СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ ПОЛНОГО ЗАРЯДА В ПЛОСКИХ ДИЭЛЕКТРИКАХ Российский патент 2007 года по МПК G01R29/24 

Описание патента на изобретение RU2298199C1

Способ относится к электротехническим измерениям, предназначен для измерения параметров остаточного заряжения плоских диэлектриков, а именно поверхностной плотности полного (реального) заряда, поверхностных плотностей эффективных (формальных) зарядов, а также среднего положения (центра распределения) распределенного в плоском диэлектрике заряда.

Способ основан на индуцировании переменного тока в цепи вибрационного конденсатора с заряженным образцом в его зазоре. Физические основы индукционных измерений параметров остаточного заряжения диэлектрических материалов изложены в (Алейников А.Н., Алейников Н.М. Индукционные методы определения параметров остаточного заряжения диэлектрических материалов, "Материаловедение". - М.: Наука и технологии, №3, с.26-33, 2002). Наиболее распространенными индукционными способами являются компенсационные. В компенсационном способе (А.с. SU №1352411, МПК G 01 R 29/12, 1987) исследуемый плоский диэлектрик помещают в зазор вибрационного плоского конденсатора параллельно его обкладкам и, регулируя постоянное напряжение на конденсаторе, добиваются полного исчезновения тока в цепи конденсатора. Затем перемещают образец в другое положение и снова добиваются нулевого тока конденсатора, регулируя напряжение на конденсаторе. Величину поверхностной плотности заряда вычисляют по формуле

где U1 и U2 напряжения компенсации, при которых амплитуды токов конденсатора I1 и I2 обращаются в нуль, Δl - величина перемещения образца из первого положения во второе. Основной недостаток компенсационных измерений определяется необходимостью применения высоких электрических компенсационных напряжений, разрушающих исследуемые электретные состояния.

Наиболее близким к заявленному способу является способ частичной компенсации (А.с. SU №1471152, МПК G 01 R 29/12, 1989) (прототип). В этом способе так же, как и в компенсационном способе, перемещают образец из одного положения в другое и регулируют постоянное напряжение на конденсаторе. Но добиваются не полного исчезновения тока конденсатора, а только равенства токов для обоих положений образца в зазоре конденсатора. Величину σr вычисляют по формуле, аналогичной (1).

По сравнению с компенсационными способами в способе-прототипе применяются значительно меньшие напряжения на конденсаторе, не разрушающие исследуемое электретное состояние, что делает этот способ более точным. Недостатком данного способа является необходимость измерения и регулирования напряжения на конденсаторе вплоть до момента выравнивания токов для различных положений образца в зазоре конденсатора. Это делает способ малотехнологичным и ограничивает возможность автоматизации измерений при массовых или длительных измерениях.

Задача, решаемая данным изобретением, - повышение технологичности и расширение функциональных возможностей способа измерения параметров остаточного заряжения диэлектрических материалов.

Технический результат заключается в упрощении процесса измерения исключением регулирования и систематического измерения напряжения на конденсаторе.

Технический результат достигается тем, что в известном способе измерения поверхностной плотности полного заряда в плоских диэлектриках, основанном на индуцировании и измерении переменного тока в цепи вибрационного конденсатора с заряженным образцом в его зазоре, включающем помещение образца в первое положение в зазор конденсатора параллельно его обкладкам и перемещение образца в направлении нормали к его поверхности во второе положение, согласно предлагаемому изобретению измеряют токи конденсатора для обоих положений образца при нулевом напряжении на конденсаторе, а также измеряют ток конденсатора в одном из положений образца, например первом, при известном постоянном напряжении на конденсаторе, а искомую величину плотности заряда вычисляют по формуле

где ε0=8,85·10-14 Ф/см - электрическая постоянная, Δl - величина перемещения образца из первого положения образца во второе, U - известное постоянное напряжение, I10 и I20 - сила тока конденсатора для первого и второго положений образца при нулевом напряжении на конденсаторе, I1U - сила тока конденсатора для первого положения образца при напряжении U на конденсаторе.

