Образец для настройки дефектоскопов Советский патент 1986 года по МПК G01N27/82 

Описание патента на изобретение SU1226265A2

Изобретение относится к контроль- но-измерительной технике, может быть использовано для поверки, настройки и калибровки дефекто скопов, действие которых основано на пропускани через изделие переменного тока, и является усовершенствованием известного образца по авт. св. № 109656.3.

Цель изобретения - уменьшение габа.ритов образца за счет уменьшения диаметра и длины цилиндров.

На чертеже представлен образец для настройки дефектоскопов, поперечное сечение.

Образец для настройки дефектоскопов включает в себя полые цилиндры t-3, сплошные цилиндры 4 и 5, установленные .внутри полого цилиндра 6 наибольшего диаметра, причем прорези в цилиндре 6 совпадают с прорезя- нн в цилиндрах 1-5. В цилиндре 6 выполнена на всю длину сквозная прорезь 7, остающаяся свободной. Кроме того на внешнюю поверхность всех цилиндров 1-6 и на внутреннюю поверхность цилиндра 6 нанесено электропроводящее покрытие 8, выполненное мэ материала .с большим, чем у материала образца, отношением магнитной проницаемости к проводимости. Толщина покрытия выбирается равной -ти большей глубины проникновения переменного тока в материал покрытия . Участки 9 верхней поверхности цилиндра 6 наибольшего диаметра вокруг прорезей оставлены свободными от покрытия для установки датчика дефектоскопа на материал образца. На образец устанавливаются электроды 10 датчика настраиваемого дефектоскопа.

Дефекты имитируются дугами окружности колец, получающихся в сечен.ии внутренней поверхности цилиндров плоскостью, перпендикулярной прорезям и проходящей через электрод датчика, в сумме с глубиной прорези, шш удвоенной глубиной прорези в цилиндрах 4 и 5.

При установке датчика на образец в таком положении, что сквозная прорезь в цилиндре 1, совпадающая с прорезью в цилиндре 6, находится между электродами 10 датчика, основной ток проходит в поверхностном слое материала по дуге окружности, ими- тирукщей дефект.

Кроме основного тока, по образцу проходит паразитный ток, который

вследствие наличия дополнительной прорези 7, выполненной по всей длине наибольшего цилиндра 6, протекает по т нешней поверхности цилиндра 1 , а также по внешней и внутренней поверхности прочих цилиндров. При этом ток проходит в поверхностном слое материала. Когда на поверхность образца нанесено электропроводящее покрытие 8, то, если толщина покрытия 8 больше глубины проникновения переменного тока в материал покрытия, ток проходит только по покрытию 8. Ток 1, согласно закону Ома, обратно пропорционален сопротивлению участка по которому он протекает. При этом

ТГ

где i)

R проводимость материала; путь тока;

площадь поперечного сечения участка, по которому протекает ток;

сопротивление участка. Площадь поперечного сечения участка S пропорциональна глубине прониК новенрш тока в материал, которая, в свою очередь пропорциональна ( ,

-1

piu.y

Л 2

где Ti - длина волны злектромагнит- I ного поля в материале;

f - частота переменного тока; |Ч - магнитная проницаемость материала; постоянная, равная

41, 10 Следовательно

1-{Г

EtL

м

Отсюда

R

У

образец из немагнитного например меди (У

55

10 ---, /и 1), нанесено

5,7- 71

покрытие из стали ( )с 10---,

ООм- м

У 10) ,то S увеличивается в 75 раз

по сравнению с образцом безпокрытия

при одних и тех же размерахобразца.

31

Поскольку в образце с покрытием 8 сопротивление паразитному току увеличивается в 75 раз, то путь паразитного тока в образце с покрытием в 75 раз меньше, чем в образце без покрытия. Следовательно, диаметр наибольшего цилиндра и длина цилиндров могут быть значительно уменьшены и выбраны исходя только из конструктивных соображений.

Таким образом, изобретение позволяет уменьшить габариты образца для настройки дефектоскопов.

26265

Формула изобретения

Образец для на стройки дефектоскопа по авт.св. № 1096563, о т л и ч а- 5 ю щ и и с я тем, что, с целью.уменьшения габаритов образца, на внешнюю поверхность всех цилиндров, кроме участков цилиндра наибольшего диаметра вокруг прорезей, и на внутреннюю to поверхность цилиндра наибольшего диаметра нанесено электропроводящее покрытие из материала с большим, чем у материала образца, отношением магнитной проницаемости к проводимости.

