Устройство для дефектоскопии магнитоупорядоченных материалов Советский патент 1988 года по МПК G01N29/04 

Описание патента на изобретение SU1370546A1

00

о ел

4

05

Изобретение относится к неразруша ющему контролю материалов с помощью ультразвуковых волн и может быть использовано, в частности, для обнаружения локальных дефектов при контрол магнитоупорядоченных материалов.

Целью изобретения является повышение чувствительности, которая достигается использованием зависимости распределения внутреннего магнитного поля контролируемого материала в направлении распространения звука при магнитоакустическом резонансе.

На чертеже изображена блок-схема устройства.

Устройство содержит последовательно соединенные генератор 1 радиоимпульсов, искатель 2, усилитель 3 и индикатор 4, а также синхронизатор 5 соединенньп с управляюи:1ими входами генератора I и индикатора 4. Кроме того, устройство содержит электромагнит 6, предназначенный для размещения в нем контролируемого материала (изделия) 7, источник 8 тока низкой частоты, один выход которого соединен с обмоткой электромагнита 6, последовательно соединенные блок 9 селекции, подключенный к выходу усилителя 3, и измеритель 10 амплитуды импульсов, второй индикатор 11 и интегратор 12, входь которых соединены с измерителем 10 амплитуды импульсов, третий индикатор 13, подключенный к выходу интегратора 12; второй выход источника 8 тока соединен с вторыми входами второго 11 и третьего 13 индикаторов соответственно.

Искатель 2 в данном устройстве размещен по поверхности контролируемого материала 7.

Устройство работает следующим образом.

Сигна. 1-радиоимпульс частоты со , полученньпЧ от генератора 1 радиоимпульсов, поступает на искатель 2, излучающий упругую волну в контролируемый материал 8. Сигналы, отраженные от дефектов и от дна контролируемого материала 7, принимаются искателем 2 и после усиления усилителем 3 приняЕсли Н„,(z) - Функция распределеВИ

того сигнала поступают на первый индикатор 4, развертка которого синхро- 55 внутреннего поля в направлении низируется с помощью синхронизатора 5 с моментом запуска генератора 1. С того же выхода усилителя 3 сигналы поступают на блок 9 селекции, который

распространения звука, то Z(Kgц) - Но

. IA,-A(pd,

5

осзтдествляет селекции сигнала, отраженного от дна материала 7. При изменении внещнего магнитного поля, создаваемого электромагнитом 6, питающимся от источника 8 тока, в материале 7 возникает магнитоакустический резонанс (MAP) в различных его областях. Физическая природа MAP заключа- 0 ется в резонансном взаимодействии упругой волны частоты ci) , распространяющейся в материале 7, и прецессии

спинов в эффективном поле И, Услоэ Тт

вие для возникновения MAP следующее: 5 векторная сумма внешнего Н и внутреннего Н полей должна быть равной I H, 1Но -t-lTgJ СО/Й , где у - гиромагнитное отношение для электронов. Для целей акустической дефекто- 0 скопии используются частоты до

20 МГц, что дает значение И ,8 Э, Этой величиной можно пренебречь по сравнению с Н и их характерные значения находятся в пределах от сотен до десятков тысяч эрстед) и записать HO - Нц . Таким образом, в тех областях материала 7, где удовлетворяется это условие, наблюдается MAP. В связи с тем, что в контролируемых изделиях внутреннее поле неоднородно и меняется, например, от -Н до -П при изменении внешнего поля от Ну до Н, последовательно резонируют различные области изделия.

Резонансная прецессия спинов вызывает резкое уменьшение амплитуды звука, прошедшего через контролируемый материал 7. Изменение амплитуды импульса, прошедшего через изделие 7, 0 отразившегося от его дна и возвратив- щегося опять на искатель 2

АО - A(HjuH-uZ,

где АО - амплитуда импульса при нулевом внешнем поле (то есть когда ни в одной точке материала 7 нет резонанса) ;

А(Нд) - амплитуда при данном значении внешнего поля;

U Z - размер резонансной области;

йН - ширина линии ферромагнитного резонанса (естественная).