Рассмотрим суть предлагаемого изобретения. На чертеже приведена принципиальная схема, реализующая данный способ. Обкладками измерительного плоского вибрационного конденсатора являются неподвижный 1 и вибрационный 2 электроды. Между плоским образцом 3 толщиной L и электродом 1 образуется воздушный зазор, величина 1 которого может изменяться, например, при помощи микрометрического устройства (на чертеже не показано). От источника 4 при помощи переключателя 5 на обкладки 1 и 2 может подаваться нулевое или известное отличное от нуля постоянное напряжение U. Механические гармонические колебания электрода 2 возбуждаются вибратором 6. Возникающий в цепи конденсатора ток преобразуется усилителем 7 в напряжение, регистрируемое, например, осциллографом 8. Амплитуда переменного тока будет

где А - постоянная величина, зависящая от частоты и амплитуды вибрации, площади обкладок и межэлектродного расстояния вибрационного конденсатора, толщины и диэлектрической проницаемости образца, σr - поверхностная плотность полного (реального) заряда, σL - поверхностная плотность эффективного (формального) заряда.

Обозначим амплитуду тока в первом положении образца при нулевом напряжении на конденсаторе I10, амплитуду тока во втором положении образца при нулевом напряжении на конденсаторе I20 и амплитуду тока в первом положении образца при напряжении U на конденсаторе I1U. Тогда в соответствии с (3) получим:

I10=А(εl1σr+LσL), I20=A(εl2σr+LσL), I1U=A(εl1σr+LσL0εU).

Решая систему из трех последних уравнений, получим формулу (2) для вычисления σr. Из (2) следует, что для определения σr необходимо измерить амплитуды токов I10 и I1U в одном положении образца при нулевом напряжении и известном напряжении U на конденсаторе, переместить образец на величину Δl и в этом положении образца измерить ток I20 при нулевом напряжении на конденсаторе.

В качестве примера сравним возможности компенсационного способа, способа частичной компенсации и заявленного способа. Пусть у плоского образца толщиной L=0,4 см и диэлектрической проницаемостью ε=4 поверхностная плотность полного заряда составляет σr=10-10 Кл/см 2. Величины зазоров l1 и l2 составляют: l1=0,1 см, l2=0,2 см. Для упрощения расчетов предположим, что весь заряд локализован на поверхности образца, обращенной к вибрационному электроду 2, т.е. поверхностная плотность полного (реального) заряда σr равна поверхностной плотности эффективного (формального) заряда σL.

При измерениях компенсационным способом при l=l2 потребуется напряжение компенсации:

При измерениях способом частичной компенсации напряжение составит

При измерениях предлагаемым способом точность в определении искомой величины σr будет определяться не только точностью измерения токов I10, I20, I1U, но и относительной величиной I1U/I10, которая в знаменателе конечной формулы (2) для вычисления σr сравнивается с единицей. В частности, при малых значениях напряжения, когда U→0, величина I1U/I10→1 и вычисления σr приводят к бесконечно большому значению. Поэтому напряжение U должно быть достаточным, чтобы величина I1U/I10 заметно отличалась от единицы. Оценим величину I1U/I10 для рассматриваемого примера при напряжении U=40 В.

Полученный результат показывает, что для определения σr заявленным способом используемое напряжение (40 В) может быть значительно ниже не только напряжения, требуемого при компенсационных измерениях (340 В), но и напряжения, необходимого при измерениях способом частичной компенсации (113 В). При этом относительная величина I1U/I10≈0,82 достаточно отличима от единицы и на точность измерений существенного влияния не оказывает.

Достоинством заявленного способа по сравнению со способом-прототипом является также возможность по полученным результатам измерений определить среднее положение распределенного в диэлектрике заряда

Методика определения рассмотрена в первом аналоге и [1], [2]. Кроме того, зная σr и можно определить и другие параметры остаточного заряжения, а именно поверхностные плотности σL и σ0 приведенных к обеим поверхностям плоского образца эффективных (формальных) зарядов:

Необходимо отметить, что возможны случаи, когда при перемещении образца из положения l1 в положение l2 или при изменении напряжения от нулевого до известного напряжения U начальная фаза колебаний тока конденсатора изменится на противоположную. В таких случаях, как показано в первом аналоге и [2] при вычислении σr и величины I20/I10 или I1U/I10 нужно брать отрицательными.

Использованные источники информации:

1. А.с. SU №1688199, МПК G01R 29/12, 1991.

2. Патент RU №2231804, МПК G01R 29/12, 2004.

