Способ измерения параметра электропроводящего слоя Советский патент 1986 года по МПК G01N27/90 

Описание патента на изобретение SU1206682A1

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано во всех отраслях народного хозяйства для измерения толщины, магнитной проницаемости и удельнЬй электрической проводимости электропроводящих слоев, в частности методом вихревых токов.

Цель изобретения - повьппение точности измерения и расширение области применения способа.

На чертеже представлена структурная схема устройства для реализации способа, измерения параметра электропроводящего слоя.

Устройство содержит генератор 1 переменной частоты, вихретоковьй преобразователь 2, блок 3 измерения частоты сОд, на которой разница сигналов преобразователя 2 на смежных частотах максимальна, блок 4 обработки информации, блок 5 вьщеления дополнительной информации и блок 6 индикации.

Способ основан на том, что частота (Jo сигнала в характерной точке амплитудно-частотной характеристики преобразователя (т.е. в точке максимальной разности сигналов на смежных частотах) является не только функцией толщины t слоя,но и его удельной электрической проводимости d и магнитной проницаемости |U . При этом, как показали расчеты и экспериментальные исследования, на частоте сОр, измеренной в характерной точке, отношение толщины t электропроводящего слоя к глубине проникновения электромагнитного поля в материал слоя S не зависит от вариаций в широком диапазоне параметров t, б и щ электропроводящего слоя и зазора преобразователем и поверхностью слоя.

Таким образом, если известны частота Ыо сигнала в характерной точке и два (из трех) параметра электропроводящего слоя, величину третьего параметра можно определить из условия t/5 const. Это позволяет скорректировать результаты измерений контролируемого параметра (например, толщины t слоя) в зависимости от вариаций двух других мешающих параметров (например, |н и ( ) слоя путем предварительного их измерения известными способами и последующего определ ения величины конт

ролируемого параметра из -условия ,t/S const на частоте Щд сигнала преобразователя, измеренной в г арак- терной точке.

Применительно, например, к решению задачи измерения магнитной прони- цаемости металлического листа вих- ретоковым методом способ с помощью устройства реализуется следующим образом.

Вихретоковьй преобразователь 2 размещают в зоне контроля. С помощью генератора 1 переменной частоты в преобразователе 2 возбуждают ток с непрерывно изменяющейся частотой в диапазоне, обеспечивающем проникновение электромагнитного поля на глубину.от нескольких долей до веп личины, равной или большей толщины t слоя.

Затем выходной сигнал преобразователя 2 подают на вход блока 3 измерения частоты, где осуществляют сравнение сигналов преобразователя 2, выработанных на смежных частотах, определяют их разницу и измеряют частоту «о, на которой эта разница максимальна. При этом действукяций на выходе блока 3 сигнал зависит от всех трех параметров (t,HCi ) контролируемого слоя и не изменяется при вариащях зазора между преобразователем 2 и поверхностью листа. С выхода блока 3 сигнал подают на блок 4 обработки информации. На два других входа этого блока с выхода блока 5 вьщеления дополнительной информации подают сигналы, пропорциональные величине мешаняцих параметров - удельной электрической проводимости и толщине металлического листа. При этом определение величины мешаюцих параметров (d и t) листа в блоке 5 осуществляют известными устройствами:и , например, с помощью моста, t - с помощью микрометра.

В блоке 4 обработки информации все три сигнала обрабатывают в соот-- ветствии с условием постоянства отношения толщины t листа к глубине проникновения электромагнитного поля в материал листа на измерен ной частоте U)д. При этом на выходе блока 4 обработки информации действует сигнал, прямо пропорциональный магнитной проницаемости листа, который и регистрируется индикатором 6.

Так как определение величины контролируемого параметра листа

осущбствляется из условия -т-

const, то при изменениях, например увеличении, одного из мешаюпрх параметров увеличивается один из выходных сигналов блока 5 выделения

12066824

дополнительной информации. Одновременно и во столько же раз уменьшается выходной сигнал блока 3 измерения частоты (Оо, так что выходной 5 сигнал блока 4 остается неизменным, т.е. остается неизменной величина контролируемого парамет рЗ /U - маг- нктная проницаемость листа.

Похожие патенты SU1206682A1

название год авторы номер документа
Способ измерения параметров неферромагнитного электропроводящего слоя 1984
  • Беликов Евгений Готтович
SU1211648A1
Способ контроля зазора и параметров немагнитного электропроводящего слоя 1986
  • Беликов Евгений Готтович
  • Тычинин Алексей Петрович
SU1392348A1
Способ контроля параметра электропроводящего немагнитного слоя 1986
  • Беликов Евгений Готтович
  • Тычинин Алексей Петрович
SU1385055A1
Вихретоковый способ контроля параметров немагнитного слоя и зазора 1986
  • Беликов Евгений Готтович
  • Тычинин Алексей Петрович
SU1392347A1
Устройство для неразрушающего контроля изделий 1984
  • Останин Юрий Яковлевич
SU1223131A1
Вихретоковое устройство для контроля электрофизических параметров электропроводящих объектов 1982
  • Бычков Евгений Леонидович
  • Дерун Евгений Николаевич
SU1083103A1
Вихретоковый способ контроля параметров немагнитного электропроводящего слоя и зазора 1987
  • Беликов Евгений Готтович
SU1499214A2
Способ вихретокового контроля электропроводящих изделий и устройство для его осуществления 1983
  • Касимов Геннадий Анатольевич
  • Соколик Алексей Иванович
SU1183884A1
Способ измерения толщины поверхностно обработанных слоев ферромагнитных электропроводящих изделий 1985
  • Зацепин Николай Николаевич
  • Коренной Борис Петрович
  • Горбаш Владимир Григорьевич
  • Бабарин Александр Яковлевич
  • Делендик Михаил Николаевич
  • Кащенко Игорь Иванович
SU1310619A1
Способ неразрушающего контроля электропроводящих изделий и устройство для его осуществления 1982
  • Беликов Евгений Готтович
  • Тычинин Алексей Петрович
SU1095059A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 206 682 A1

Реферат патента 1986 года Способ измерения параметра электропроводящего слоя

Формула изобретения SU 1 206 682 A1

Редактор А.Шишкина

Заказ 8703/45 ТиражПодписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Филиал ПИП Патент, г.Ужгород, ул.Проектная, 4

Составитель Й.Кесоян

Техред 3.Палий Корректор М.Пожо

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1986 года SU1206682A1

Приборы неразрушающего контроля материалов и изделий
Справочник под ред.В.В.Клюева
М.: Машиностроение, 1976, кн.2, с.326
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ПОВЕРХНОСТНО-ОБРАБОТАННЫХ СЛОЕВ МЕТАЛЛА 0
SU211130A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 206 682 A1

Авторы

Беликов Евгений Готтович

Даты

1986-01-23Публикация

1984-11-22Подача