Устройство для контроля толщины проводящих покрытий на проводящей основе Советский патент 1986 года по МПК G01N25/32 

Описание патента на изобретение SU1226238A1

I

Изобретение относится к области термоэлектрического контроля.промьш ленных изделий.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей,

На чертеже представлена схема прложенного устройства.

Условно показаны температурные поля, создаваемые нагреваемыми электродами с разной площадью контакта поверхностном слое контролируемого изделия.

- Устройство содержит электроды 1выполненные из материала основы 4 или покрытия 5. Электроды 1 и 2 помещены в нагреватель 6 и соединены проводами с входами блока 7 деления сигналов таким образом, что электроды 1 и 3, 2 и 3 при замыкании с контролируемым .изделием образуют термоэлектрические цепи, кроме того, обеспечено деление сигналов в послених. Выход блока 7 деления сигналов соединен с измерительным прибором 8 Геометрия рабочих окончаний электродов 1 и 2 такая, что обеспечивает разную площадь контактных площадок электродов при контакте с контролируемым покрытием 5.

Устройство работает следующим образом.

Включают нагреватель 6, которьй проводит температуру электродов 1 и 2 до величины { . При этом холодный электрод сохраняет температуру комнаты и контролируемого изделия io. Соединения электродов 1 - 3 с проводами для предотвращения появления паразитных ЭДС, искажающих результаты измерения, поддерживаются при одинаковой температуре t ( как частный случай t может быть равна tjj). Электроды 1 - 3 приводят в соприкосновение с покрытием 5. Возле точек касания электродов 1 и 2 с покрытием 5 в поверхностном спое контролируемого изделия устанавлива

ются температурные поля, глубина проникновения которых зависит от площади контактной площадки электрода.

Измерительный прибор 8 измеряет величину, пропорциональную толщине контролируемого покрытия 6, и может быть проградуирован в соответствую- цих единицах.

Предлагаемое устройство позволяет осуществлять процесс контроля покрытий из разных материалов на заданной основе и покрытий из заданного материала на разных основах, экономить материал покрытия и основы при изготовлении устройства.

Формулаизобретения

1. Устройство для контроля толщины про)зодящих покрытий на проводящей основе термоэлектрическим методом, содержащее два горячих электрода и один холодный, блок деления сиг- налов, подключенный к электродам и соединенный с блоком деления измери- тельньй прибор, отличающее- с я тем, что, с целью расширения функциональных возможностей, отношение площадей контактов горячих электродов с изделием не равно единице ,

2.Устройство по п. 1, о т л и- чающееся тем, что, с целью исключения влияния свойств материала покрытия на результат измерений при контроле различных покрытий на одинаковой основе, горячие электроды вьшолнены из материала основы.

3.Устройство по п. 1,отли- чающееся тем, что, с целью исключения влияния свойств материала основы на результат измерений при контроле одинаковых покрытий на различных основах, горячие электроды выполнены из материала покрытия.

..

Похожие патенты SU1226238A1

название год авторы номер документа
Термоэлектрическое устройство для контроля толщины проводящих покрытий на проводящей основе 1982
  • Лухвич Александр Александрович
  • Саванович Николай Иванович
  • Шарандо Владимир Иванович
SU1056017A1
Термоэлектрическое устройство для контроля толщины 1986
  • Лухвич Александр Александрович
  • Саванович Николай Иванович
  • Старшинов Сергей Петрович
  • Хилько Геннадий Иосифович
SU1395940A1
ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТОЛЩИНЫ СЛОЕВ ДВУХСЛОЙНЫХ ПРОВОДЯЩИХ МАТЕРИАЛОВ 2003
  • Корндорф С.Ф.
  • Ногачева Т.И.
  • Углова Н.В.
RU2233441C1
Термоэлектрическое устройство для определения химического состава и структуры металлов и сплавов 1980
  • Лухвич Александр Александрович
  • Саванович Николай Иванович
  • Шарандо Владимир Иванович
SU911281A1
ТЕРМОЭЛЕКТРИЧЕСКОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ КОНТРОЛЯ МЕТАЛЛОВ И СПЛАВОВ 1998
  • Корндорф С.Ф.
  • Нестерович Ю.И.
RU2134875C1
Устройство для контроля толщины покрытия на протяженном изделии 1988
  • Бабенко Валентин Иванович
  • Бердышев Валерий Федорович
  • Мищенко Валентин Иванович
  • Плотников Сергей Владимирович
SU1557501A1
Термоэлектрический способ контроля толщин одинаковых покрытий на различных основах 1989
  • Лухвич Александр Александрович
  • Саванович Николай Иванович
SU1635004A1
Термоэлектрическое устройство для контроля металлов и сплавов 1980
  • Лухвич Александр Александрович
  • Недбальский Иван Иосифович
  • Шарандо Владимир Иванович
SU949453A1
Термоэлектрический способ контроля толщин различных покрытий на одинаковых основах 1986
  • Лухвич Александр Александрович
  • Саванович Николай Иванович
SU1427271A1
Термоэлектрическое устройство для контроля химического состава металлов и сплавов 1989
  • Бабенко Валентин Иванович
  • Бердышев Валерий Федорович
  • Ценципер Борис Матвеевич
  • Захаров Владимир Иванович
  • Берденников Николай Александрович
  • Пельтек Юрий Анатольевич
SU1636754A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 226 238 A1

Реферат патента 1986 года Устройство для контроля толщины проводящих покрытий на проводящей основе

Изобретение относится к области термоэлектрического контроля про- мьшшенных изделий и может быть использовано для контроля покрытий из разных материалов на заданной основе и покрытий из заданного материала на разных основах. Устройство содержит два горячих и холодных электроды, подключенный к электродам блок деления электрических сигналов и соединенный с ним измерительный. Для расширения функциональных возможностей отношение площадей контактов горячих электродов с изделием не равно единице. В одном случае горячие электроды выполнены из материала основы, в другой - из материала покрытия. 2 з.п. ф-лы, 1 ил. С & Л

Формула изобретения SU 1 226 238 A1

Редактор Л. Гратилло

Заказ 2120/38

Тираж 778Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, А

Составитель С. Беловодченко

Техред И.Попович Корректор Г. Решетник

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1986 года SU1226238A1

Проточный рефрактометр 1979
  • Дурович Эрнст Юрьевич
  • Ереновский Валерий Иванович
  • Красовский Эдуард Иосифович
  • Молочников Борис Израилевич
  • Наумов Борис Валентинович
SU911251A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Термоэлектрическое устройство для контроля толщины проводящих покрытий на проводящей основе 1982
  • Лухвич Александр Александрович
  • Саванович Николай Иванович
  • Шарандо Владимир Иванович
SU1056017A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 226 238 A1

Авторы

Лухвич Александр Александрович

Саванович Николай Иванович

Шарандо Владимир Иванович

Даты

1986-04-23Публикация

1983-09-14Подача