Способ определения вязкости Советский патент 1986 года по МПК G01N11/16 

Изобретение относится к исследо- ланию реологических свойств жидкостей и может быть использовано при измерении вязкости растворов рас- 1гпавов и дисперсных систем в химической, пищевой и нефтеперерабатывающей промышленности.

Целью изобретения является упрощение способа при определении вязкое- ти прозрачных жидкостей путем устранения добавочного облучения

В предлагаемом способе при определении вязкости прозрачной жидкости источник видимого излучения применяют как для деформирования, так и для определения параметров деформации, что упрощает определение вязкости.

На фиг, 1 схематически изображено осуществление предложенного способа; на фиг, 2 - зависимость диаметра сечения отраженного пучка от вязкости жидкости.

Слой .1 исследуемой жидкости располагают на подлозкке 2, на которую направляют пучок 3 оптического излучения. Тепловая энергия, передаваемая слою жидкости от подложки 2, вызьюает вихревые двилсения частиц жидкости под действием термокапиллярных сил, что деформирует поверхность слоя. Кривизна образуемого на поверхности углубления 4 зависит от вязкости жидкости. Для измерения деформации поверхности используют часть 5 излучения, отраженную деформированным участком поверхности.

Пример , Слой ацетона толщиной 0,5 мм наносят на подложку из карболита. Ацетон облучают гелий- неоновым лазером ЛГ-75 с мощностью 20 мВт. На экране, установленном на высоте 1 м от подложки, измеряют диаметр сечения отраженного пучка, который равен 29 мм при вязкости ацетона 0,32 сП,

Пример 2, По примеру 1 оп- педеляют диаметр сечения пучка для

слоя ацетона с вязкостью 1,20 сП, Диаметр равен 19 мм.

Пример 3, По примеру 1 определяют диаметр сечения пучка для

слоя н-бутанола с вязкостью 2,95 сП, Диаметр равен 11 мм.

Результаты примеров 1-3 представлены на фиг, 2 в виде градуировоч- ной кривой,

Пример 4, Полученную в пре- д IДyщиx примерах кривую используют для определения вязкости пропанола. По примеру 1 измеряют диаметр сечения отраженного пучка. Диаметр равен

14 мм. Определенная по градуировоч- ной кривой вязкость составляет 2,25сП при известном справочном значении вязкости 2,23 сП,

Предложенный способ прост в осуществлении и позволяет дистанционно определять вязкость прозрачных жидкостей с помощью лазерного источника Излучения видимой области, не прибегая к источнику излучения ИК области

спектра. Упрощение аппа затурного

оформления (отсутствие второго ис- точника излучения) и исключение операции юстировки взаимного положения двух источников повьш1ает оперативность измерений и позволяет использовать предложенное решение при непрерывном контроле вязкости на технологических линиях.

Фор мула изобретения

Спос об определения вязкости, включающий деформ ирование поверхности слоя жидкости оптическим излучением

и измерение параметров деформации по расходимости пучка излучения, отраженного деформированным участком жидкости, отличающийся тем, что, с целью упрощения способа

при определении вязкости прозрачных жидкостей, слой исследуемой жидкости располагают на подложке, выполненной из материала, поглощающего излучение в видимой области.

4Редактор А.Шандор Заказ 3691/38

Составитель В. Крутин Техред О.Гортвай

Тираж .778 ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно

-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная. 4

фиг.1

fff 20 uoffffffflfffff фаг.2

Составитель В. Крутин Техред О.Гортвай

Подписное

Способ определения вязкости относится к области исследования реологических свойств жидкостей Цель изобретения - упрощение способа при определении вязкости прозрачных жидкостей путем устранения добавочного облучения. Способ включает операции деформирования поверхности жидкости и измерения параметров деформации с помощью лазерного излучения. Новым является нанесение слоя исследуемой жидкости на подложку, вьптолненную из материала, поглощающего излучение в видимой области спектра. Использование поглощающей подложки позволяет ограничиться применением источника видимого излучения как для деформирования, так и для измерения параметров деформа- ции. 2 ил. i О)