Способ качественного спектрографического анализа вещества Советский патент 1986 года по МПК G01N21/67 

Изобрете-i е I I i р,1льному анализу 1 м ;нено в г гтрапь i|i i

П1.1омышленнь X пэ ui г И{Г.следова етьг ки и i

Цель изобре И1 д(эстовернос ги н ir i

На чер :; -5 п -1 1i

мость раз: сти гi г

ной линии J. L 1 1 волны линии ,

На чертеже /i обо ;- ача(гт волны данной спектрат ьно р.альной линии 3 onperiej ifit r. ai муле

. g :С .СV

где S, и 8 -- ; счер1 ем -я л,, саектральной линии- слектрограмме по г:-; кам ослабителяJ

Предварительно п- фо т о 3 мул ь с и И с т р С я ; Неред щельг

U()

у :;танавливают

at

и соответствующий спетофиль ;; Р,- гистрируют слектрь . : вещества по фотоллас п-л хг С:: : г;рамма состоит тг:; полос |-П 1, :

уровня JiHTeHCrfBi- OCTv: ,. ) .п-. ) :М

разным ступпнькам пг./шбп-- : ;: спектрограмме отмечг;о - ил-; ,; , пЛОДЛеЖаЩИХ о ГОКЛеСТ-ЛГЛ -; -. тг; :;;-:чению. По i-r .

рЯЮТ 1ТОЧер РИ; Я ..ЦХ Ч ,,; : -., СТулеИЬКаМ, ПЛХПЛИ У ;1;:;:г г- ; ., I

чернений. Сопоста1;л;м;- ;;;-,-: ,; с зазисргмос1 ью л Я (. .ч .Лгп- и -:,-i которых на 1де;;нс- е ., : о глича --

СООТВеТСТВуюШеГО ИЛ ГеТГИЯ ,; :данного интервала .дли:: по,; т порядка, исключа;пт 1л пас ::--ч г: как лринадлежащие др}п :;.1,: , oini, :, Отождествление осталгпихгя ллн;-;: к; i- изводят как, обычно.

Приме р, Иредлаг i:.:); ::; применен при установлении лпл: глу. лра в образдах стали, /ICTO ллг л дуги леременного от leiiei.i ooa ДГ-2, сила тока 12 Л. дифраки чттнг/п спектрограф PG -2 со сменными )eiiii-: :--- ками. Анализ сводится к оток легтвл :::-- ни наиболее чувствительных пора В 249, 6778 и В 249, 7733 нь;. Близко расположенные снектралькь-е лннрл; железа делают невозможным обнаружени следовых количеств но слектру ;;epnio- го порядка. Поэтому анали:; но(Л-;зводи

в общем балансе времени незна--.1П сль-- ны.

Форму

и 3 о б р е

Способ качественного спектрог-ра- фического анализа вещества, вк.лючаю- щий возбуждение спектра вешестиа, дисперсию светового пучка гдосредст- вом дифракдионной решетки спектрографа, фотографическую регистраггию участка спектра, содержаще о ряд спектральных линий ОСНОВЛОУО и других порядков 5 исключение из пего линий, принадлежап1их другим порялО А

кам. и отолчПестялелие сс.т лнп ихся НИИ 5 о т л и ч а ю ш м и с я т-ег , что, с целью поБыгаеник достоверносг-i ан.ализа, неразложенный пучок пропускают через ступенчатый ослаби,- телЬ; определяют разность почертче- ний исследуег ой спектральной лннии по разньгм ступенькам ослабителя г сравнивают ее с предвармт ель -;о полученной для дамной фотозмульси-и зависимостью почернения для этих ступенек от волны и по результатам сравнения проводят исключение линий ; относящихся к другим поркдл /-fM

Изобретение относится к спектральному анализу и может применено в спектральных лабораториях промышленных предприятий и научно- исследовательских институтов. При регистрации участка спектра основно-, го порядка на фотопластинке будут зарегистрированы также спектральные линии других порядков. Эти линии могут быть приняты за линии злементов, в действительности отсутствующих в анализируемом образце. С целью повышения достоверности при исключении спектральных линий других порядков неразложенный пучок света пропускает через ступенчатый ослабитель, а о принадлежности линии спектра к дан- HONpy порядку судят по разности почернений этой линии, измеренных по разным ступенькам ослабителя. 1 ил. & (Л