Похожие патенты RU2298199C1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ОСТАТОЧНОГО ЗАРЯЖЕНИЯ ПЛОСКИХ ДИЭЛЕКТРИКОВ 2003
  • Алейников Н.М.
  • Алейников А.Н.
RU2231804C1
СПОСОБ НАБЛЮДЕНИЯ ИЗМЕНЕНИЙ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ ЗАРЯДА И ЕГО СРЕДНЕГО ПОЛОЖЕНИЯ В ПЛОСКИХ ДИЭЛЕКТРИКАХ 2004
  • Алейников Николай Михайлович
  • Алейников Алексей Николаевич
  • Попова Ирина Сергеевна
RU2287835C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ ЗАРЯДА ПЛОСКИХ ДИЭЛЕКТРИКОВ 2004
  • Алейников Н.М.
  • Алейников А.Н.
  • Агошкин В.В.
  • Щербаков А.В.
RU2260811C1
Способ определения плотности заряда в диэлектриках 1987
  • Алейников Николай Михайлович
SU1471152A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ГЕТЕРОГЕННОСТИ ПОВЕРХНОСТИ ПОЛУПРОВОДНИКОВ 2004
  • Алейников Н.М.
  • Алейников А.Н.
  • Алейников Г.Д.
RU2266588C1
Устройство для измерения электрического потенциала заряженной поверхности 1990
  • Алейников Николай Михайлович
  • Алейников Алексей Николаевич
SU1798736A1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ИЗМЕНЕНИЙ ПОВЕРХНОСТНОГО ПОТЕНЦИАЛА 1999
  • Алейников Н.М.
  • Алейников А.Н.
RU2156983C1
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПРОНИЦАЕМОСТИ ЖИДКИХ И ПЛОСКИХ ТВЕРДЫХ ДИЭЛЕКТРИКОВ 2006
  • Алейников Николай Михайлович
  • Алейников Алексей Николаевич
RU2303787C1
Способ определения среднего положения остаточного заряда диэлектриков 1989
  • Алейников Николай Михайлович
SU1688199A1
Способ определения плотности заряда в плоских диэлектриках 1986
  • Алейников Николай Михайлович
SU1352411A1

Реферат патента 2007 года СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ ПОЛНОГО ЗАРЯДА В ПЛОСКИХ ДИЭЛЕКТРИКАХ

Способ основан на индуцировании и измерении переменного тока в цепи вибрационного конденсатора с заряженным образцом в его зазоре. Образец помещают в первое положение в зазор конденсатора параллельно его обкладкам. Перемещают образец в направлении нормали к его поверхности во второе положение. Измеряют токи конденсатора для обоих положений образца при нулевом напряжении на конденсаторе, а также измеряют ток конденсатора в одном из положений образца, например первом, при известном постоянном напряжении на конденсаторе и величину плотности заряда вычисляют по формуле. Способ позволяет упростить процесс измерения за счет исключения регулирования и систематического измерения напряжения на конденсаторе. 1 ил.

Формула изобретения RU 2 298 199 C1

Способ измерения поверхностной плотности полного заряда в плоских диэлектриках, основанный на индуцировании и измерении переменного тока в цепи вибрационного конденсатора с заряженным образцом в его зазоре, включающий помещение образца в первое положение в зазор конденсатора параллельно его обкладкам и перемещение образца в направлении нормали к его поверхности во второе положение, отличающийся тем, что измеряют токи конденсатора для обоих положений образца при нулевом напряжении на конденсаторе, а также измеряют ток конденсатора в одном из положений образца, например первом, при известном постоянном напряжении на конденсаторе, а искомую величину плотности заряда вычисляют по формуле

где ε0=8,85·10-12 Ф/м - электрическая постоянная;

Δl - величина перемещения образца из первого положения образца во второе;

U - известное постоянное напряжение;

I10 и I20 - сила тока конденсатора для первого и второго положений образца при нулевом напряжении на конденсаторе;

I1U - сила тока конденсатора для первого положения образца при напряжении U на конденсаторе.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 2007 года RU2298199C1

Способ определения плотности заряда в диэлектриках 1987
  • Алейников Николай Михайлович
SU1471152A1
Способ определения плотности заряда в плоских диэлектриках 1986
  • Алейников Николай Михайлович
SU1352411A1
Способ измерения поверхностной плотности заряда диэлектрика 1985
  • Сезонов Юрий Иванович
  • Степанов Александр Петрович
  • Батурин Евгений Львович
SU1307395A1
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОВЕРХНОСТНОЙ ПЛОТНОСТИ ЗАРЯДА ПЛОСКИХ ДИЭЛЕКТРИКОВ 2004
  • Алейников Н.М.
  • Алейников А.Н.
  • Агошкин В.В.
  • Щербаков А.В.
RU2260811C1
JP 8152449 A, 11.06.1996.

RU 2 298 199 C1

Авторы

Алейников Николай Михайлович

Алейников Алексей Николаевич

Даты

2007-04-27Публикация

2005-12-12Подача