Изобретение относится к радиоэлекронике, в частности к устройствам дл подключения интегральных микросхем (ИМС) с гибкими планарными выводами, и может быть использовано для контроля ИМС.
Цель изобретения - повьшение надежности контактирования при уменьшении механического повреждения выводов микросхем.
На фиг, 1 изображено устройство, в рабочем положении; на фиг. 2 - разрез А-А на фиг. 1; на фиг. 3 - посадочное место микросхемы, вид сверху. Контактное устройство для подключения интегральных микросхем с планарными вьшодами состоит из корпуса 1 с нижним контактным полем 2 и верхним контактным полем 3, между которыми горизонтально перемещается каретка 4 с двумя посадочными местами для микросхем. Каретка перемещается по направляющим 5 и фиксируется в двух ее крайних положениях фиксаторами 6, которые опускаются в пазы 7. Посадочные места микросхем представляют собой две колодки 8, на которых устанавливаются две микросхемы 9 с планарными вьюодами 10, и закрепляются защелками 11. В колодках 8 выполнены отверстия 12, через которые проходят контактные штыри нижнего контактного поля 2. На нижнем контактном поле 2 в шахматном порядке расположены контактные штьфи
13,подпружиненные при помощи пружин
14.На верхнем контактном поле 3 в шахматном порядке расположены подпружиненные контактные штыри 15 (пружины не показаны). Контакт выводов 10 микросхем 9 с контактными штьфями 13 и 15 происходит в токах 16. Вертикальное перемещение нижнего 2 и верхнего 3 контактных полей осуществляется простым поворотом рукоятки 17 с флажком 18 на 180 . Рукоятка 17 закреплена на валу 19, на котором насажены два эксцентрика 20 и 21. Эксцентрик 20 посредством стоек 22 перемещает верхнее контактное поле 3, а эксцентрик 21 посредством стоек 23 перемещает нижнее контактное поле 2. Со стойками 22 соединены фиксаторы 6.
Подключение микросхем осуществляется следуюпщм образом.
Микросхему 9 устанавливают в колодку 8 того посадочного места, которое находится за пределами рабочей зоны устройства и закрепляют защелкой 11. Затем передвигают каретку 4 в другое крайнее положение по направляющим 5 до упора. При этом посадочное место В занимает положение в рабочей зоне, а посадочное место, которое находилось в рабочей зоне, занимает положение за ее пределами.
Такая конструкция посадочных мест позволяет значительно снизить потери времени на смену микросхем, подвергающихся контролю.
Поворотом рукоятки 17 осуществляют поворот вала 19 с эксцентриками 20 и 21 на 180°, причем флажок 18, закрепленный на рукоятке, ограничивает этот поворот. Эксцентрики 20
и 21 посредством стоек 22 и 23 опускают верхнее контактное поле 3 и поднимают нижнее контактное поле 2 к выводам 10 микросхемы 9, причем верхнее контактное поле 3 опускается
к выводам ИМС с небольшим опережением (порядка 1 мм). Опережение s перемещении контактных штырей верхнего контактного поля достигается за счет первоначального (введенного в качестве константы в конструкцию устройства) смещения верхнего контактного поля по сравнению с нижним контактным полем относительно выводов интегральной микросхемы (ИМС) при равном рабочем ходе верхнего и
нижнего контактных полей. Вследствие этого суммарное усилие контактных штьфей 15 верхнего контактного поля 3 превьш1ает суммарное усилие кон тактных штырей 13 нижнего контактного ПОЛЯ 2. Контактные штыри 15 верхнего контактного поля 3 прижимают гибкие выводы 10 микросхемы 9 к колодке 8с отверстиями 12, а контактные штьфи 13 нижнего контактного
поля 2, входя в отверстия 12, также контактируют с выводами 10. Таким образом осуществляется надежное электрическое контактирование, отсутствует деформация гибких планарных
выводов ИМС. Одновременно при повороте вала 19 с эксцентриками 20 и 21 происходит автоматическая фиксация каретки 4 посредством фиксаторов 6, соединенных со стойками 22, которые
опускаются в пазы 7 каретки 4. При такой фиксации каретки 4 обеспечивается необходимая точность совмещения контактных штырей 13 и 15 с выводами
10 микросхем 9 в точках 16, расположенных в шахматном порядке.
Предлагаемая конструкция устройства позволяет производить проверку ИМС с малым шагом расположения выводов, к каждому из которых подключаются по четыре контактных штыря. Нарастание контактного усилия происходит плавно и равномерно. Благодаря наличию двустороннего контакта исключается деформация и повреждение гибких вьшодов ИМС.
Формула изобретения
Контактное устройство для подключения интегральных микросхем с пла- нарными вьшодами, содержащее корпус, контактные штыри, узел перемещения и фиксации микросхем с базовой поверхностью и механизм перемещения контактных штырей, отличающееся тем, что, с целью повьшения надежности контактирования при уменьшении механического повреждения выводов микросхем, контактные штьфи расположены по обе стороны от выводов микросхе№ 1 рядами в шахматном порядке, причем расстояние от верхних
контактов до базовой поверхности узла фиксации микросхемы превышает расстояние от  нижних, контактов до базовой поверхности подключаемой микросхемы, а механизм перемещения контактных штьфей выполнен в виде двух закрепленных на одном валу эксцентриков, каждый из которых размещен в /)аме, жестко связанной с парой стоек, ча одной из которых закреплены верхнйе контакты, а на другой - нижние.

