Устройство для измерения отражательной способности Советский патент 1986 года по МПК G01N21/55 

Изобретение относится к определе- ниго терморадиационных характеристик материалов, в частности измерений спектральной нормально-полусферической отражательной способности и може быть использовано для исследования композиционных и других анизотропных материалов преимущественно при высоких температурах в видимой и инфракрасной областях спектра, а также в области умеренных и низких температур в средней ИК-области.

Цель изобретения - повышение точности измерения нормально-полусферической отражательной способности материалов за счет обеспечения равномерного по направлениям полу,сферического освещения образца.

1о

На фиг. 1 представлена схема предлагаемого устройства; на фиг. 2 -. разрез А-А на фиг. 1,

В объеме интегрирующей сферы 1 размещена кассета 2 с протяженными источниками излучения 3 (возможна установка и большого числа источников) . Образец исследуемого материала 4 монтируется в держателе 5 и устанавливается в центре сферы. Кассета.

2выполнена в виде кольца, составляющего часть поверхности сферы, внутренняя поверхность его покрыта диффузно-отражающим покрытием. Шток 6 служит для передачи вращения от электродвигателя (не показан) к кассете или держателю. При нагреве (при охлаждении) образца кондуктив- ным путем со стороны обратной визируемой конструктивно предпочтительнее вращать кассету с излучателями. В этом случае держатель монтируется на стойке 7, в теле которой размещается нагреватель или движется охладитель. В случае лазерного нагрева

(через окно 8) или измерениях при комнатной температуре удобней схема с вращающимся образцом и неподвижной кассетой. Для этого шток и кассета разъединяются, стока 7 убирается и держатель крепится к штоку. Возможны также более простые варианты устройства, в которых один из элементов: кассета или держатель с образцом выполнен неподвижным. Наряду с трубчатыми лампами типа ДРТ-400, КИ-220, -1000 и др. в качестве источников могут использоваться спирали ТЭНы, и-образные и другие излучатели с равномерно распределенной по длине яркостью. При этом они могут устанавливаться Б кассете взаимно-параллель ными или радиальным образом (по радиусам кассеты). Измерение лучистых

потоков производится приемно-реги- стрирующей системой 9 через окно 10. Период вращения кассеты устанавливается на. порядок (в раз) меньшим постоянной времени приемно-регистрирующей системы. В этом случае регистрируются усредненные по периоду яркости объекта. Эталонное диффузно- отражающее покрытие 11 нанесено на держатель 5.

Устройство работает следующим образом.

Для определения нормально-полусферической отражательной.способности pTip измеряют спектральную инте нсивность собственного излучения образца (при выключенньк Источниках) 1йр , интенсивность суммарного собственного и отраженного образцом излучения 1 ЛпдИ спектральную яркость

фона171п ,которую опредэляют по яркости эталонного диффузно отражающего.покрытия 11.нанесенного на держатель.Величину |ЗЛ вычисляют по соотношению 1Яп - Шп,,

р. iiit-I-iHHu J I d

(1)

Ч

При этом, усреднение по периоду относится к составляющей, обусловленной отраженным излучением (интенсивность собственного излучения образца при вращении естественно не изменяется), т.е. величине и .разнице Ш,,- I HO40

Формула изобретения

Устройство для измерения отражательной способности материалов, со- дерлсащее интегрирующую сферу, внутри которой расположены протяженные источ1 йкл излучения и держатель образца, а также приемно-регистрирующую систему, о тличающе ее я тем, что, с целью повышения то.чнос- ти измерения отражательной способности материалов со смешайным характером отражения, держатель образца или протяженные источники излучения выполнены с возможностью вращения относительно оси, проходящей через

центр сферы и выходное отверстие, причем период вращения в 10-20 раз меньше постоянной времени приемно- регистрирующей системы.

Составитель И. Никулин Редактор И. Сегляник Техред М.Ходанич Корректор Л. Нилипенкр

Заказ 5220/41 Тираж 778Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие,г.Ужгород,ул.Проектная, 4