Способ определения абсолютной спектральной чувствительности яркомеров Советский патент 1986 года по МПК G01J3/40 

1C

Од ел

со оо Изобретение относится к технической оптике и может быть использовано в фотометрии для измерения абсолютной спектральной чувствительности радиометров. Способ основан на том, что излучение, поступающее на вход яркомера, можно представить в виде двух независимых друг от друга поляризованных во взаимно ортофнальных плоскостях составляющих и расс1матривать спектральную чувствительйость яркомера в виде суммы двух составляющих спектральной чувствительности к Излучению, поляризованному в двух ортогональных плоскостях, одна из которых совпадает с собственной плоскостью поляризации оптической системы яркомера. Способ осуществляют следующим обраНа вход исследуемого яркомера направ4яют монохроматическое излучение с длийой волны К, выделенное из излучения исto4HHKa сплощного спектра и прощедшее через поляризатор. Поляризатор или исслеДуемый яркомер разворачивают относительно пучка излучения и измеряют величины максимального и минимального выходных сигналов. Максимальному сигналу соответствует взаимно-параллельное, а минимальному - взаимно перпендикулярное сопряжение плоскостей поляризации излучения и оптической системы яркомера. Затем выделяют из источника сплошного спектра заданные длины волны Я,2, Кз,...,Лп и повторяют измерения. После этого направляют на вход яркомера излучение источника сплощного спектра и эталонного источника, прощедщее через поляризатор, и регистрируют выходные сигНаЛы яркомера. С помощью компаратора сравнивают интенсивности монохроматического излучения и излучения источника сплощного спектра с эталонным источником излучения при взаимно параллельном и взаимно перпендикулярном положениях оптических осей поляризаторов, установленных в пучках монохроматического излучения и излучения эталонного источника. Абсолютную спектральную чувствительность яркомера определяют по соотнощениюс JJ « абс-т;; jU.(). А,- L«(X)-I где 5абс - абсолютная спектральная чувствительность яркомера; и - сигнал, регистрируемый по излучению сплощного спектра; Ь„с(А,) - спектральная плотность энергетической яркости излучения сплощного спектра; LM(A,) - спектральная энергетическая яркость монохроматического излучения;UMHH(A,)L-минимальный и максимальный и Uiia«(x) выходные сигналы яркомера; К -длина волны, соответствующая А,1, А,2, контролируемым значениям спект...,Х„ральной чувствительности. Формула изобретения Способ определения абсолютной спектральной чувствительности яркомеров, включающий выделение из излучения источника сплощного спектра монохроматического излучения с заданными длинами волн, сравнение компаратором интенсивности монохроматического излучения на каждой из заданных длин волн и интенсивности излучения источника сплощного спектра с излучением эталонного источника, регистрацию монохроматического излучения и излучения источника сплощного спектра исследуемым яркомером и определение абсолютной спектральной чувствительности яркомера по выходным сигналам яркомера и компаратора, отличающийся тем, что, с целью повыщения точности, из излучения, источника сплощного спектра выделяют поляризованное монохроматическое излучение, направленные на компаратор световые потоки дополнительно поляризуют, при измерении выходных сигналов яркомеров и при сравнении интенсивностей излучения исследуемый яркомер и компаратор вращают вокруг их оптических осей, измеряют минимальные и максимальные значения выходных сигналов яркомера и компаратора, а выходные сигналы представляют в виде суммы измеренных значений, причем в качестве источника сплощного спектра используют источник неполяризованного излучения.

Изобретение относится к области оптико-физических измерений и может быть использовано в фотометрии для измерения абсолютной спектральной чувствительности радиометров и энергетической яркости. С целью повышения точности измерений учитывают ослабление светового потока за счет поляризационных свойств источника монохроматического излучения и оптической системы исследуемого яркомера. Это достигается путем раздельного измерения составляющих спектральной чувствительности в двух взаимно ортогональных плоскостях поляризации за счет осуществления поляризации монохроматического излучения и дополнительной поляризации световых потоков при сравнении интенсивностей монохроматического излучения и излучения сплошного спектра с излучением эталонного источника, осуществляемом при взаимно параллельном и взаимно перпендикулярном i расположении плоскостей поляризации эталонного источника и монохроматического (Л излучения.