Квадрупольный масс-спектрометр Советский патент 1987 года по МПК H01J49/42 

1

Изобретение относится к масс- спектрометрии, а именно к квядру- польным масс-спектрометрам.

Целью изобретения является повышение чувствительности и улучшение формы пиков масс-спектра в области легких масс в квадрупольном масс- спектрометре.

На фиг. 1 представлена конструкция предлагаемого масс-спектрометра на фиг. 2 - то же, с дополнительными электродами, установленными непосредственно на изоляционных шайба

Масс-спектрометр содержит поле- образующие электроды 1 анализатора, установленные параллельно его ион- но-оптической оси 2, изоляционную шайбу 3, внутренняя поверхность которой является установочной для поле образующих электродов анализатора, дополнительный электрод 4, устанавливаемый между каждой парой смежных, полеобразующих электродов и ионно-оп тической осью 2 анализатора, соеди- ненньш электрически с общей 5 парафазного выхода высокочастотного генератора 6.

Работа устройства сводится к следующему.

При возникновении поверхностного заряда на изоляционных П1айбах 3 между смежными электродами 1 анализатора этот заряд в предлагаемом масс- спектрометре оказывается экранированным дополиительньии электродами 4, потенциал которых равен потенциалу ионно-оптической оси 2,анализатора. В результате исключается искажающее влияние потенциала поверхностного заряда на рабочее поле анализатора.

Положительный эффект по сравнению с прототипом состоит в том, что чувствительность масс-спектрометра и форма пиков масс-спектров в области легких масс в предлагаемом масс-спектрометре остаются неизменными и не ухудшаются после развертки масс- спектра в области тяжелых масс.

В случае, когда дополнительные элек1роды расположены на наибольшем удалении от ионно-оптической оси анализатора, т.е. вблизи изоляционных шайб, влияние потенциала дополнительных электродов на рабочее поле анализатора 1езначительно, в то время, как влияние потенциала, вызван- lioro зарядом поверхностей изоляционных шайб, полностью устраняется.

306752

Влияние потенциала дополнительных электродов становится пренебрежимо малым, когда,, эти электроды установлены не на всей длине анализатора, а только на участках установки изоляционных шайб, либо непосредственно на изоляционных шайбах. С целью повьш ения электрической прочности Q изоляции между каждой парой смежных полеобразующих электродов при наличии дополнительных электродов, установленных на и;1оляционной шайбе, целесообразно устанавливать дополни- 15 тельные электроды на изоляционных щайбах с зазором относительно внутренней и боковых поверхностях изоляционных шайб.

20

Формула изобретения

5

5

0

5

1. Квадрупольный масс-спектрометр, содержащий источник ионов, анализатор, включающий четыре полеобразующих

ь электрода и изоляционные шайбы для крепления полеобразующих электродов, приемник ионов, устройство электрического питания анализатора, включающее высокочастотный генератор с па0 рафазным выходом, отличающийся тем, что, с целью повьппе- ния чувствительности и улучшения формы пиков масс-спектра в области легких масс, между каждой парой смежных полеобразующих электродов, ионно-оп- тическдй осью анализатора и внутренней поверхностью изоляционных шайб симметрично относительно плоскостей симметрии анализатора и параллельно

Q его ионно-оптической оси установлены дополнительные электроды, электрически соединенные с общей точкой пара- фазного выхода высокочастотного генератора.

2.Масс-спектрометр по п.1, отличающийся тем, что длина дополнительных электродов равна длине полеобразующих электродов анализатора.

3.Масс-спектрометр по п.1, о т - личающийся тем, что дополнительные электроды установлены между ионно-оптической осью анализатора и участками поверхности изоляционных шайб, обращенными к этой оси.

4.Масс-спектрометр по пп.1 и 3, отличающийся тем, что дополнительные электроды установлены непосредственно на участках поверхностей изоляционных шайб между смежными электродами.

5. Масс-спектрометр по пп.1-4, отличающийся тем, что

1330675

кадцый из дополнительных электродов установлен с зазором относительно внутренней и боковых поверхностей изоляционных шайб.

Изобретение относится к измерительной технике, в частности к масс- спектрометрии, и позволяет повысить чувствительность и улучшить формы пиков масс-спектра в области легких масс в квадрупольном масс-спектрометре. В предлагаемом масс-спектрометре при возникновении поверхностного заряда на изоляционных шайбах 3 между смежными электродами 1 анализатора этот заряд экранируется дополнительными электродами 4, потенциал которых равен потенциалу ионно-оптичес- кой оси 2 анализатора, В результате исключается искажающее влияние потенциала поверхностного заряда на рабочее поле анализатора. Положительный эффект, достигаемый изобретением, состоит в том, что чувствительность предлагаемого масс-спектрометра и форма пиков масс-спектров в области легких масс остаются неизменными и не ухудшаются после развертки масс- спектра в области тяжелых масс. На чертеже также показаны точка. 5 пара- фазного выхода ВЧ генератора 6. 4 3.п. ф-лы, 2 ил, (Л 00 00 о О5 ел

/

фиг 2