Если Н„,(z) - Функция распределеВИ

0

5

5

0

5 внутреннего поля в направлении

внутреннего поля в направлении

распространения звука, то Z(Kgц) - Но

внутреннего поля

. IA,-A(pd,

Обратная функция

,J

к индицируемым на инди аторе 13, получают его градуировку непосредственно в единицах расстояния ндоль мате- Р риала 7, При этом расстояние до меп- ких дефектов, не видимых на индикаторе 4, оценивается следуюпнм образом: по индикатору 11 определяют координаты этих дефектов по полю, за- 1Q тем с помощью индикатора 13 и его предварительной градуировки связывают их с истинным расстоянием от поверхности материала (изделия) 7.

В связи с тем, что мелкие дефек- 15 ты, не видимые с ПОМОЕЦЬЮ обычной эхо- скопии, приводят к значительному искажению внутреннего поля, предлагаемое устройство позволяет значительно повысить чувствительность их опреде- выше операций с выхода блока 9 селек-20 ления. Испытания устройства показа- ции импульс поступает на измеритель ли, что с его помощью можно получать 10 амплитуды импульса, позволяюрцш информацию о дефектах размером поряд- получить постоянное напряжение, про- ка десятков микрон, не видимых с по- порциональное амплитуде импульса. мощью ультразвуковых дефектоскопов Выход измерителя 10 соединен с верти™ 25 известных конструкций (возможно даже кальной разверткой второго индикато- наблюдение доменной структуры изде- ра 11 и с входом интегратора 12, в лил), котором осуществляется сдвиг уровня

Формула изобретения Устройство для дефектоскопии маг- нитоупорядоченных материалов, содер- жап1ее последовательно соединенные генератор радиоимпульсов, искатель, усилитель и индикатор, и синхрониза- 35 тор, соединенный с управляющими входает одномерное распределение внутреннего поля в направлении распространения звука. Таким обрапом, получив зависимость амплитуды отразившегося от дна контролируемого материала 7 от внешнего поля, проинтегрировав ее и определив обратную функцию, получают распределение внутреннего поля по оси изделия. В связи с тем, что тобой дефект приводит к искажению внутреннего поля, появление на кривой А(Нд) экстремумов, дополнительных по сравнению с чистым изделием, дает возможность осуществлять дефектоскопию контролируемого материала (изделия) 7 .

Для осуществления перечисленных

сигнала на величину А, равную амплитуде сигнала в нулевом поле, и произ- 30 водится интегрирование. Сигнал с выхода интегратора 12 подается на горизонтальную развертку третьего индикатора 13, При изменении Mai HUTtioro поля Нр, создаваемого электромагнитом

6, на индикаторе 1I отображается задами генератора и индикатора, о т висимость А(Н

дами генератора и индикатора, о т о

а на индикаторе 13- личающееся тем, что, с цедами генератора и индикатора, о т

Похожие патенты SU1370546A1

название год авторы номер документа
Способ определения структуры,величины и неоднородности внутреннего магнитного поля магнитоупорядоченных кристаллов и устройство для его осуществления 1983
  • Зарембо Лев Константинович
  • Карпачев Сергей Николаевич
SU1272205A1
Устройство для определения структуры,величины и неоднородности внутреннего магнитного поля магнитоупорядоченных кристаллов 1986
  • Зарембо Лев Константинович
  • Карпачев Сергей Николаевич
SU1370537A2
УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ДЕФЕКТОСКОП ДЛЯ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА КРУПНОЗЕРНИСТЫХ МАТЕРИАЛОВ 1992
  • Власов В.Т.
  • Марин Б.Н.
  • Юрчук Е.С.
  • Коровкин Ю.А.
RU2039980C1
Устройство для ультразвукового контроля материалов 1984
  • Безымянный Юрий Георгиевич
  • Кузьменко Василий Александрович
  • Шевчук Анатолий Демьянович
SU1229679A1
Ультразвуковой эхо-импульсный дефектоскоп 1977
  • Стипура Анатолий Петрович
  • Загорулько Владимир Сергеевич
  • Вьюниченко Валентин Николаевич
SU616584A1
УЛЬТРАЗВУКОВОЙ ТОЛЩИНОМЕР 1997
  • Грошев В.Я.
RU2130169C1
Дефектоскоп 1975
  • Ланге Юрий Викторович
  • Устинов Евгений Герасимович
SU557318A1
Устройство для измерения электрофизических характеристик пьезокерамических резонаторов 1978
  • Парфенов Борис Георгиевич
  • Тимошенко Станислав Петрович
SU737884A1
УСИЛИТЕЛЬ СВЧ МАГНИТОЭЛЕКТРИЧЕСКИЙ 2010
  • Бичурин Мирза Имамович
  • Петров Роман Валерьевич
  • Килиба Юрий Владимирович
  • Иванов Сергей Николаевич
RU2439751C1
Импульсно-фазовое устройство для контроля толщины 1990
  • Скрипник Юрий Алексеевич
  • Здоренко Валерий Георгиевич
  • Водотовка Владимир Ильич
  • Клушин Вячеслав Вадимович
SU1747894A1

