Устройство для оценки качества поверхности Советский патент 1960 года по МПК G01B11/30 G01D5/34 G01B7/34 

Описание патента на изобретение SU131897A1

Известные устройства для оценки качества 110(ерхности (шероховатости) по ее отражательной способности содержат общий осветитель и схему моста с включенным в одно из его плеч фотоэлектрическим индикатором и с источником противоэлектродвижущей силы. Эти устройства не обладают достаточно высокой чувствительностью.

В предлагае.мом устройстве, с целью повышения его чувствительности, в качестве индикатора применено фотосопротивление с внутj)eHHHM фотоэффектом.

На чертеже изображена нринциниальная схема описываемого j/crройства.

Устройство предназначено преи.мущественно для оценки качества поверхности дюралевых листов носле их пескоструйной отбивки.

Оценка качества иоверхности (шероховатости) этим устройством нронзБОдится по способности испытуемых объектов рассеяват:, падаюuyie на них потоки света. Источником падающего света служит ламиа на 6 G мощностью в 20 вт. Свет лампы направляется на исггытуемый объект иод утлом 45°.

В качестве индикатора интенсивности светового потока, отбрасываемого испытуемым объектом, нрименено фотосопротивлепие ФСК- с внутренним фотоэффектом. Фотосоиротивленис ФСК-1 размещается на пути . от1)аженного от испытуемого объекта под углом к лучу также 45°.

В качестве измерителя в с.хеме ие11ользован мик1)оамие|)мет|) со плкалой 150 мка. Величина напряжения ФСК-1 коптролируется во.чьтметром на 100 в.

Иитание как самой цени фотосопротив;1ения, так и к)миенсиру1ощей ветви обесиечивается силовым т)ансформатором мощн( оО / и дв х :о;|у 1ерис)дпым выпрямителем.

В цепь введены ,сопрсл,ивления RI, RZ,

16 KOJ4, Rs-lQ ком, ом, R,, у и /)„ -1 кол, /., I ком. а также конденсатор С МКостью 10 к.ф (на 450 в).

УетррйстБо граду)-фуётся на основе показаний микроамперметра or устаноБлёниогЧЭ-лучшего образца средней шероховатости. Рег пгруя R-:,, RQ, RIO и , шжн.о установить стрелку микроамперметра на середине шкилы. 3|1те.мустройство устанавливается своим основанием, в котором имеется соответствующее отверстие, на испытуемый объект. По отклонению стрелки микроамперметра в ту или иную сторону на определенное количество делений судят о качестве поверхности испытуемого объекта.

Регулируя 6, можно подать на ФСК.-1 такое напряжение, при KCJтором показания микроамперметра будут укладываться в шкалу.

Г р е д м е т н з о б р е т е п и я

Устройство для оценки качества поверхности (шероховатости) по ее отражательной способности, содержащее общий осветитель и схему моета с включенным в одно пз его плеч фотоэлектрическим индикатором и с источником противоэлектродвижущей силы, отличающееся тем, что, с целью повышения чувствительности устройства, применено в кячестве индикатора фотосопротивление с внутренним фотоэффектом.

и R, --110 К.ОМ.

Похожие патенты SU131897A1

название год авторы номер документа
Искробезопасный, универсальный переносный прибор с фотоэлектрической системой для измерений концентраций угольной пыли в шахтах 1956
  • Бакич М.М.
  • Биренберг И.Э.
  • Маликов В.Т.
  • Перепилица В.К.
SU109801A1
Фотоэлектрический прибор для определения степени блеска 1960
  • Блоштейн И.И.
  • Якубович С.В.
SU137285A1
УСТРОЙСТВО для СЕДИМЕНТОЛ1ЕТРИЧЕСКОГО АНАЛИЗА 1964
  • Г. С. Ходаков Л. И. Эдельман
SU163417A1
Фотоэлектрическое устройство для контролирования степени насыщенности краски печатных оттисков 1958
  • Бельский В.П.
  • Верим А.Ф.
  • Гринберг Л.С.
  • Обновленский П.А.
  • Цыркин М.З.
SU120021A1
Фотоэлектрический коррелятор 1983
  • Лукашенок Анатолий Бертусович
  • Ушаков Михаил Васильевич
SU1092524A1
Устройство для автоматического счета форменных элементов крови 1959
  • Борисова О.И.
  • Капитанов Р.А.
  • Флорианович Н.М.
SU130924A1
ПОВОРОТНАЯ УСТАНОВКА 1968
  • В. Д. Бов, М. В. Антонова, Н. Е. Никитин, В. Г. Ефремов,
  • В. А. Сников, С. В. Коротков, В. П. Максимов, А. Е. Синельников, В. А. Юдин, Б. Э. Блантер А. М. Власов
SU231181A1
Фотоэлектрический метод регистра горизонтальных движений 1961
  • Владимиров А.Д.
SU141256A1
Устройство для определения класса шероховатости полированных металлических поверхностей изделия 1978
  • Мгеладзе Владимир Фомич
  • Козырев Александр Алексеевич
  • Лавров Игорь Вениаминович
  • Луценко Эдуард Львович
  • Петров Игорь Петрович
SU769323A1
Низкочастотный фотоэлектрический коррелятор 1974
  • Лукашенок Анатолий Бертусович
  • Васюхно Федор Иванович
  • Тюнин Николай Николаевич
SU492892A1

Иллюстрации к изобретению SU 131 897 A1

Реферат патента 1960 года Устройство для оценки качества поверхности

Формула изобретения SU 131 897 A1

SU 131 897 A1

Авторы

Бездетный Н.М.

Мирзоев Б.Р.

Даты

1960-01-01Публикация

1959-05-22Подача