Похожие патенты SU1226265A2

название год авторы номер документа
Образец для настройки дефектоскопов 1983
  • Белов Борис Михайлович
  • Баранова Марина Эмильевна
SU1096563A1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ИМИТАТОРОВ ПОТЕРИ СЕЧЕНИЯ СТАЛЬНЫХ КАНАТОВ 2010
  • Пудов Владимир Иванович
  • Соболев Анатолий Сергеевич
RU2455635C1
Стандартный образец для контроля средств магнитопорошковой дефектоскопии 1989
  • Газизова Гульфира Габдулхаевна
  • Гаспаров Рем Георгиевич
  • Косовский Давид Израильевич
  • Шелихов Геннадий Степанович
  • Борис Сергей Владимирович
SU1698732A1
Настроечный образец для дефектоскопов 1979
  • Мужицкий Владимир Федорович
  • Анохов Вадим Леонидович
  • Гребенник Валерий Семенович
  • Лапшин Валерий Сергеевич
  • Леонов Илья Геннадьевич
  • Палеес Евгений Иммануилович
  • Воропаев Сергей Иванович
SU930100A1
ЭЛЕКТРОПОТЕНЦИАЛЬНЫЙ СПОСОБ ДВУХПАРАМЕТРОВОГО КОНТРОЛЯ ЭЛЕКТРОМАГНИТНЫХ СВОЙСТВ МЕТАЛЛА (ВАРИАНТЫ) 1998
  • Митрофанов В.А.
  • Папорков В.А.
RU2158424C2
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ РАДИОПОГЛОЩАЮЩИХ ПОКРЫТИЙ 2006
  • Воронин Игорь Васильевич
  • Горбатов Сергей Александрович
  • Петрунин Вадим Федорович
RU2294948C1
Способ создания дефектов в образцах из многослойных углепластиковых материалов 2020
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Дидин Геннадий Анатольевич
  • Хвостов Андрей Александрович
  • Ермолаев Алексей Александрович
RU2743621C1
КОНТРОЛЬНЫЙ ОБРАЗЕЦ ТОЛЩИНЫ СЛОЯ МЕТАЛЛИЗАЦИИ В ОТВЕРСТИЯХ ПЕЧАТНЫХ ПЛАТ 1991
  • Сахно Э.А.
  • Коваленко С.К.
RU2044262C1
АНТЕННОЕ УСТРОЙСТВО ДЛЯ ГЕОРАДАРА 2001
  • Изюмов С.В.
RU2206942C2
Способ имитации воздействия дефекта на электропотенциальный дефектоскоп 1987
  • Шкатов Петр Николаевич
  • Шатерников Виктор Егорович
  • Давыдов Николай Владимирович
SU1578626A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 226 265 A2

Реферат патента 1986 года Образец для настройки дефектоскопов

Изобретение относится к контрольно-измерительной технике и может быть использовано для поверки, настройки и калибровки дефектоскопов, действие которых основано на пропускании через изделие переменного тока, Цель изобретения - уменьшение габаритов образца..Это достигается тем, что на внешнюю поверхность всех цилиндров, кроме участков цилиндра наибольшего диаметра вокруг прорезей, и на внутреннюю поверхность цилиндра наибольшего диаметра нанесено электропроводящее покрытие, выполненное из материала с большим, чем у материала образца, отношением магнитной проницаемости к проводимости. В образце с покрытием сопротивление паразитному току значительно увеличивается, что позволяет значительно уменьшить габариты образца. 1 ил, Дополнительное к а.с. № 1096563. ьо 1ЧЭ О5 to О5 ел

Формула изобретения SU 1 226 265 A2

Редактор И. Дербак

Составитель И. Рекунова Т ехр ед И.Вере с

Заказ 2121/39

Тираж 778

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4.

Корректор С. Черни

Подписное

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1986 года SU1226265A2

Образец для настройки дефектоскопов 1983
  • Белов Борис Михайлович
  • Баранова Марина Эмильевна
SU1096563A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 226 265 A2

Авторы

Белов Борис Михайлович

Сулева Марина Эмильевна

Даты

1986-04-23Публикация

1985-01-16Подача