Способ измерения толщины покрытия и устройство для его осуществления Советский патент 1987 года по МПК G01B11/06 

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения толщины антикоррозионных эпоксидных нокрытий.

Цель изобретения - повышение точ- ности измерения и обеспечение возможности измерения покрытия в технологическом потоке,

Поставленная цель достигается путем анализа отраженного от неоднородности включений в покрытии излучения и создания условий для проведения измерений в технологическом потоке.

На чертеже представлена конструкция устройства, реализующего данный способ.

Устройство содержит источник 1 моно- хроматического излучения со встроенным измерителем мощности и расположенные последовательно по ходу излучения линзу 2, гибкий световод 3. и поляроид 4. По ходу рассеянного от покрытия 5 излучения последовательно расположены линза 6, поляроид 7, конический световод 8 и приемник 9 излучения, электрически связанный с блоком 10 обработки сигналов, который в свою очередь связан с измерителем мощности источника 1 излучения.

Оптическая система помещена в корпус 11, который имеет контактные ролики 12, окно 13. К корпусу 11 присоединен прижимной механизм - пружина 14.

Способ осуществляется при помощи устройства следующим образом.

Излучение от источника 1 линзой 2 вводится в гибкий световод 3, при выходе из которого линейн.о поляризуется поляроидом 4 и через окно 13 в корпусе 11 направляется на покрытие 5. Излучение, отраженное покрытием 5, собирается линзой 6 на входной торец конического световода 8. При этом поляроид 7 экранирует от попадания на приемник 9 ту часть излучения, которая отразилась от наружной поверхности покрытия 5, сохранив преобладающее направление поляризации. Другая часть отраженного излучения, обратнорассеянная слоем покрытия и деполяризованная, в основном проходит поляроид 7 и собирается световодом 8 на приемник 9. Пружина 14 обеспечивает контакт роликов 12 с покрытием 5, сохра- няя неизменным расстояние от световода

8 до покрытия 5. Электрические сигналы с приемника 9 поступают в блок 10 обработки сигналов, который нормирует их на величину мощности излучения источника 1, В результате этого исключается влияние нестабильности источника 1 на точность измерения.

Пронормированные сигналы в блоке 10 сверяются с градуировочными зависимостями, по которым определяется толщина покрытия.,

Формула изобретения

. Способ измерения толщины покрь тия, заключающийся в том, что на покрытие направляют пучок монохроматического излучения, измеряют интенсивность рассеянного излучения и по гр&дуировочным зависимостям определяют толщину покрытия, отличающийся тем, что, с целью повышения точности измерения, пучок излучения линейно поляризуют и направляют на покрытие нормально к его поверхности, экранируют излучение, отраженное поверхностью покрытия, а измерение интенсивности излучения, рассеянного слоем покрытия, осуществляют в направлении,обратном направлению падающего пучка.

2.Устройство для измерения толщины покрытия, содержащее и:сточник монохроматического излучения и расположенную по ходу излучения оптическую систему, включающую приемник излучения и блок обработки сигналов, электрически связанный с приемником, отличающееся тем, что оно снабжено гибким световодом, расположенным по ходу излучения за источником, и двумя поляроидами, од:-1н из которых установлен на выходе гибкого световода, другой - перед приемником излучения, а оптическая система содержит конический световод, прикрепленный к приемнику излучения.

3.Устройство по п. 2, отличающееся тем, что, с целью обеспечения возможности измерения толщины покрытия в технологическом потоке, оптическая система заключена в корпус с окном и роликами, предназначенными для контакта с объектом.

Изобретение относится к измерительной технике и может использоваться для измерения толщин эпоксидных покрытий. Цель - обеспечение возможности измерения толщины покрытия в технологическом потоке - достигается путем анализа отраженного от неоднородности включений в покрытии излучения. Дополнительная цель - обеспечение возможности измерения толщины покрытия в технологическом потоке - достигается путем создания условий для проведения измерений в технологическом потоке. Излучение от источника 1 линзой 2 вводится в гибкий световод 3, поляризуется поляроидо.м 4 и через окно 13 в корпусе 11 направляется на покрытие 5. Излучение, отраженное покрытием 5, собирается линзой 6 на торец конического световода 8. Поляроид 7 экранирует по попадания на приемник 9 отраженное от поверхности покрытия 5 излучение и пропускает обратно- рассеянное слоем покрытия и деполяризованное излучение. Э.тектрические сигналы с приемника 9 поступают в блок 10 обработки сигналов, который определяет толщину покрытия. Пружина 14 обеспечивает контакт роликов 12 с поверхностью нокрытия 5, 2 с.п. и 1 з.п. ф-лы, 1 ил. Р (Л