со
С1
со 4;
1369А702
Изобретение относится к фото- иственио сократить срок исследований,
радиометрии и может быть примененотак как для всех преобразователей
для измерения спектральных характерис-можно заранее рассчитать отношения
ТНК преобразователей излучения, в томКд цля всех фильтров, числе приемников излучения.Для осуществления способа может
Целью изобретения является упроще-быть использован источник, выполненный
ния способа и сокращение времени из-либо в виде модели абсолютно черного
мерений.тела, стабилизированной по температуНа чертеже приведена схема устрой- ,Qре, либо в виде светоизмерительной
ства для осуществления способа.лампы, а также набор дисперсионных.
Устройство содержит источник 1интерференционных и т.п. оптических излучения, иабор 2 оптических фильт-фильтров с заранее известными спектров и исследуемый преобразователь 3 ральными коэффициентами пропускания, (приемник) с измерительным прибо- 5Способ позволяет выявить наличие сером 4.лективности испытуемого преобразоваСпособ осуществляется следующимтеля в шобом интересующем спектральобразом.ном интервале без расчета спектральИзлучение источника 1 стабилизиру-ной характеристики чувствительности
ется по параметру Т, определяющему 20 целом, что особенно ценно для исраспределение излучения по спектруследований в широкой области спектра,
(специальное устройство). В ход лучейВся вычислительная работа по опредеот источника 1 на преобразователь 3лению энергетического отношения R
вводится i-ый оптический фильтр изможет производиться независимЬ. от
набора 2, выделяющий исследуемый 25результатов измерений соответствующих
спектральный интервал 4, с преоб-сигналов преобразователя, а значит разователя 3 снимается сигнал U может быть выполнена однажды для цейа падающее излучение R д, при помо-лой группы фильтров и использоваться
щи измерительного прибора f. Затемв дальнейшем для различных преобразовведенный фильтр выводится из хода лу-зователей, что существенно сокращает
чей и на преобразователь падает ин-срок исследований.
тегральное излучение источника R и Для i-ro фильтра из набора 2 вели- регистрируется сигнал и.чина , рассчитывается по формуле
Далее находят отношение измеренныхр ч
и..,. i гд1;()ад,
сигналов и „ -.-- и отношение 35
игде г - спектральная плотность
энергетических параметров, характери-энергетического параметра
зующих падающее на преобразовательизлучения иeтoчникa
излучение R „,, , предваритель- спектральный коэффициент
40пропускания 1-го оптичесно рассчитав R д и R.кого фильтра
По отклонению от единищ, величины Q в границы спектрального ини отк и 4Ai /иTeoBSj a А И
----- - ----. судят о наличии се-lepBcuid ал .
ти &К- Энергетический параметр R интеглективности исследуемого преобразова-рального излучения рассчитывается по
теля в любом спектральном диапазонеформуле J , выделяемом фильтром из набо-
ра U.. Ь
Источник излучения, фнпьтр и ис-U TK
пытуемый преобразователь располага- ,„ Величина --- определяет отноше„ 50отн
ются на одной оптической оси, причемние коэффициента поглощения преобравзаимное расположение этих элементовзователя излучения в спектральном
должно сохраняться неизменным в тече-интервале, выделяемом фильтром, к к.оние всего периода измерений со всемиэффициенту поглощения интегрального
фильтрами.излучения.
Если есть необходимость в выявлении селективности нескольких, преобра-Формула изобретения зователей, использование для этой це- Способ выявления селективности тепли одного устройства позволяет суще-ловых преобразователей излучения,
313
включающий выделение оптическими фШ1ьтрами излучения заданного спектрального интервала Л от источника с известным непрерывным и неизменяющимся спектром, облучение этим излучением преобразователя и измерение сигнала U i преобразователя при регистрации этого излучения, отличающийся тем, что, с целью его упрощения и сокращения времени, дополнительно измеряют сигнал U при облучении преобразователя интегральным излучением того же источника, а о наличии селективности судят по отклонению от единицы величины
к аТГУк
где/,А, (A)dA - энергетический
параметр излуче0
5
0
R -. г д d Л
С;(Л)
ч
ния, прошедшего через фильтр;
-энергетический параметр интегрального излучения;
-спектральная плотность энергетического параметра излучения источника;
-спектральный коэффициент пропускания i-ro оптического фильтра;
- границы спектрального интервала А i.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
Способ измерения абсолютной спектральной чувствительности яркомеров | 1979 |
|
SU870969A1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ЯРКОСТНОЙ ТЕМПЕРАТУРЫ И ПИРОМЕТРИЧЕСКИЙ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЬ ДЛЯ ЕГО ОСУЩЕСТВЛЕНИЯ | 2020 |
|
RU2737606C1 |
РАДИОМЕТРИЧЕСКИЙ СПОСОБ РЕГИСТРАЦИИ СЛАБОГО ШИРОКОПОЛОСНОГО РАДИОИЗЛУЧЕНИЯ | 2008 |
|
RU2431852C2 |
Газоанализатор | 1978 |
|
SU813205A1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ КВАНТОВОЙ ЭФФЕКТИВНОСТИ ФОТОДИОДНЫХ ПРИЕМНИКОВ ИНФРАКРАСНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ | 2023 |
|
RU2807168C1 |
Способ рентгеновской дифрактометрии | 1980 |
|
SU911264A1 |
Способ определения колебательной температуры молекулярных газов | 1981 |
|
SU1055726A1 |
СПОСОБ ИЗМЕРЕНИЯ ТЕМПЕРАТУРЫ | 2009 |
|
RU2410654C1 |
СПОСОБ ВОСПРОИЗВЕДЕНИЯ, ПЕРЕДАЧИ И ИЗМЕРЕНИЯ ТЕРМОДИНАМИЧЕСКОЙ ТЕМПЕРАТУРЫ | 2018 |
|
RU2697429C1 |
УСТРОЙСТВО ФОРМИРОВАНИЯ РЕНТГЕНОВСКИХ ИЗОБРАЖЕНИЙ СО СПЕКТРАЛЬНЫМ РАЗРЕШЕНИЕМ | 2007 |
|
RU2465826C2 |
Изобретение относится к фотои радиометрии и может быть применено для измерения спектральных характеристик преобразователей излучения. Цель изобретения - упрощение и сокращение времени измерений . Селективность выявляется по измеренным величинам реакции преобразователей на излучение в исследуемом спектральном диапазоне и на интегральное излучение и. Для источника излучения с известным распределением энергии по спектру рассчитьгааются энергетические параметры: - для исследуемого спектрального диапазона и R.- для интегрального излучения. Селективность выявляется по отклонению величины (U)/U)/() от единицы. 1 ил. (Л с
Способ определения абсолютной спектральной чувствительности приемника излучения | 1977 |
|
SU717560A1 |
Печь для непрерывного получения сернистого натрия | 1921 |
|
SU1A1 |
НдЬп D | |||
und Weidemann I | |||
Zur Mes- sung der relaciven Spekcralen Emp- findlichkeiten von photoelekcronis- chen | |||
Strahlungsempfangern | |||
PTB Mit- Ceilungen Braunschweig - Berlin, 31, August, 1965, S, 323-328. |
Авторы
Даты
1988-09-07—Публикация
1984-11-06—Подача