Способ измерения температуры модели черного тела Советский патент 1986 года по МПК G01J5/60 

Описание патента на изобретение SU1123357A1

1

H3o6f eTeHHe относится к области радиальной пирометрии и может найти применение в прецизионных средствах измерения температуры, входящих в комплекс эталонов энергетической фотометрии, радиометрии, в частности дпя воспроизведения единиц световых величин, например канделы.

Известен способ определения температуры модели черного тела (МЧТ), содержащий операции направления потока излучения из полости исследуемой МЧТ, имеющего температуру Т, , в спектрометр, измерения монохроматической яркости МЧТ на длине волны 9, , в диапазоне длин волн 0,30,7 мкм, в котором справедливо соотношение Вина, и измерения значения монохроматической яркости модели на другой длине волны в диапазоне дпин волн в инфракрасной области спектра. Затем меняют температуру MlT до значения Т и повторяют указанные операции. Вычисляют отношения монохроматических яркостей на двух указанных температурах, решением системы уравнений определяют значения температур Т, и Т, .

Недостатком известного способа является низкая точность измерения, обусловленная низкой точностью измерения монохроматического излучения в ИК-области спектра при существующей аппаратурной реализации.

Наиболее близким к изобретению по технической сущности является способ измерения температуры МЧТ, включающий визирование МЧТ, выделение двух спектральных компонент излучения черного тела на длинах волн f( и из спектрального интервала 0,2-0,8 мкм, воспринимаемых приемником излучения, и измерение сигналов приемника излучения, пропорциональных интенсивностям спектральных компонент.

Температуру находят из отношения сигналов.

Недостатком способа является низкая мощность измерения температуры, так как использование неселективных тепловых приемников в указанном спектральном интервале практически невозможно из-за их низкой чувствительности, использование высокочувствительных селектив23357

ных фотоэлектрических приемников заставляет проводить их градуировку, привязываясь к существующей тем-. пературной шкале, что увеличивает

5 погрешность измерения температуры, в результате даже для эталонных средств она составляет 0,1%.

Однако для способов измерения, используемых в эталонах воспроизведения радиометрических единиц, достигнутая точность недостаточна.

Цель изобретения - повышение точности.

Поставленная цель достигается

5 тем, что в способе измерения температуры МЧТ, включающем визирование МЧТ, выделение двух спектральных компонент излучения черного тела на длинах волн 9, и , из спект20 рального интервала 0,2-0,8 мкм, воспринимаемых приемником измерения, и измерение сигналов приемника излучения, пропорциональных интенсивностям спектральных компонент, визи руют источник синхротронного излучения (си), выделяют спектральные компоненты на тех же длинах волн Л и и измеряют сигналы приемника излучения, пропорциональные ин30 тенсивностям выделенных спектральных компонент, в температуру Т МЧТ определяют по формуле

---

Ч

ч Т-еп 51МММ( 35

Ь(,И(,)UJ J

где Са - вторая постоянная Планка ; (il. S(.) сигналы приемника излучения при визировании МЧТ, соответствующие

спектральным компонентам на длинах воин Д, и Л 2 соответственно;

6 (А,1,5 (Ti)- сигналы приемника излуче ния при визировании источника СИ, соответствую щие спектральным компонентам на дпинах волн Л, и соответственно.

На чертеже представлена принципиальная схема реализации способа. От МЧТ 1 излучение поступает в поворотную фотометрическую сфару 2, являющуюся совместно с монохроматором 3, на выходе которого установлен приемник излучения А, спектрометром.

3

в фотометрическую сферу 2 поступает также излучение источника СИ через канал 5 накопителя 6 электронов.

Способ, осуществляется следующим

образом.

