Способ определения углов поворота зеркальной поверхности Советский патент 1987 года по МПК G01B11/16 

1133

Изобретение относится к определению деформации в деталях и .узлах конструкций оптическими методами.

Цель изобретения повьшение точ- нести определения углов поворота за счет смещений муаровых полос в заданную точку исследуемой поверхности.

На фиг. 1 изображена схема устройства для осуществления предлагаемого способа; на фиг. 2 - схема хода лучей при смещении муаровых полос.

Устройство содержит экран 1 с растром, фотоаппарат 2, размещенный за

Фотографирование полученной картины муара производят обычным образом

отверстием в центре экрана 1, узел 3 15 ем же фотоаппаратом, нагружения исследуемой пластины 4 в процессе формоизменений зеркаль- с зеркальной поверхностью, полупро- поверхности происходит изменение зрачное эталонное зеркало 5, установ- картины муара. Смещение середины по- ленное над поверхностью пластины 4, поворотное устройство 6, обеспечивающее главный поворот полупрозрачного зеркала 5 относительно оси, параллельной линиям растра, привод 7 для поворота полупрозрачного зеркала 5 (перемещения показаны стрелками) и фиксации его положения, электродвигатель 8, приводящий привод 7 в движение, пульт 9 управления двигателем 8, вспомогательное зеркало 10 для измерения угла поворота полупрозрачного

лосы муара в точке А (х, у) вновь 20 обеспечивается поворотом эталонного зеркала. При этом углы поворота нормалей на каждом этапе деформирования объекта определяются разностью угло- бых отклонений

25

))..

где п - номер этапа деформирования . (,2,3..J

30

зеркала 5 и оптический угломер 11«

На фиг. 2 обозначено: А, - положение изображения точки В растра при повороте зеркала 5 на yгoлcpj ; А - начальное положение изображения точки В; Р - нагрузка.

Способ осуществляют следующим образом.

Изображение растра в зеркальной

поверхности пластины 4 (фиг. 1) сов- 40 и полупрозрачного зеркала, и по полумещают на матовом стекле фотоаппарата 2 с изображением эталонного растра, отраженного от полупрозрачного зеркала 5. Возникаю11 ая картина муара позволяет определить форму и деформации зеркальной поверхности пластины 4. Относительный сдвиг д х на фото- пластиие линий эталонного и рабочего растров для смещения полосы муара в заданную точку и последующей интерченной картине муаровых полос определяют деформации, отличающий- с я тем, что,.с целью повьшения точности, перед регистрацией изображе- 45 ния растра, осуществляют поворот полупрозрачного зеркала относительно зеркальной поверхности на угол q)j , при котором середина муаровой полосы совпадает с исследуемой точкой А:

50 зеркальной поверхности, измеряют ве- поляции картин муара производится по- личину угла cf: , а угол Cfj поворота воротом полупрозрачного зеркала 5 на зеркальной поверхностк в точке А, угол cfj в поворотном устройстве 6 с помощью привода 7 включением двигатеопределяют по формуле

ля 8 с пульта 9. Угол cpj поворота gg J J J

измеряется оптическим угломером 11,

а деформацию (величина углац( ) опре- где 7i - цена муаровой полосы;

деляют по формулеп: - порядок муаровой пьлосы.

j.

(1)

угловое отклонение нормали

в точке А; шаг растра; расстояние от зеркальной

поверхности до объекта; порядок полосы муара; измеряют с помощью оптических средств; цена муаровой полосы.

Фотографирование полученной картины муара производят обычным образом

ем же фотоаппаратом, в процессе формоизменений зеркаль- поверхности происходит изменение картины муара. Смещение середины по-

ем же фотоаппаратом, в процессе формоизменений зеркаль- поверхности происходит изменение картины муара. Смещение середины по-

лосы муара в точке А (х, у) вновь обеспечивается поворотом эталонного зеркала. При этом углы поворота нормалей на каждом этапе деформирования объекта определяются разностью угло- бых отклонений

же фотоаппарато в процессе формо поверхности про тины муара. Смещ

))..

ем же фотоаппаратом, в процессе формоизменений зеркаль поверхности происходит изменение картины муара. Смещение середины по-

где п - номер этапа деформирования . (,2,3..J

Формула изобретения

Способ определения углов поворота зеркальной поверхности, заключающий- 35 ся в TOMi что полупрозрачное зеркало располагают перед зеркальной поверх- ностью, деформируют ее, регистрируют изображение эталонного растра, отраженного от зеркальной поверхности и

ченной картине муаровых полос определяют деформации, отличающий- с я тем, что,.с целью повьшения точности, перед регистрацией изображе- ния растра, осуществляют поворот полупрозрачного зеркала относительно зеркальной поверхности на угол q)j , при котором середина муаровой полосы совпадает с исследуемой точкой А:

зеркальной поверхности, измеряют ве- личину угла cf: , а угол Cfj поворота зеркальной поверхностк в точке А,

зеркальной поверхности личину угла cf: , а уго зеркальной поверхностк

определяют по формуле

Изобретение относится к определению деформаций в деталях и узлах конструкций оптическими методами. Цель изобретения - повышение точности определения углов поворота. Для этого изображение рас/гра в зеркальной поверхности пластины 4 совмещают на матовом стекле фотокамеры 2 с изображением эталонного растра, отраженного от полупрозрачного зеркала 5. Относительный сдвиг на фотопластине линий эталонного и рабочего растров для смещения полосы муара в заданнун) Точку производится поворотом полупрозрачного зеркала 5. Величина этого угла поворота измеряется оптическим . угломером 11 и по ней.определяют углы поворота зеркальной поверхности. 2 ил. а (Л 00 00 о 1 Рд tpitfi