Устройство для проверки качества объективов Советский патент 1980 года по МПК G01M11/02 

1

Изобретение относится к области измерительной техники, а именно к устройствам для проверки качества оптических деталей и плоских пластин фотоэлектрическим методом, предназначенных для использования в оптической и стекольной промышленности.

Известно, например, устройство для проверки качества поверхности стекла 1.

Однако из-за сложности измерительной схемы этого устройства, состояпдего из двигателя, преобразователя, автокомпенсатора, ролика, обтянутого светопоглощающим слоем (черным бархатом), резервуара, наполненного глицерином, создает большие неудобства при его эксплуатации.

Наиболее близкое к изобретению техническое решение - устройство для проверки качества объективов путем измерения кружка рассеяния, содержащее передаюш,ую систему, которая включает в себя установленные последовательно источник света, конденсатор, диафрагму, расположенную в фокальной плоскости объектива, и объектив, формирующий параллельный пучок лучей, испытуемый объектив и приемную систему, включающую установленные последовательно анализирующий узел, состоящий из радиальной миры, вращаемой двигателем вокруг оси, параллельной оптической, и приемник излучения, соединенный через усилитель с регистрирующим прибором 2. Это устройство недостаточно точно имеет плохую помехозащищенность от посторонних засветок.

Цель изобретения - повышение чувствительности и точности устройства. Для достижения этой цели в передаюШую систему введен модулятор светового потока, вращающийся с частотой, соответствующей чувствительности приемника излучений, установленный по ходу луча за конденсором, а анализирующий узел приемной системы выполнен в виде фотоэлектрического микроскопа, установленного за испытуемым объективом, предметная плоскость которого сопряжена с плоскостью изображения испытуемого объектива.

На чертеже схематично показано устройство.

Устройство состоит из передающей системы 1, которая включает источник излучения 2, конденсор 3, модулятор 4 и входную диафрагму 5, расположенную в фокальной плоскости коллиматорного объектива 6, испытуемого объектива 7 и приемной системы 8, включающей анализирующий узел, выполненный в виде фотоэлектрического микроскопа 9, состоящего из

.-

-k- г объектива 10, перекидного зеркала 11, приемника излучения 12 и окуляра 13. Весь микроскоп имеет микрометрические перемещения в плоскости, перпепдикулярпой к оптической оси, и вдоль пее и блок 14 обработки сигнала, состояш,ий из предусилителя 15, усилителя 16, стрелочного индикатора 17 и осциллографа 18. Световой поток, формируемый передающей системой 1 и модулированный с частотой /, собирается в фокальной плоскости испытуемого объектива 1. Кружок рассеяния, получаемый после испытуемого объектива, увеличивается объективом микроскона 10, с помощью перекидного зеркала И проецируется в плоскость чувствптельной площадки приемника излучения 12. Увеличенное изображение кружка рассеяния с помощью микрометрических перемещений сканируется чувствительной площадкой приемника излучения, и по величине сигнала на стрелочном индикаторе 17 и осциллографе 18 определяются границы кружка рассеяния при любом соотношении сигнала к шуму. Отсчетные барабаны анализирующей головки позволяют измерять размер кружка рассеяния в различных плоскостях. Окуляр 13 необходим при предварительной настройке оптической системы. Частота модуляции пддбирается в зависимости от чувствительности приемника, блок обработки сигнала настроен на несущую частоту. Этим достигается хорошая помехозащищенность оптико-электронной схемы от паразитных засветок и высокая чувствительность всего устройства. Для работы оптической системы в любом диапазопе оптические элементы выполнепы в виде зеркал.

712721 кроме окуляра, который является элементом пастройки. Одновременное использование модулятора и фотоэлектрического микроскопа позволяет повысить чувствительность устройства и точность измерений. Формула изобретения Устройство для проверки качества объективов, содержащее передающую систему, которая включает в себя установленные последовательно источник излучения, конденсор, диафрагму, расположенную в фокальной плоскости объектива и объектив, формирующий параллельный пучок лучей, испытуемый объектив и приемную систему, включающую установленные последовательно анализирующий узел и фотоприемник, соединенный через усилитель с регистрирующим прибором, отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности и точности измерений, в передающую систему введен модулятор светового пото установленный по ходу луча за конден сором, а анализирующий узел приемной системы выполнен в виде фотоэлектрического микроскопа, установленного за иепытуемым объективом, предметная плоскость которого сопряжена с плоскостью изображения испытуемого объектива. Источники информации, принятые во внимание при экспертизе 1Авторское свидетельство СССР № 402773, кл. G 01 М 11/02, 1973. 2Авторское свидетельство СССР № 176099, кл. G 01М 11/02, 1965 (прототип) .