МЧТ 1 выводят на заданный температурный режим и направляют поток излучения на полости исследуемой МЧ в спектрометр, для чего поворачиваю с помощью привода поворота фотометрической системы 7 фотометрическую сферу 2 входным отверстием в сторону МЧТ 1. Монохроматором 3 выбирают длину волны 7(, , в диапазоне длин волн 0,2-0,8 мкм, в котором справедлива формула Вина, и измеряют сигнал приемника излучения 5( Изменяют с помощью монохроматора 3 длину волны в том же диапазоне дпин волн, устанавливая длину волны Aj Вновь измеряют сигнал приемника излучения ) . Приводом поворота фотометрической системы 7 поворачиваю фотометрическую сферу 2 входным отверстием в сторону канала 5 СИ от накопителя 6 электронов, при этом направляют СИ в тот же спектрометр и измеряют на длинах волн А, и Я 2 сигналы приемника излучения 6(, и SCftiloT СИ.

Определяют значение температуры МЧТ с учетом измереннь х сигналов по вьшеприведенной зависимости.

Указанная зависимость вьшедена следующим образом.

В области Вина отношение сигналов , соответствующих вьщеленным спектральным компонентам из излучения МЧТ, определяется формулой , Сг1 Q(AO irt r4TfcgJ QuJ гдеЧ(,,0( спектральные чувстви тельности спектромет ра на длинах волн а 2 соответственно; , спектральные интервалы вьщеляемого из лучения около длин волн Д, и соот ветственно. Спектральный поток СИ Р в предельных случаях при ,цлине волны )6б Т1 7 с , где с - критиче

123357

кая длина волны СИ (Б - энергия электронов; И - напряженность магнитного поля), составляет:

где J - ток; iA - спектральный интервал.

Усредненная по всем углам и энергиям поляризация составляет для этого случая 50%.Использование интегрирующей сферы исключает зависимость от углового распределения СИ, Отношение сигналов приемника излучения, соответствующих спектральным компонентам СИ, примет вид

5(-х.1 QM . (

((( Л (XгГ

Таким образом, получаем, что из отношения спектральных компонент 5(Т,)

для МЧТ и ie ДЛЯ

СИ можно определить Т по формуле

р y.f rrfnf b l C n J ,5(ra J

Анализ погрешности данного способа приводит к следующему уравнению:

Ч.(к Mk

Tlr rr Tl J 1 г)

,где СгС-Х,-- h/Aae/j 2. Т-. 8С UUJ J xUil J г, Эр ГУСХийЗЦ 4-х(т-ГТ LX Л2) J ри значении температуры МЧТ 3000 К; , 0,35 мкм; . мкм ..-о,о(7о; , 9k, -оГ/ Y ° 2(oj46-0,(f+((.6-0,,6-0,,027% J

51

в то время, как в прототипе она составляет 0,1%.

Таким образом, точность данного способа выше точности способа-прототипа в три раза. Использование двух расчетных источников излучения МЧТ и СИ повышает достоверность спо соба.

Экономический эффект от повышения точности измерения температуры МЧТ рассматривается на примере поверочной схемы для световых величин.

233576

В нашей стране на освещение расходуется 13% всей вырабатываемой электроэнергии, т.е. не менее 180 млрд. кВт/ч в год. Повьш1ение точности вос5 произведения световой единицы только на 0,1% за счет повьппения точности измерения температуры МЧТ обеспечит уменьшение затрат электроэнергии на освещение в соответствии с действую10 щими нормами на 3600000 руб. в год, и экономический эффект от внедрения составит 3 руб.13 коп на .каждый рубль затрат.

