Измеряют ток I при И, 0,
(I)
Изобретение относится к технике измерения электрических характеристик поляризованных диэлектриков, а именно к способам определения величины поверхностной плотности заряда 5 ток I, при небольшом (порядка неэлектретов .
Целью изобретения является повышение точности и повышение безопас- ности измерений.
Сущность способа измерения поверх- О ностной плотности заряда диэлектри 6L
-ееТ
скольких вольт)
V.. -gнапряжении Uj (2)
Сравнивая формулы 1 и 2, получим:
(%1У)§Е°.
проводят вибрационным методом в условиях частичной компенсации поля диэлектрика за счет приложения к измерительному конденсатору с диэлектри ком двух значений компенсирующего напряжения, по величине существенно меньших потенциала поверхности электрета. Измеряют ток в цепи конденсатора, а поверхностную плотность заряда определяют по измеренным значениям тока в условиях частичной компенсации
G iu iMeep.-Ii- L i,-i,
Сущность изобретения и вывод расчетной формулы поясняется чертежом. Буквами на чертеже обозначены:
G - поверхностная плотность заряда диэлектрика;
поверхностная плотность заряда, индуцированного на верхнем электроде;
и - постоянное напряжение, подаваемое на электроды с внешнего источника питания; I - ток во внешней цепи; L - толщина диэлектрика; Eg - величина напряженности ческого поля в зазоре; Е - величина напряженности электрического поля внутри образца; d - величина зазора электрод-электрет.
При возбуждении механических колебаний электрода в цепи потечет переменный Tok:
15
I, СэЬ
Поверхностная плотность заряда диэлектрика может быть рассчитана по формуле
. 1а
L.
I,-Ii
(3)
20
G
причем по этой формуле может определяться как величина поверхностной i плотности заряда, так и знак заряда. Измерение поверхностной плотности заряда по предлагаемому способу производится следующим образом.
Измеряемый образец помещают в изме рительную ячейку, состоящую из двух электродов, один из которых (вибрирующий) расположен на расстоянии d от поверхности электрета. Вибрация электрода осуществляется с помощью магнитоэлектрического вибратора. От внешнего источника питания на электроды подается небольшое постоянное 35 напряжение U, . В частном случае оно может равняться нулю. Измеряют ток
30
во внешней цепи I.
Затем на элек- Uo
dt
- if
где S - площадь электрода.
Значение тока в цепи прямо пропорционально приложенному напряжению:
.-|fcтроды подают напряжение и , равное нескольким вольтам, измеряют его с 0 помощью вольтметра и определяют ток электри- Ij. По формуле (3) рассчитывают поверхностную плотность заряда С .
Формула изобретения
45
Способ измерения поверхностной
плотности заряда диэлектрика, заключающийся в том, что возбуждают механические колебания электрода,
50 расположенного над закрепленной поверхностью диэлектрика, измеряют переменный ток в цепи электрода, прикладывают к электроду и измеряют напряжение компенсации, о т л и55 чающийся тем, что, с целью повьш1ения точности и повышения безопасности измерений, измеряют ток, индуцированный в цепи подвижного электрода при двух различных значеИзмеряют ток I при И, 0,
ток I, при небольшом (по
(I)
I, при небольшом (порядка
6L
-ееТ
ток I, при небольшом (порядка
скольких вольт)
V.. -gнапряжении Uj (2)
Сравнивая формулы 1 и 2, получим:
(%1У)§Е°.
I, СэЬ
Поверхностная плотность заряда диэлектрика может быть рассчитана по формуле
. 1а
L.
I,-Ii
(3)
20
причем по этой формуле может определяться как величина поверхностной i плотности заряда, так и знак заряда. Измерение поверхностной плотности заряда по предлагаемому способу производится следующим образом.
Измеряемый образец помещают в измрительную ячейку, состоящую из двух электродов, один из которых (вибрирующий) расположен на расстоянии d от поверхности электрета. Вибрация электрода осуществляется с помощью магнитоэлектрического вибратора. От внешнего источника питания на электроды подается небольшое постоянное 35 напряжение U, . В частном случае оно может равняться нулю. Измеряют ток
30
во внешней цепи I.
Затем на элек- Uo
троды подают напряжение и , равное нескольким вольтам, измеряют его с помощью вольтметра и определяют ток Ij. По формуле (3) рассчитывают поверхностную плотность заряда С .
3 13073954
шшх компенсирующего напряжения, произведение диэлектричесменыпих напряжений полной компенса-кой постоянной на диэлектриции, а поверхностнуто плотность за-ческую проницаемост1 диэлекряда определяют по формулетрика;
/тт тт ч т5 L толщина диэлектрика;
GlUi-U, со т
----- I, ,1 - значения индуцированных то ков соответственно при пергде б - поверхностная плотность за-вом и втором напряжении
ряда;компенсации.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
БЕСКОНТАКТНЫЙ СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛОВ ЗАРЯЖЕННОЙ ПОВЕРХНОСТИ ОБЪЕКТА И УСТРОЙСТВО ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2002 |
|
RU2223511C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ ЗАРЯДА ПЛОСКИХ ДИЭЛЕКТРИКОВ | 2004 |
|
RU2260811C1 |
Способ генерирования тока электретом и устройство для его осуществления | 1979 |
|
SU978329A1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ОСТАТОЧНОГО ЗАРЯЖЕНИЯ ПЛОСКИХ ДИЭЛЕКТРИКОВ | 2003 |
|
RU2231804C1 |
Электрод-инструмент | 1985 |
|
SU1304997A1 |
Способ измерения поверхностной плотности заряда электрета | 1987 |
|
SU1531031A1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ ПОЛНОГО ЗАРЯДА В ПЛОСКИХ ДИЭЛЕКТРИКАХ | 2005 |
|
RU2298199C1 |
УСТРОЙСТВО ИЗМЕРЕНИЯ ПОТЕНЦИАЛА ПОВЕРХНОСТИ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИХ ПОКРЫТИЙ | 2015 |
|
RU2601248C1 |
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ КОНДЕНСАТОРНОЙ СТРУКТУРЫ МЕМРИСТОРА, ХАРАКТЕРИЗУЮЩИХ ПРОЦЕСС ФОРМОВКИ | 2015 |
|
RU2585963C1 |
Способ определения параметров пограничных состояний на границе раздела полупроводник - диэлектрик | 1986 |
|
SU1429848A1 |
Изобретение относится к технике измерения электрических характеристик поляризованных диэлектриков. Цель изобретения - новьпиение точности и безопасности измерений. Пред ложенный способ заключается в следующем. Возбуждают механические колебания электрода, расноложеннох о над закреггленной поверхностью диэлектрика „ Измеряют ток, индуцирс) в и цепи подвижного электрода при двух различных значениях компенсирующего напряжения и меньших напряжений ионной компенсации. Поверхностную плотность заряда определяют по формуле, использующей в качестве переменных величин измеренные значения. Схема способа поясняется чертежом, где приведены следующие обозначения:С5 поверхностная плотность заряда диэлектрика; О - поверхностная плотность заряда, индуцированного на верхнем электроде; U - постоянное напряжение, подаваемое на электроды с внешнего источника питания; I - ток во внешней цепи; o(j - толщина диэлектрика; Eg и Е. - величины напряженности электрического поля соответственно в зазоре и внутри образца; d - величина зазора электрод-электрет. 1 ЦТ. (О сл со о Ьо г сл Измеритель - нь/й npuSop
Авторы
Даты
1987-04-30—Публикация
1985-02-20—Подача