1
Изобретение относится к технике электроизмерений и может быть использовано для измерения потенциалов поверхностей тонких диэлектрических пленок и фотополупроводниковых слоев о
Цель изобретения - повьшение точности путем параллельного соединения нуль-индикатора с входными электродами.
На чертеже представлена электрическая схема устройства.
Устройство для измерения потенциала поверхности электрета содер1290208 2
метром 5, разность потенциалов между электродами 1 и 2 компенсируется до тех пор, пока суммарная разность потенциалов между указанными электро- 5 дами не станет равной нулю, т.е. поле заряда электрета, создающее разность потенциалов на электродах 1 и 2, равно и противоположно по знаку полю, создающему разность потенциалов на электродах 1 и 2 за счет воздействия источника 6, В этом случае напряжение источника.6 равно потенциалу поверхности электрета, а осциллограф нуль-индикатора 3 пока10
жит первый 1 и второй 2 входные элек- - зывает нулевое значение разности потроды, первый из которых соединен с общей шиной, электрометрический нуль-индикатор 3, вход которого подключен к второму входному электроду
2и через резистор 4 - к вольтметру 5 и первому выводу регулируемого источника постоянного напряжения 6, второй вывод которого соединен с общей шиной. Электрометрический нуль- индикатор 3 может состоять из динамического конденсаторного преобразователя постоянной разности потенциалов в переменное напряжение, к выходу которого подключен осциллограф.
Электроды 1, 2, резистор 4 и источник 6 помещены в экран 7.
Устройство для измерения потенциала поверхности электрета работает следующим образом.
Между электродами 1, 2 зажимается образец электрета. Разность потенциалов между этими электродами, равная потенциалу поверхности электрета,преобразуется динамическим конденсаторным преобразователем нуль-индикатора
3в переменное напряжение, которое фиксируется осциллографом нуль-индикатора 3. При помощи регулируемого источника постоянного напряжения 6, напряжение которого измеряется вольтСоставитель А.Пучковский Редактор Н.Горват Техред А.Кравчук Корректор Н.Король
Заказ 7895/41 Тираж 751Подписное
ВНИИПИ Государственного комитета СССР
по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5
Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, 4
90208 2
метром 5, разность потенциалов между электродами 1 и 2 компенсируется до тех пор, пока суммарная разность потенциалов между указанными электро- 5 дами не станет равной нулю, т.е. поле заряда электрета, создающее разность потенциалов на электродах 1 и 2, равно и противоположно по знаку полю, создающему разность потенциалов на электродах 1 и 2 за счет воздействия источника 6, В этом случае напряжение источника.6 равно потенциалу поверхности электрета, а осциллограф нуль-индикатора 3 пока10
- - зывает нулевое значение разности по
тенциалов между электродами 1 и 2.
Предлагаемое устройство обеспечивает повышение точности измерений в три раза, так как функции закрепления образца и преобразования разности потенциалов в переменное напряжение разделены между электродами 1 .и 2 и конденсаторным динамическим пре- образователем нуль-индикатора. Экран 7 обеспечивает повышение помехоустойчивости.
Формула изобретения
Устройство для измерения потенциала поверхности электрета, содержащее электрометрический нуль-индикатор, входной электрод, соединенный с общей шиной, вольтметр и регулируемый источник постоянного напряжения, подключенный параллельно вольтметру, один из выводов которого соединен с общей шиной, отличающееся тем, что, с целью повышения точности, в него дополнительно введены второй входной электрод и резистор, при этом вход электрометрического нуль-индикатора подключен к второму входному электроду и через резистор - к выводу регулируемого источника постоянного напряжения.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОЧНОСТИ ТВЕРДЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ | 1993 |
|
RU2086995C1 |
БЕСКОНТАКТНЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛОВ ЗАРЯЖЕННОЙ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2002 |
|
RU2223511C1 |
Способ определения ионной электропроводности | 1986 |
|
SU1420504A1 |
В П Т Б | 1973 |
|
SU397833A1 |
Устройство для измерения работы выхода электронов | 1988 |
|
SU1635111A1 |
Радиационный измеритель толщины | 1989 |
|
SU1753265A1 |
Конденсаторный способ измерения контактной разности потенциалов Осепяна Р.И. и Кочарова Э.А. и устройство Осепяна Р.И. и Кочарова Э.А. для его осуществления | 1982 |
|
SU1157022A1 |
БЕСКОНТАКТНЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ТВЕРДЫХ И ЖИДКИХ ДИЭЛЕКТРИКОВ | 2002 |
|
RU2234075C2 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИЗМЕНЕНИЙ ПОВЕРХНОСТНОГО ПОТЕНЦИАЛА | 1999 |
|
RU2156983C1 |
Цифровой вольтметр-электрометр | 1979 |
|
SU834553A1 |
Изобретение может быть использовано для измерения, потенциалов поверхностей тонких диэлектрических пленок и фотополупроводниковых слоев. Цель изобретения - повьшение точности измерения достигается путем параллельного соединения нуль-индикатора со входными электродами. Для этого в устройство дополнительно введены второй входной электрод и резистор. Устройство содержит входные электроды 1 и 2, электрометрический нуль-индикатор 3, резистор 4, вольтметр 5, регулируемый источник 6 постоянного напряжения. Нуль- индикатор 3 состоит из динамического конденсаторного преобразователя постоянной разности потенциалов в переменное напряжение. Электроды 1 и 2, резистор 4 и источник 6 помещены в экран 7, обеспечивающий повьшение помехоустойчивости. 1 ил. (Л isa 00 L I -J/ LA. L Г
Устройство для измерения напряженности электрического поля | 1980 |
|
SU930162A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
Способ испытания газом целости свинцовой оболочки электрических кабелей | 1931 |
|
SU25209A1 |
Пластмассы и пленки полимерные | |||
Методы определения поверхностных зарядов электретов | |||
М., 1982, с | |||
Приспособление для точного наложения листов бумаги при снятии оттисков | 1922 |
|
SU6A1 |
Авторы
Даты
1987-02-15—Публикация
1985-06-03—Подача