Способ электронномикроскопического анализа намагниченности магнитной ленты Советский патент 1987 года по МПК H01J37/26 

1

Изобретение относится к электронной микроскопии и может быть использовано для исследования магнитных полей на магнитных лентах.

Целью изобретения является расширение функциональных возможностей способа за счет визуализации изображения магнитной сигналограммы, записанной на магнитной ленте.

На чертеже показана схема расположения образца магнитной ленты в просвечивающем электронном микроскопе.

Способ осуществляется следующим

образом.

Магнитную ленту с сигналограммой

перегибают по строчке записи и помещают в дифракционную или объективну камеру просвечивающего электронного микроскопа. Электронный пучок 1 проходит в электронном микроскопе 2 перпендикулярно краю перегиба, т.е. по касательной к рабочей поверхност образца намагниченной магнитной ленты 3 в месте его перегиба. Часть электронного пучка 1, попадая на экран 1 изображения, пересекает силовые линии поля рассеяния сигналогра мы, которое отклоняет электроны от первоначального направления. В результате на экране 4 формируется электронное изображение края перегиба образца, магнитной ленты 3, деформированное в результате взаумоде ствия электронов с магнитным полем сигналограммы.

Пример. Способ реализован при использовании объективной камеры

Редактор А.Гулько

Составитель В.Гаврюшин

Техред В.Кадар Корректор MiШapoши

Заказ 1637/50 Тираж 699 . Подписное

ВНИИПИ Государственного комитета СССР по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб,, д.4/5

Производственно-полиграфическое, предприятие, г.Ужгород, ул.Проектная,4

0

5

просвечивающего электронного микроскопа. Магнитную ленту с сигналограммой перегибали по строке записи и устанавливали в предварительно вырезанную щель шириной 0,2 мм до половины диаметра патрончика. Щель по высоте патрончика выбирается так, чтобы образец магнитной ленты находился вне магнитного поля объективной линзы. Для прибора ЭМБ-100 Б эта высота составляет, например, 19 мм.

Реализация больших увеличений в этом случае достигается за счет того, что в формировании изображения участвуют все линзы микроскопа - объективная, проекционная и промежуточная.

Формула изобрет. ения

Способ электронномикроскопическо- го анализа намагниченности магнитной ленты, включающий приготовление и установку образца магнитной ленты в электронном микроскопе вне магнитного поля электронных, линз и регистрацию величины отклонения электронного пуЧка, по которой судят об уровне намагниченности участков магнитной ленты, отличающийся тем, что, с целью расширения функциональных возможностей за счет визуализации изображения магнитной сигналограммы, образец магнитной ленты перегибают по строке записи, а при установке образца линию перегиба

ориентируют перпендикулярно электрон- нооптической оси при затенении краем образца поперечного сечения электронного пучка.

Изобретение относится к области электронной микроскопии и может быть использовано для исследования магнитных полей на магнитных лентах.Цель - расширение функциональных возможностей способа электронно-микроскопического анализа намагниченности магнитной ленты за счет визуализации изображения магнитной сигналограммы, записанной на магнитной ленте. Способ пояснен чертежом. Для достижения цели перегибают образец магнитной ленты 3 по строке записи, а электронный пучок (ЭП) 1 проходит в электронном микроскопе 2 перпендикулярно краю перегиба, при этом часть ЭП 1, попадая на экран 4 изображения, пересекает силовые линии поля рассеяния сигналограммы, которое отклоняет электроны от первоначального направления, и на экране.4 формируется электронное изображение края перегиба магнитной ленты 3, деформированное в результ а- те взаимодействия электронов с магнитным полем сигналограммы. 1 ил. с (Л со со