Способ определения степени однородности стекла Советский патент 1960 года по МПК G01N21/41 

Известные способы определения степени однородности стекла, взятого в виде порошка, в иммерсионной жидкости сложны, так как необходимо либо определять температурный интервал плотности, в пределах которого самые легкие и самые тяжелые частицы оседают на дно или всплывают наверх, либо определять светопропускание или светорассеяние суспензии стекла в жидкости. При этом необходимо проводить сравнение с пропусканием самой жидкости и применять термостат с непрерывно изменяющейся температурой.

Предлагаемый способ позволяет производить измерения при постоянной температуре и значительно упрощает процесс измерения- Способ заключается в том, что измеряют ширину или полуширину спектральной полосы проатускания пропитанного иммерсионной жидкостью стеклянного порошка при постоянной температуре. Такая среда при падении на нее белого света вырезает узкую область спектра, т. е. является дисперсионным светофильтром. Максимум пропускания светофильтра соответствует той длине волны, для которой показатели преломления стекла и жидкости совпадаютЕсли стеклянный порошок неоднороден, то условие равенства показателей преломления стекла и жидкости будет выполняться для ряда длин волн, т. е. кривая пропускания светофильтра будет расширяться. Таким образом, ширина (или полуширина) кривой пропускания светофильтра является мерой его однородностиУстановка для осуществления способа схематически изображена на чертеже, где /-источник света, помещенный в фокус линзы 2; 3-ирисовая диафрагма; 4-термостат, поддерживающий постоянную температуру светофильтра 5; 6-линза; 7-входная и 8-выходная щели монохроматора 9; 10-фотоумножитель, помешенный вплотную к выходной щели монохроматора.

Пред м с т и 3 о б р е т е н и я

Способ определения степени однородности стекла с применением исследуемого стекла в виде стеклянного порошка в органической иммерсионной жидкости, о т л и ч а ю ш, и и с я тем, что, с целью оценки стецени однородности, измеряют ширину (или полуширину) спектральной полосы пропускания исследуемого образца, находящегося при постоянной температуре.

о 7 лтS