Известны устройства для измерения статических параметров электронных ламп методом переменных приращений с использованием электронного стабилизатора. Основной недостаток извеет)ых устройств состоит в том, что они не обладают достаточной точностью измерений, не имеют непосредственного отсчета показан1П1 и не позволяют непосредсгвенио измерять крутизну характеристики лампы.
В описываемом устройстве эти недостатки устранены тем, что испытуемая лампа при измерениях внутреннего сопротивления (. ) н коэффициента усиления ( 1 ) включается последовательно с электронным стабилизатором, и тем, что при измерении крутизны характерпст1п и лампы (S) сопротивление нагрузки испытуемой лампы включено в анодную цепь регулирующей лампы электронного стабилизатора, а испытуемая лампа включена параллельно выходу электронного стабилизатора.
На фиг. 1 показана скелетная схема устройства при измерении коэффициента усиления ( II ).
Анодный ток испытуемой лампы 1 стабилизируется стабилизатором тока 2. На сетку лампы / подается переменное напряжение с генератора 5. Изменение потенциала сетки равносильно изменению статического сопротивления лампы 1, но так как ток поддерживается постоянным, то изменяется падение напряжения на участке анод-катод испытуемой лампы 1. С анода лампы 1 снимается напряжение, пропорциональное коэффициенту усиления i-L. Показания фиксируются прибором 4. Шкала- прямоотсечная и линейная.
На фиг. 2 показана скелетная схема устройства при измерении внутреннего сопротивления R-,.
На сетке лампы / поддерживается постоянное напряжение. На анод лампы 1 подаются стабилизированные по амплитуде переменные приращения анодного тока (/„ ) от генератора и стабилизатора переменног-.)
№ 128901-2, ,„-. f-- -
тока сопротивление RI будет при этом пропорционально изменению анодного напряжения (и„-.). f . гд г-коэффициент пропорциональности, равный
...«i.
Л , i
итсчет йнутреннегр сопротивления осуществляется непосредственно
но прибору г. Для измерения ламп с различным анодным током в устрой стве возможна калибровка (не показано на схеме), при которой измеряется известное эталонное сопротивление, включаемое вместо испытуе мой лампы.
На фиг. 3 показана скелетная схема устройства при измерении кру т)зны характеристики ламны.
Крутизна характеристики (S) определяется отношением приращений анодного тока (Л/д ) и напряжения на сетке лампы (Л6,, ) при постоянном анодном напряжении.
При и„ const крутизна характеристики пропорциональна А/д. В описываемом устройстве измеряется переменное напряжение L/a - , которое выделяет переменный ток на сопротивлении нагрузки испытуемой лампы.
Т / D. /- а - . с а
и а - 1 а f а w- , о
при y --const и L,,const крутизна пропорциональна U . Анодное напряжение испытуемой лампы / стабилизируется стабилизатором 2. На сетку лампы подается напряжение с генератора 3. Измепение потенциала сетки равносильно изменению статического сопротивления лампы /, но так как напрял ение участка анод-катод постоянно, а сопротивление на этом участке меняется, то меняется ток. Эти изменения тока создают на сопротивлении 4 переменное напряжение, которое измеряется прибором 5, отградуированным в значениях крутизны.
П р е д .1 е т и 3 о б р е т с и и я
1.Устройство д.ля пз.мерения статических параметров электронных ламп методом переменных приращений с использованием электронного стабилизатора, отличающееся тем, что, с целью повышения точности измерений и получения непосредственного отсчета показаний, в нем испытуемая лампа, )1ри из.мерениях внутреннего сопротивления ( и коэффициента усиления ( J-), включена последовательно с улектронным стабилизатором.
2.Устройство по п. 1, о т л и ч а ю щ е е с я тем, что, с целью непосредственного измерения крутизны характеристики лампы (5), в нем сопротивление нагрузки испытуемой лампы включено в анодную цепь регулирующей лампы электронного стабилизатора, а нснытуемая .тампа вк,п1очена параллельно выходу электронного стабилизатора.
/ R-Ug-.
72 /
