Феррозондовый дефектоскоп Советский патент 1987 года по МПК G01N27/87 

Описание патента на изобретение SU1293623A1

Изобретение относится к неразрушающему контролю феррозондовым методом изделий из ферромагнитных материалов и может быть использовано для обнаружения дефектов во всех областях машиностроения.

Цель изобретения - повьшение точности и достоверности контроля за счет снижения количества ложных показаний путем селекции сигналов преобразователей по длительности.

На чертеже изображена блок-схема феррозондового дефектоскопа.

Феррозондовый дефектоскоп содержит последовательно соединенные генератор 1 тока возбуждения, ферро- зондовый преобразователь 2 (градиентометр) , селективный усилитель 3 (например, усилитель второй гармоники частоты тока возбуждения), ампл тудный детектор 4 (двухполупериодньш пороговьй блок 5, первый формирователь 6 импульсов (например, прямоугольных) , второй формирователь 7 импульсов, последовательно соединенные логический блок 8 и регистратор 9 дефектов, третий формирователь 10 импульсов. Формирователи 7 и 10 подключены своими входами в выходу формирователя 6, а выходами - к входам логического блока 8.

Первый формирователь 6 может быт вьтолнен, например, в виде одновиб- ратора с повторным запуском. Второй формирователь 7 может быть выполнен, например, в виде одновибратора с запуском переднего фронта импульса формирователя 6, а третий формирователь 10 - в виде одновибратора с запуском от заднего фронта импульса формирователя 6.

Логический блок 8 пропускает сигнал на вход регистратора 9 дефектов при одновременном поступлении сигналов на его входы. Регистратор 9 может быть выполнен, например, в виде расширителя импульсов и светового

табло. I

Феррозондовый дефектоскоп работа- ет следующим образом.

Электромагнит дефектоскопа (например, переменного тока) устанавливают на контролируемую поверхность (не показанр). Феррозондовьй преоб- раэователь 2 установлен между полюсами электромагнита и перемещается вместе с ним при сканировании поверхности. Включают генератор 1 то

5

0

5

0

0

5

0

5

ка возбуждения преобразователя 2 и источник питания электромагнита (не показан), Электромагнит перемещают по контролируемой поверхности.

При отсутствии дефектов на выходе преобразователя 2 напряжение отсутствует, так как измерительные обмотки его включены встречно (по схеме градиентометра).

При появлении дефекта под преобразователем 2 на вьсходе последнего появится напряжение, из которого селективным усилителем 3 будет выделена вторая гармоника тока возбуждения и подана на вход амплитудного детектора 4. Поскольку намагничивание выполняется переменным полем, то на выходе детектора 4 появятся один или несколько импульсов (в зависимости от скорости сканирования) , которые поступят на вход порогового блока 5. При превышении заданного уровня дискриминации (задается при настройке с помощью тест- образца) они поступят затем на вход формирователя 6, который сформирует прямоугольный импульс, поступающий на входы формирователей 7 и 10.

Длительность прямоугольного импульса формирователя 6 при поступлении на его вход одного короткого импульса задана несколько большей, чем половина периода тока намагничивания. Поскольку формирователь 6 - с повторньм запуском, то при поступлении на его вход .дв;ух или больше импульсов, время между приходом которых не меньше половины периода тока намагничивания, будет сформирован прямоугольный импульс, длительность которого равна интервалу времени между приходом на вход первого и последнего импульсов плюс длительность прямоугольного импульса от одиночного импульса на входе. Длительность импульса формирователя 10 невелика - до нескольких десятков микросекунд. А длительность импульса формирователя 7 сравнительно велика и задана исходя из времени прохождения датчика над дефектом, например, трещиной или порой.

При прохождении преобразователя 2 над дефектом длительность импульса формирователя 6 немного меньше, чем длительность импульса формирователя 7. Поэтому короткий импульс формирователя 10 поступит на вход логического блока 8 одновременно с поступлением на другой вход импульса формирователя 7. Следовательно, на выходе логического блока 8 появится напряжение и регистратор 9 отметит наличие дефекта.

При перемещении преобразователя 2 над ложным дефектом (например, структурной неоднородностью) на его выходе появится напряжение. Однако протяженность структурной неоднородности гораздо больше, чем ширина дефекта. Поэтому длительность прямоугольного импульса формирователя 6 будет гораздо больше, чем длительность импульса формирователя 7. Ко роткий импульс формирователя 10 поступит на вход логического блока после прохождения импульса формирователя 7. Логический блок 8 не пропустит сигнал. Регистратор 9 не сработает.