Реферат патента 1988 года Устройство для дефектоскопии магнитоупорядоченных материалов

Изобретение относится к неразрушающему контролю материалов с помощью ультразвуковых волн и может быть использовано для обнаружения локаль- laix дефектов при контроля магнито- упорядоченных материалов, применяемых в радиоэлектронике. Цель изобретения - повьпиение чувствительности. С помощью данного устройства производят измене {ия внетттиго магнитного поля посредством электромагнита 6, питающегося от источника 8 тока нИз- кой частоты. Это поле воздействует на контролируемый материал 7, в разных областях которого возникает магнито- акустический резонанс. Определяют форму линии магнитоакустического резонанса и распределение внутреннего магнитного поля в материале 7 и но резким изменен11ям полученных значений судят о наличии дефектов. Индикатор 4 позволяет осуществить привязку индицируемых крупных дефектов к кош;- ретному месту в материале 7 и точно оценить расстояние до яих. Мелкие дефекты на индикаторе 4 не видны и для их выявления посредством индикатора I 1 определяют координаты эт1гх дефек- гон гю полю, а затем с помощью индикатора 13 связывают их с: исгииным расстоянием от поверхности контролируемого материала. 1 ил. С (Л

Формула изобретения SU 1 370 546 A1

восстановленное распределение внутреннего поля, 15 связи с тем, что зависимость A(HQ) более информативна, чем ngjj(z), так как представляет собой производную последней, на ней более четко видны различные неоднородности внутреннего поля, свидетельствующие о дефектах. Первый индикатор 4 позволяет осутдествить привязку индицируемых дефектов к конкрет}юму месту в материале 7, так как достаточно большие дефекты отображаются на всех трех индикаторах 4,11 и 13, а индикатор 4 позволяет достаточно точно оценить расстояние до них. Привязывая местоположение этих дефектов

ВННИПИ

Заказ 414/44

Произв.-полигр. пр-тие, г, Ужгород, ул. Проектная, 4

лью повышения чувствительности, оно снабжено электромагнитом, предназначешгым дЛя размещения в нем контролируемого материала, источником тока низкой частоты, один выход которого соединен с обмоткой электромагнита, последовательно соединенными блоком

селекции, подключенным к выходу усилителя, и измерителем амплитуды импульсов, вторым индикатором и интегратором, входы которых соединены с измерителем амплитуды импульсов, третьим индикатором, подключенным к выходу интегратора, а второй выход источника тока соединен с вторыми входами второго и третьего индикаторов.

Тираж 847

Подписное

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1370546A1

Приборы для неразрушающего контроля материалоп и изделий
Справочник
Под ред
В.В.Клюева, т.., М
: Машиностроение
Планшайба для точной расточки лекал и выработок 1922
  • Кушников Н.В.
SU1976A1
Приспособление для удаления таянием снега с железнодорожных путей 1920
  • Строганов Н.С.
SU176A1
Там же, с.201-219.

SU 1 370 546 A1

Авторы

Зарембо Лев Константинович

Карпачев Сергей Николаевич

Даты

1988-01-30Публикация

1986-06-12Подача