Способ изготовления образца для измерения деформаций прозрачных материалов Советский патент 1986 года по МПК G01B11/16 

Изобретение относится к измерению деформации при прочностньи: испытаниях прозрачных материалов 5 получаемых из растворов.

Цель изобретения - повьшение точности измерения деформаций.

Указанная цель достигается тем, что объемная сетка в образце создается без его повреждения, шаг сетки может меняться по объе1чу образца, сетка фиксируется точно.

Способ осуществляется следующим образом.

В жидкую фазу материала образца (дистиллированную воду) при 50-60 С добавляют поверхностно-активные вещества в концентрации 10 - 10 г/л и фотохромные вещества (спиропираны) в такой же концентрац 1и. Полученный раствор перемешивают 16 ч и отстаивают не менее 20 ч в отсутствие света, затем его облучают в течение 20-40 с видимым светом лампы мощностью 1 кВт, Полученный раствор замораживают в термостате. Обрабатывают поверхность образца посредством шлифовки и полировки. Затем образец просвечивают тонкими пyчкa и когерентного излучения лазера, интенсивность и длина которого выбирается из условия возникновения фотохимической реакции в фотохромньга; веществах, Для спиропиранов интенсиЕ:ность излучения составляет 0,1-1 Дж, длина волны - 250-400 нм. При этом в том месте, где прошел лазерный луч, образуется цветовая полоса. Смещая образец на определенные расстояния и просвеор Н, Егорова 2757/40

Составитель Б Евстратов Техред О.Сопко

Ко Под

Тираж 670 ВНИИ1Ш Государственного комитета СССР .

по делам изобретений и открытий 113035,, Москва, Ж-35, Раушская чаб,;. д, 4/5

Производственно-полигрг1фическое предприятие, г, Ужгорода Ул, Проектная, 4

2329402

чивая образец лучом лазера, в образце создают систему цветовых полос, образуняп.их координатную сетку. Фотографируя эту сетку с помоп;ью кинокамеры при прочностных испытаниях образца, получают процесс развития деформаи;ий внутри образца во времени,

Формула изобретения

1. Способ изготовления образца для измерения деформаций прозрачных материалов, заключающийся в том, что ясидкую фазу материала образца , замораживают в термостате и обрабатывают поверхность образца, о т л и - чав}щийся тем, что, с целью повьш ения точности измерения деформаций, перед замораживанием в жидкую фазу материала образца при температуре 50-60°С добавляют поверхностно-активные вещества в концентрации - г/л и фотохромные вещества в такой же концентрации, по- лучен1-гый раствор перемешивают и от- .стаи1зают не менее 20 ч при отсутствии светаJ затем его облучают в течение 20-40 с видимым светом, после обработки поверхности образец просвечивают тонкими пучками когерентного излучения, интенсивность и длина, волны которого выбираются из условия возникновения фотохимической реаюлии в фотохромных веществах.

I

2„ Способ поп.1,отличаю

щ и и с я тем, что в качестве фо- ToxpOMHisix веществ применены спиропираны.

Корректор И.Эрдейи Подписное

Изобретение относится к измерению деформации при прочностных испытаниях прозрачных материалов, получаемых из растворов. Цель изобретения - повьшение точности измерения деформаций. Для этого в жидкую фазу материала образца при температуре 50-60 с добавляют поверхностно актив- ные вещества в концентрации 10 - 10 г/л и фотохромные вещества в такой же концентрации, полученный раствор перемешивают и отстаивают не менее 20 ч при отсутствии света, затем его облучают в течение 20-40 с видимым светом. После замораживания и обработки поверхности образец просвечивают тонкими пучками когерентного излучения, интенсивность и длина волны которого выбирается из условия возникновения фотохимической реакции в фотохромных веществах, В качестве фотохромных веществ применены спиропираны. 1 з.п. ф-Лы. (Л с: to u