Способ прослеживания следов заряженных частиц в слоях эмульсионной камеры Советский патент 1959 года по МПК G01T5/02 

Описание патента на изобретение SU121202A1

При известных сподобах прослеживания следов заряженных частиц используют для наблюдения обычный микроскоп, под объектив которого последовательно устанавливают различные слои эмульсии. Такой способ исключает возможность сравнения следов в двух слоях эмульсии путем их одновременного рассматривания, что может привести к переходу на след другой частицы при наблюдении последующего слоя.

Предлагаемый способ позволяет устранить ука анйый недостаток и обеспечить одновременное наблюдение следов в двух последующих слоях эмульсии. Это достигается тем, что два последующих слоя эмульсий устанавливают под объективами сравнительного микроскопа, взаимно ориентируют их по имеющимся на слоях рентгеновским меткам и, наблюдая одновременно следы частицы на обоих слоях, видимые в поле зрения микроскопа, судят об их тождестве.

На чертеже изображена схема прослеживания следов заряженных частиц по предлагаемому способу.

Два последовательных слоя эмульсии i-й .слой и 1±1-й располагают каждый под одним из объективов 1 и 2 микроскопа так, чтобы были видны метки, нанесенные на обоих слоях пучками рентгеновских лучей. Объективы 1 и 2 укреплены на жестком основании и дают изображения следов в i-OM и 1±1-ом слоях в одном окуляре, разделенном на две части. При этом в сЪпряженных точках полуполей микроскопа будут видны следы одной и той же частицы в разных слоях эмульсии. Если перефокусировать объективы 1 и 2 (один вверх, а другой вниз) на одну и ту же величину AZ, то можно отчетливо наблюдать в обоих полуполях непрерывный след частицы.

Предмет изобретения

Способ прослеживания следов заряженных частиц в слоях эмульсионной камеры, отличающийся тем, что, -с целью повышения надежности прослеживания, два последующие слоя эм-ульсий устанавливают под объективами сравнительного микроскопа, взаимно ориентируют их ло имеющимся на слоях рентгеновским меткам и, наблюдая одновременно видимые в поле зрения микроскопа следы частицы на обоих слоях, судят об их тождестве.

Похожие патенты SU121202A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ВЕЛИЧИНЫ РАССЕЯНИЯ СВЕРХБЫСТРЫХ ЧАСТИЦ В ФОТОЭМУЛЬСИЯХ 1957
  • Лепехин Ф.Г.
SU113469A1
Устройство для измерения скорости газового потока 1956
  • Лепехин Ф.Г.
SU109255A1
Устройство для просмотра ядерной фотоэмульсии 1987
  • Сороко Лев Маркович
SU1430918A1
СПОСОБ ОБНАРУЖЕНИЯ ДЕФОРМАЦИЙ В ЯДЕРНЫХ ЭМУЛЬСИЯХ 1970
SU269337A1
ПРИБОР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ НАПРАВЛЯЮЩИХ 1968
SU231848A1
МИКРОСКОП СРАВНЕНИЯ (ВАРИАНТЫ) 1999
  • Санников Петр Алексеевич
RU2190246C2
СПОСОБ ФЛУОРЕСЦЕНТНОЙ НАНОСКОПИИ (ВАРИАНТЫ) 2005
  • Климов Андрей Алексеевич
  • Климов Дмитрий Андреевич
  • Климов Евгений Андреевич
  • Климова Татьяна Витальевна
RU2305270C2
СПОСОБ ГЕОМЕТРИЧЕСКИХ ИЗМЕРЕНИЙ ОБЪЕКТОВ, РАСПОЛОЖЕННЫХ ВНУТРИ НЕПРОЗРАЧНОЙ ОБОЛОЧКИ 1973
SU409120A1
Микроскоп 1984
  • Сороко Лев Маркович
SU1273861A1
СПОСОБ МИКРОФОТОГРАФИРОВАНИЯ СЛЕДОВ ЗАРЯЖЕННЫХ ЧАСТИЦ 1991
  • Баранов В.И.
SU1820739A1

Иллюстрации к изобретению SU 121 202 A1

Реферат патента 1959 года Способ прослеживания следов заряженных частиц в слоях эмульсионной камеры

Формула изобретения SU 121 202 A1

{i fcnoa- : - -. }-4Z

SU 121 202 A1

Авторы

Лепехин Ф.Г.

Даты

1959-01-01Публикация

1958-02-24Подача