6 на диагональной отражающей грани призмы - куба 8, Увеличение микрообъектива 7 должно быт1 таким чтобы пятно расЬеншн, еоэдава

049862

емое эталонным объективом или опре деленное расчетными данными вписывалось в отверстие на отражающей грани призмы - куба 8. Конг тролируемые объективы вследствие ошибок изготовления в отличие от расчетных данных дают пятно рассеяния большего размера, в результате чего одна часть энергии

jg проходит в отверстие заданного размера, а другая часть отража- ется от диагональной грани призмы - кула 8. Часть потока излзгче- ния, прошедшего через отверстие

15 призмы - куба 8, направляется зеркалами 9 и 1 1 (положение j через коллективную линзу 13 на фотоприемное устройство 14. Величина электрического сигнала U.j, про20 порционального прошедшему потоку излут-шния ФП РОЦ) воспринимаемому чувствительной площадкой фотоприемного устройства 14, регистрируется вольтметром 15, вход которого

25 соединен с выходом фотоприемного устройства 14. Предварительно осуществляется грубая настройка систе- / мы по второму каналу (каналу отражения) с помощью окуляра 12, фокузи сировка может производиться как визуально с помощью окуляра 12, так и по величине максимального электрического сигнала на регистрирующем приборе 15. Остальная часть потока излучения, отраженного от диагональной грани призмы - куба В зеркалом 10Дперекидное зеркало 11 при этом выключено из хода лучей положение П), направляется также через коллективную линзу 13 ка фотоприемное

35

40

45

устройство 14. Величина электрического сигнала U , пропорционального отраженному потоку излучения , воспринимаемому чувствительной площадкой фотоприемного устройства 14, также регистрируется вольтметром 15. Качество контролируемьпс объективов определяется соотношением велиUjJfOLUчин

и„

в зависимости от допусков

50 Р

на величину потока излучения, проходящего в отверстие заданного размера относительно всего потока излучения, создаваемого объективом.

55

Формула изобретения

Устройство для контроля качества об1ьективов, содержащее установлен31204986 4

Hyio в предметной плоскости контро-изображения точечной диафрагмы

лируемого объектива подсвечиваемуюсодержит установленную в плоскости

точечную диафрагму и расположен-изображения контролируемого объекный в пространстве изображенийтива призму - куб с вьшолненным в ди- контролируемого объектива анализатор 5 агональном отражающем покрытии

изображения точечной диафрагмы,эталонным отверс.тиеми системуизмеотличающееся тем, что,рения прошедшегочерез эталонное отс целью повышения надежности иверстие иотраженного отдиагональной

оперативности контроля, анализаторграни призму- кубасветовых потоков.

Изобретение позволяет повысить надежность и оперативность контроля. Для этого в плоскости изображения контролируемого объектива установлена призма - куб с эталонным ,отверстием в диагональном отражающем покрытии и система измерения прошедшего через эталонное отверстие и отраженного от диагональной грани призмы - куба, световых потоков „ Микрообъектив 7 создает увелх-гчен- ное изображение пятна рассеяния контролируемого объект11ва 6 на диаго-- нально отражающей грани призмы - куба 8„ Часть энергии проходит в отверстие заданного размера и направляется зеркалами 9-11 через коллективную линзу 13 на фотопрй- емное устройство 14. Другая часть отражается от диагональной грани призмы - куба 8 и зеркала 10 и таклсе через коллективную линзу 3 направляется на фотоприемное устройство 14. Качество контролируемых объективов определяется на фотоприемное устройство 14. Качество контролируемых объективов определяется соотношением величин электрических сигналов, пропорциональных прошедшему и отраженному световым потокам. 1 ил /Ji |5-:::i;5