При отрыве полюсов электромагнита от контролируемой поверхности на выходе преобразователя 2 появится напряжение. Формирователем 6 будет

:сформирован прямоугольный импульс . длительность которого гораздо больше, чем длительность импульса форор А.Ревин 379/48

Составитель А.Бодров Техред В.Кадар

Корре Подпи

Тираж 777 ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открьггий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Производственно-полиграфическое предприятие, г. Ужгород, ул. Проектная, А

мирователя 7. Логический блок 8 не пропустит сигнал на регистратор 9. Феррозондовый дефектоскоп также работает и при намагничивании конт- 5 ролируемого изделия постоянным полем.

Такое выполнение феррозондового дефектоскопа позволяет вьшолнять селекцию сигналов феррозондового o преобразователя по амплитуде и длительности, что повьш1ает точность и достоверность контроля. Формула изобретения Фе1)розондовый дефектоскоп, содер- 5 жащий последовательно соединенные генератор, феррозондовый преобразо- ватель селективный усилитель, детектор и пороговый блок, первый формирователь импульсов и последова- 0, тельно соединенные логический блок и регистратор дефектов, о т л и - .чающийся тем, что, с целью повьш1ения точности и достоверности контроля, он снабжен вторым и 5 третьим формирователями импульсов, входы которых подключены к выходу первого формирователя, а выходы - к первому и второму входам логического блока.

Корректор А.Тяско Подписное

Похожие патенты SU1293623A1

название год авторы номер документа
Феррозондовый дефектоскоп 1985
  • Колыхалов Владимир Константинович
  • Симонов Николай Петрович
  • Хоруженко Сергей Николаевич
SU1283641A1
Феррозондовый дефектоскоп 1985
  • Колыхалов Владимир Константинович
SU1257507A1
Феррозондовый дефектоскоп 1986
  • Колыхалов Владимир Константинович
  • Симонов Николай Петрович
  • Хоруженко Сергей Николаевич
  • Гриценко Александр Сергеевич
SU1337755A1
Способ магнитной дефектоскопии 1987
  • Колыхалов Владимир Константинович
  • Симонов Николай Петрович
  • Хоруженко Сергей Николаевич
SU1569693A1
Феррозондовый дефектоскоп 1986
  • Колыхалов Владимир Константинович
  • Симонов Николай Петрович
  • Хоруженко Сергей Николаевич
SU1341570A1
Феррозондовый дефектоскоп 1982
  • Колыхалов Владимир Константинович
SU1035502A1
Феррозондовый дефектоскоп 1984
  • Домашевский Борис Наумович
  • Колыхалов Владимир Константинович
  • Трахтенберг Лев Исаакович
  • Шкатов Петр Николаевич
SU1508138A1
Феррозондовый дефектоскоп 1977
  • Колесников Виктор Иванович
  • Гаврилов Василий Васильевич
  • Скорик Борис Семенович
SU739387A1
Феррозондовый дефектоскоп 1977
  • Есин Николай Николаевич
  • Таранушич Анатолий Андреевич
  • Домашевский Борис Наумович
  • Зейтман Генрих Исаакович
SU603891A1
Феррозондовый дефектоскоп 1975
  • Колыхалов Владимир Константинович
  • Галаджян Ваган Ашотович
SU559165A1

Реферат патента 1987 года Феррозондовый дефектоскоп

Изобретение относится к средствам неразрушающего контроля,изделий и может быть использовано в различных отраслях машиностроения, в том числе в энергетическом машиностроении, для дефектоскопии сварных соединений котлоагрегатов. Цель изобретения - повьшение точности и достоверности контроля. Поставленная цель достигается тем, что при работе дефектоскопа как с постоянным, так и с переменным полем, созданным намагничивающим устройством с помощью первого формирователя 6 с повторным запуском, формируется прямоугольньй импульс, длительность которого сравнивается логическим блоком 8 с длительностью импульса, формируемого вторым формирователем 7. При этом на выходе блока 8 в случае ложного дефекта не появится напряжение и регистратор 9 не отметит наличие дефекта. 1 ил.

Формула изобретения SU 1 293 623 A1

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1987 года SU1293623A1

Электромагнитный дефектоскоп 1977
  • Князев Евгений Александрович
  • Сосницкая Татьяна Андреевна
SU637654A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1
Феррозондовый дефектоскоп 1978
  • Скорик Борис Семенович
  • Колыхалов Владимир Константинович
SU748228A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 293 623 A1

Авторы

Колыхалов Владимир Константинович

Симонов Николай Петрович

Хоруженко Сергей Николаевич

Даты

1987-02-28Публикация

1985-10-05Подача