Похожие патенты SU1123357A1

название год авторы номер документа
Способ определения коэффициента преобразования первичного фотометра 1984
  • Саприцкий Виктор Ильич
  • Ковальский Виолен Яковлевич
  • Мальцев Виктор Викторович
  • Столяревская Раиса Иосифовна
SU1153240A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КВАНТОВОЙ ЭФФЕКТИВНОСТИ ФОТОДИОДНЫХ ПРИЕМНИКОВ ИНФРАКРАСНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ 2023
  • Ходунков Вячеслав Петрович
RU2807168C1
Способ измерения абсолютной спектральной чувствительности яркомеров 1979
  • Богданов Александр Анатольевич
  • Самойлов Леонид Никифорович
  • Саприцкий Виктор Ильич
  • Сычев Андрей Геннадиевич
  • Тарнопольский Владимир Ильич
SU870969A1
Способ измерения абсолютной спектральной чувствительности ИК МФПУ 2018
  • Патрашин Александр Иванович
  • Ковшов Владимир Сергеевич
  • Никонов Антон Викторович
RU2696364C1
Устройство для градуировки фотоприемников по спектральной чувствительности 1985
  • Квочка Виктор Иванович
  • Минаева Ольга Александровна
SU1314237A1
Способ измерения спектральной чувствительности фотоэлектрических счетчиков фотонов 1981
  • Урысон Борис Владимирович
SU1010525A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ИЗЛУЧАТЕЛЬНОЙ СПОСОБНОСТИ ТВЕРДЫХ МАТЕРИАЛОВ И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ 2016
  • Сиренко Александр Васильевич
  • Мазанов Валерий Алексеевич
  • Кокшаров Виктор Васильевич
  • Макейкин Евгений Николаевич
  • Маркин Сергей Викторович
  • Авдошина Ольга Евгеньевна
RU2617725C1
Способ определения спектрального коэффициента яркости 1987
  • Иванов Юрий Владимирович
  • Квочка Виктор Иванович
  • Минаева Ольга Александровна
  • Мкртчян Альберт Карленович
  • Козинцев Михаил Сергеевич
  • Кожевников Виталий Викторович
SU1434274A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ СПЕКТРАЛЬНОЙ ПЛОТНОСТИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ЯРКОСТИ ИК-ИЗЛУЧЕНИЯ ТЕПЛОВЫХ ИСТОЧНИКОВ 1987
  • Виноградов Е.А.
  • Калинин А.В.
  • Саприцкий В.И.
SU1477053A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ГРАДУИРОВКИ ФОТОДИОДНЫХ ПРИЕМНИКОВ ПО АБСОЛЮТНОЙ МОЩНОСТИ ПОТОКА ИЗЛУЧЕНИЯ 2019
  • Ходунков Вячеслав Петрович
RU2727347C1

Иллюстрации к изобретению SU 1 123 357 A1

Реферат патента 1986 года Способ измерения температуры модели черного тела

СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ МОДЕЛИ ЧЕРНОГО ТЕПА, включающий визирование модели черного тела, выделение двух спектральных компонент излучения черного тела на длинах волн А, и 2 спектрального интервала 0,2-0,8 мкм, воспринимаемых приемником излучения, и измерение сигналов приемника излучения, пропорциональных интенсивностям спек-, тральных компонент, отличающий с я тем, что, с целью повышения точности, визируют источник синхротронного излучения, вьщеляют спектральные компоненты на тех же длинах волн ( и Л г измеряют сигналы приемника излучения, пропорциональные интенсивностям выделенных спектральных компонент, а температуру Т модели черного тела определяют по формуле Д.) Г5йг15(П Le4vr5uril7 l J . где С - вторая постоянная Планка; 5(Ti,),5(;)- сигналы приемника излучения при визировании модеi ли черного тела, соответСЯ ствующие спектральным компонентам на длинах волн А, и - соответственно; 5(Л,,5(Д,у- сигналы приемника излучения при визировании источника синхронного излучения, соответствующие спектральным компонентам на IvD длинах волн , и сооо со ел ответственно .

Формула изобретения SU 1 123 357 A1

/

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1986 года SU1123357A1

Финкельштейн В.Е
О возможности построения температурной шкалы абсолютным оптическим методом
- Измерительная техника, 1969, № 7, с.44
Гордов А.Н
Основы пирометрии
-М.:Металлургия, 1971, с.362

SU 1 123 357 A1

Авторы

Саприцкий В.И.

Мальцев В.В.

Столяревская Р.И.

Даты

1986-01-15Публикация

1983-06-30Подача