Способ дифракционного допускового контроля диаметров прозрачных диэлектрических волокон Советский патент 1987 года по МПК G01B11/08 

,-

I. 12

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного дифракционного доггускового контроля диаметра диэлектрических цилиндрических объек- тов, например оптических волокон.

Цель изобретения - повышение точности контроля за счет устранения неоднозначности контроля, обусловленной интерференцией дифрагировавших и прошедших сквозь волокно (рефра- гированных) лучей, которая имеет место при дифракции на прозрачных диэлектрических волокнах.

На чертеже представлена принципиальная схема устройства для реализации способа дифракционного допускрво го контроля диа:Метров прозрачных диэлектрических волокон.

Устройство содержит когерентный источник 1 излучения, коллимационную систему 2, рамку (не показана) с непрозрачными эталонными волокнами 3, проекционную систему 4, блок 5 регистрации и блок 6 обработки информации .

Способ контроля осуществляется следующим образом;

Располагают контролируемое прозрачное диэлектрическое волокно 7 вертикально (что обусловлено пространственной ориентацией вытяжной машины) , а непрозрачные волокна 3 - под углами J 60 к нему так,чтобы проекция их пересечения находи- лась в центре облучающего пучка.Это обеспечивает создание трех дифракци- oHHbDc картин, расположенных под углами 60° друг к другу,которые не затеняют друг друга и не интерферируют между собой. I

Два непрозрачных эталонных волокна 3 выбирают таким образом, что поле допуска, сформированное положения ми минимум дифракционных картин от них,.определяет максимальный и минимальный размер контролируемого диэлектрического волокна. Использование двух эталонных волокон 3 позво- ляет получить дифракционные картины, не paзмыtыe за счет интерференции дифрагировавших и рефрагировавших лучей, которая имеет место на диэлектрических оптических волокнах. Излу- чение от когерентного монохрод ати- ческого источника 1 излучения поступает на коллимационную систему 2, формирующую равномерное распределе

t5

20

25

- 5

-

-35я- 45 - 50 , к-30

нив интенсивности в поперечном сечении облучающего пучка. Затем пучок направляется на рамку с эталонными волокнами 3 и на контролируемое диэлектрическое прозрачное волокно 7. Пучок дифрагирует на волокнах 3 и 7, расположенных под углами 60 друг к другу и попадает в проекционную систему 4, обеспечивающую формирование дифракционных картин в центральном секторе дальней зоны плоскости анализа и увеличение их масштаба. Дифракционные картины от двух эталонных волокон 3 формируют поле допуска, определяющее минимальный и максимальный допустимые диаметры контролируемого волокна 7, и регистрируются в блоке 5 регистрации, сигнал с которого поступает в блок 6 обработки информации, в котором устанавливают наличие попадания минимума дифрационной картины диэлектрического волокна 7 в заданное поле допуска, сформированное эталонными волокнами 3. В случае ухода величины минимума дифракционной картины из поля допуска делается вывод о несоответствии диаметра диэлектрического волокна 7 допустимому зна чению и необходима регулировка технологического процесса вытяжки оптического волокна.

Формула изобретения

Способ Дифракционного допускового контроля диаметров прозрачных диэлектрических волокон, заключающийся в том, что облучают контролируемое и непрозрачное эталонное волокна световьм пучком с равномерным распределением интенсивности по его поперечному сечению, регистрируют в дальней зоне дифракционные картины от контролируемого и эталоннсзго волокон соответственно и сравнивают их, отличающи и с я тем, что, с целью повьщ1ения точности контроля, устанавливают в облучающий пучок второе непрозрачное эталонное волокно так, что эталонные и контролируемое волокна перекрещены под углом 60 друг относительно друга, а точка пересечения их проекций находится в центре облучающего пучка, регистрируют в дальней зоне дифракционную картину от второго эталонного волокна, определяют положение ми- нимума дифракционной картины контро t28 i л ;

jin))yi M(ii I) Bo.noKua и irn гг; псиада- ньк волокон, устанавливают с.оответ- нию в ио.п(. допуска, гформированного ствие контролируемого диаметра до- дифракционными картинами от эталон- пустимому значению.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для бесконтактного дифракционного допускового контроля диаметра диэлектрических оптических волокон. Цель изобретения - повышение точности контроля за счет устранения неоднозначности контроля, обусловленной интерференцией дифрагировавших и прошедших сквозь волокно лучей, которая имеет место при дифракции на прозрачных диэлектрических волокнах. Излучение от когерентного монохроматического источника 1 излучения поступает на коллимационную систему 2, формирующую равномерное распределение интенсивности в поперечном сечении облучающего пучка. Затем пучок направляется на рамку с эталонными волокнами 3 и на контролируемое диэлектрическое прозрачное волокно 7. Пучок дифрагирует на волокнах 3, 7, расположенных под углами Jf 60° друг к другу и попадает в проекционную систему 4, обеспечивающую формирование дифракционных картин в центральном секторе дальней зоны плоскости анализа и увеличение их масштаба. Дифракционные картины от двух эталонных волокон 3 формируют поле допуска и регистрируются в блоке 5 регистрации, сигнал с которого поступает в блок 6 обработки информации, в котором устанавливают наличие попадания минимума дифракционной картины диэлектрического волокна 1 в заданное поле допуска, сформированное эталонными волокнами 3. 1 ил. (Л 1C bo ел со