| название | год | авторы | номер документа | 
|---|---|---|---|
| Контактное устройство | 1989 | 
 | SU1762427A1 | 
| Контактное устройство для испытания интегральных микросхем | 1981 | 
 | SU1061300A1 | 
| Контактное устройство | 1976 | 
 | SU576680A1 | 
| Контактное устройство | 1988 | 
 | SU1594623A1 | 
| Комбинированный разъем | 1985 | 
 | SU1450027A1 | 
| Контактное устройство для коммутации измерительной аппаратуры к микросхемам в корпусах с планарными отформованными выводами | 1983 | 
 | SU1325383A1 | 
| КОНТАКТНОЕ УСТРОЙСТВО | 1991 | 
 | RU2042993C1 | 
| КАССЕТА ПРЕИМУЩЕСТВЕННО ДЛЯ ПЛОСКИХ КОРПУСОВ ИНТЕГРАЛЬНЫХ МИКРОСХЕМ С ПЛАНАРНЫМИ ВЫВОДАМИ И С ВЫВОДНОЙ РАМКОЙ | 1989 | 
 | SU1695781A1 | 
| Контактное устройство | 1972 | 
 | SU790049A1 | 
| Контактное устройство для контроля интегральных микросхем | 1986 | 
 | SU1441460A1 | 
 
		
		 
		
         
         
            Изобретение относится к области  радиоэлектроники и может быть использовано для контроля микросхем.  Цель изобретения - повышение надежности контактирования и уменьшение механического повреждения вьшодов  микросхемы. Посредством рукоятки,  эксцентриков 20 и 21 и стоек 22 и 23  осуществляют встречное движение контактного поля (КП) 3, с некоторым  опережением, и КП 2. Контактные штыри 15 КП 3 прижимают выводы 10 микросхемы 9 к колодке 8 каретки 4. Контактные штьфи 13 КП 2, входя в отверстия 12, также контактируют с вы-  вод ами 10. Конструкция устройства  позволяет производить проверку микросхем с малым шагом расположения вь1-  водов, двухсторонний контакт исключает их деформацию, а наличие двух колодок 8 значительно снижает время на  смену микросхем. 3 ил. с о (Л
Редактор М.Недолуженко
Составитель В.Максячкин
Техред И.Верес Корректор М.Шароши
Заказ 1967/61
Тираж 765Подписное
ВШШ11И Государственного комитета СССР
по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
| УСТРОЙСТВО ДЛЯ ПОДСОЕДИНЕНИЯ МНОГОКОНТАКТНЫХ ИЗДЕЛИЙ К КОНТАКТНОМУ БЛОКУ | 1972 |  | SU434633A1 | 
| Кипятильник для воды | 1921 | 
 | SU5A1 | 
| Устройство для подключения выводов микросхем | 1973 | 
 | SU466632A1 | 
Авторы
Даты
1986-04-15—Публикация
1984-06-13—Подача