Дифференциальный рефрактометр Советский патент 1959 года по МПК G01N21/41 G01J1/44 

Известны дифференциальные рефрактометры, содержащие источник света, оптическую систему со щелью, прозрачные кюветы с эталонным л исследуемым веществом и фотоэлемент, подключенный через усилитель к компенсационной схеме.

Предлагаемый рефрактометр отличается от известных устройств тем, что в нем применен полупроводниковый фотоэлемент с продольным эффектом, э лектродвижущая сила которого пропорциональна смещению светового штриха от его средней осевой линии. Такое выполнение рефрактометра повышает точность измерен1-:й.

На чертеже изображена блок-схема предлагаемого рефрактометра.

Рефрактометр содержит источник света, оптическую систему со щелью, две прозрачных призматических кюветы, одна из которых заполнена эталонным веществом, а другая-исследуемым, и известный, так называемый, «продольный фотоэлемент /, подключенный через ус;:Л} тель 2 к компенсационной схеме, включающей в себя электронный модулятор 3, фазочувствительное устройство 4 и регистрирующую аппаратуРУ 5.

Предмет изобретения

Диффере1щиальный рефрактометр, содержащий источник света, олтическую систему со щелью, прозрачные кюветы с эталонн 1Ми исследуемым веществом и фотоэлемент, подключенньи через усилитель к компе;:сационной схеме, о тл и ч а ю щи йСя те., что, с целью повышения точности измерений, в нем применен полупроводниковый фотоэлемент с продольным эффектом, электродвижущая сила которого пропорциональни смещению светового щтрнха от его средней осевой линии.