Способ измерения параметров колебаний объекта Советский патент 1986 года по МПК G01H9/00 

Описание патента на изобретение SU1254311A1

Изобретение относится к измери- тeJJЬнoй технике, в частности к голо графическим способам определения параметров колебаний диффузно отражающих объектов.

Целью изобретения является рас- ширенке измеряемых параметров колебаний путем определения как амплитуды, так и частоты и фазы колебаний.

На. чертеже схематически изображена оптическая схема, реализующая предлагаемьй способ.

Схема включает лазер 1, расширитель лазерного луча 2, светоде,гштель 3 5 голографируемьш объект 4, собирающий объектив 5, входной поляризатор 6, динамическую голограмму 7, анализаторы 8 и 9, введенные соответственно в объектную и опорную ветви, объектив 10, формирующий изобра- жение, светорегистрирующее устройство 11, расширяющий объектив 12, матрицу фотоприемников 13, систему 14, измеряющую частоту и фазу переменного электрического сигнала 0 - опорная и Пр - объектная волна света, 1 и 1j - прошедшие через голограмму части соответственно опорной и объектной волны, 1 и 1 - восстановленные с голограммы части тех же пучков.

Способ осуществляется следующим образом.

Освещают объект 4 когерентным. излучением от лазера 1. В фоторе- фрактивном кристалле кубической сингонии записывают динамическую голограмму вибрирующего объекта 4 путем экспонирования кристалла интерференционной картиной, образованной опорной (Oj) и объектной (Пр) волнами. Кристалл выполняется в виде плоскопараллельной пластинки с оптическими гранями, совпадающими с плоскостью (110) кристалла. Кристалл устанавливается таким образом, что ocbfOOl) перпендикулярна плоскости образованной пересечением осей опорной и объектной ветвей. Опорную и объектную волны формируют из расширенного с помощью расширителя 2 лазерного луча с помощью светоделителя 3 и объектива 5. Направление поляризации опорной и объектной волны

ВНШПИ Заказ 4710/44 Тираж 507

Произв.-полигр. пр-тие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4

5

0

5

света устанавливают с помощью поляризатора 6 в соответствии с условиями наблюдения анизотропной дифрак- ции. Формирующий изображение луч 1 отделяют от прошедшей части объектной волны света 1 посредством анализатора 8. Далее вьщеленный анализатором 8 свет с помощью объектива 10 собирается на светорегистрирующем устройстве 11, где по интенсивности снета определяют амплитуду колебания.

Из прошедшего через голограмму пучка света, содержащего световую волну, восстановленную с голограммы объектной волной и прошедшую через голограмму часть опорного пучка, выделяют линейно поляризованную составляющую с помощью анализатора 9. Выделенную часть пучка расширяют посредством объектива 12, а затем посредством матрицы фотоприемных устройств 13 измеряют распределение частоты и фазы колебаний интенсивности по сечению пучка, по которым определяют соответственно частоту и

фазу колебаний объекта,

1 .

Формула изобретения

1

Способ измерения параметров колебаний объекта, заключающийся в , что освещают объект когерентньм излучением, одновременно записывают динамическую голограмму, образованную опорной и объектной волнами, и восстанавливают ее, измеряют интенсивность восстановленной с голограммы волны и по величине интенсивности определяют амплитуду колебаний, отличающийся тем, что, с целью расширения измеряемых параметров колебаний в пучке света, содержащем световую волну, восстановленную с голограммы объектной волной, и прошедшую через голограмму опорную волну, вьщеляют линейно поляризованную составляющую с поляризацией, отличающейся от поляризации восстановленной и опорной волн, и регистрируют распределение частоты и фазы колебаний интенсивности по сечению пучка, по которым определяют соответственно частоту и фазу колебаний объекта.

Подписное

Похожие патенты SU1254311A1

название год авторы номер документа
Способ определения состояния поляризации объектной волны 1982
  • Ильинская Т.А.
  • Казак В.Л.
SU1053625A1
ОПТИЧЕСКИЙ ЛОКАТОР 1980
  • Сафронов Г.С.
  • Титарь В.П.
SU944437A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ МИКРОРЕЛЬЕФА ОБЪЕКТА И ОПТИЧЕСКИХ СВОЙСТВ ПРИПОВЕРХНОСТНОГО СЛОЯ, МОДУЛЯЦИОННЫЙ ИНТЕРФЕРЕНЦИОННЫЙ МИКРОСКОП ДЛЯ ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ СПОСОБА 2001
  • Андреев В.А.
  • Индукаев К.В.
  • Осипов П.А.
RU2181498C1
ДВУСТОРОННИЙ ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ КОНЦЕВЫХ МЕР ДЛИНЫ 2014
  • Орлов Вячеслав Васильевич
RU2557681C1
Способ определения частоты и амплитуды модуляции фазы волнового фронта, создаваемого колебаниями мембраны клетки 2020
  • Левин Геннадий Генрихович
RU2743973C1
Устройство для голографической регистрации информации 1984
  • Согоконь Александр Борисович
SU1191879A1
УСТРОЙСТВО ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК И СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ОПТИЧЕСКИХ ХАРАКТЕРИСТИК 2012
  • Исимару Итиро
RU2544876C1
Способ записи радужной голограммы 1991
  • Марипов Арапбай
SU1800442A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗГОТОВЛЕНИЯ РАДУЖНЫХ ГОЛОГРАММ 2001
  • Бондарев Л.А.
  • Куракин С.В.
  • Одиноков С.Б.
  • Цыганов И.К.
RU2216758C2
Голографический способ измерения амплитуды колебаний объекта 1987
  • Гусев Владимир Георгиевич
SU1705706A1

Реферат патента 1986 года Способ измерения параметров колебаний объекта

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для определения параметров колебаний диффузно отражанщих объектов. Целью изобретения является расширение измеряемых параметров колебаний путем определения как амплитуды, так и фазы и частоты колебаний. Освещают объект 4 когерентным излучением от лазера 1. В ориентированном фоторе-i фрактивном кристалле записывают динамическую голограмму и одновременно восстанавливают ее. В пучке света Зр , восстановленного с голограммы 7 опорной волной (Оп), измеряют интенсивность, по которой определяют амплитуду колебаний. В пучке света, содержащем световую волну 3„ , восстановленную с голограммы 7 объектной волной (Пр) и прошедшую через голограмму опорную волну 3 , по- .средством анализатора 9 вьщеляют лиейно поляризованную составляющую с поляризацией, отличающейся от по- ляризаций восстановленной „ и |л-.. опорной Jo волн. Затем регистрируют | распределение частоты и фазы интен- сивности по сечению этого пучка, по которым определяют соответствен- а но частоту и фазу колебаний объекта. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 254 311 A1

SU 1 254 311 A1

Авторы

Камшилин Алексей Александрович

Мокрушина Елена Всеволодовна

Даты

1986-08-30Публикация

1985-02-25Подача