Оптический способ измерения линейных перемещений Советский патент 1988 года по МПК G01B9/00 

Описание патента на изобретение SU1404809A1

Nj:

00

Изобретение относится к измерительной технике, а именно к измерению линейных перемещений объекта, и может быть использовано в лазерной интерферометрии.

Цель изобретения - повышение надеж- ности измерений за счет повышения коэффициента использования световой энергии.

На фиг. 1 изображена свема реализации предлагаемого способа; на фиг. 2 - схема интерференционно-растрового сопряжения в увеличенном масштабе.

Схема содержит лазер 1, оптическую систему 2 формирования плоского пучка света, прозрачные зеркала 3 и 4, отражатель 5, закрепленный на контролируемом объекте 6, опорный пучок 7 света, измери- тельный пучок 8 света, интерференционную картину 9, штриховую растровую решетку 10, фотоприемники 11 и 12.

На фиг. 2 также показаны: - угол совмещения опорного 7 и измерительного 8 пучков света; К - длина волны света; d - поперечный размер меньшего из пучков света; бр - шаг решетки;в - угол между интерференционными полосами картины 9 и штрихами решетки 10; D - шаг муаровых полос.

Способ заключается в следующем.

Световой поток, генерируемый лазером 1, с помощью оптической системы 2 формируют в плоский, из которого с помошью полупрозрачного зеркала 3 получают опорный пучок 7, с помощью зеркала 4 и отражателя 5- измерительный пучок 8, фаза которого изменяется пропорционально линейному перемещению объекта 6. Опорный и измерительный пучки совмещают один с другим под углом y /K/2d , выбирают решетку 10 с шагом штрихов, равным )d, которую ориентируют таким образом, чтобы угол в между интерференционными полосами и штрихами решетки 10 был равен углу у, с помощью фотоприемников 11 и 12 анализируют изменение освещенности муаровой картины и по числу периодов электрического сигнала судят о величине перемещения объ- екта 6.

Шаг полос анализируемой интерференционной картины 9 определяется как

6 V2-sin-; /2, для малых углов

б„.

(1)

0

0

5

Видно, что при интерференционно-растровом сопряжении шаг D муаровых полос зависит от угла, под которым совмещают пучки 7 и 8, и угла между интерференционными полосами и щтрихами решетки 10. При случайном изменении этих углов изменяется щаг D муаровых полос и, как следствие, нарушается фазировка фотоприемников 11 и 12, что приводит к сбою счета полос. Для уменьшения влияния измерения этих углов угловой разъюстировки на ширину муаровых полос углы в и у следует выбирать как можно большими. Однако большое значение одного угла требует для сохранения определенной величины D малого значения другого.

Максимальная надежность измерения обеспечивается при одинаковой устойчивости шага муаровых полос к угловым разъюсти- ровкам как интерферирующих пучков, так и интерференционной картины с растровой рещеткой, .что возможно при равенстве углов .

Рещая системы уравнений (1) и (2), получаем для оптимальных углов

в 7 д/х70.(4)

для оптимальных шагов

(5)

С учетом минимальных световых потерь при фотоэлектрическом преобразовании обычно принимается ,5D, тогда выражения (4) и (5) принимают вид

В этом случае при удовлетворительной фазировке приемников обеспечивается наибольшая чувствительность к изменению освещенности светового поля. Таким образом, при измерении линейных перемещений интерференционно-растровым способом углы сведения интерферирующих пучков и совмещения штрихов рещетки 10 с интерфе- ренционными полосами следует выбирать равными -VA,/2(J, а щаги интерференционных полос и штрихов решетки 10 равными д/2Л. Это дает повышение надежности измерений при высоком коэффициенте использования световой энергии интерферирующих потоков.

Формула изобретения

Похожие патенты SU1404809A1

название год авторы номер документа
Устройство для измерения перемещения объекта 1988
  • Ильин Виктор Николаевич
SU1518667A1
Устройство для отсчета линейных перемещений объектов 1987
  • Ильин Виктор Николаевич
SU1569529A1
Интерференционный преобразователь угла 1989
  • Иващенко Владимир Яковлевич
  • Куркин Сергей Викторович
  • Ракович Николай Николаевич
SU1649262A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ ПЛОСКОСТНОСТИ ПОВЕРХНОСТИ 2004
  • Турухано Борис Ганьевич
  • Турухано Никулина
  • Добырн Владислав Вениаминович
RU2287776C2
СПОСОБ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ОТКЛОНЕНИЙ ОТ ПРЯМОЛИНЕЙНОСТИ 2000
  • Леун Е.В.
  • Серебряков В.П.
  • Шулепов А.В.
  • Загребельный В.Е.
  • Рожков Н.Ф.
  • Василенко А.Н.
RU2175753C1
УСТРОЙСТВО для ИЗМЕРЕНИЯ ПЕРЕМЕЩЕНИЙ В ДВУХ КООРДИНАТАХ 1973
  • Авторы Изобретени
SU387207A1
Устройство для измерения линейных перемещений 1987
  • Ильин Виктор Николаевич
SU1525662A1
Способ измерения перемещения объекта и устройство для его осуществления 1988
  • Ильин Виктор Николаевич
SU1518666A1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ СИНТЕЗА ДЛИННЫХ ГОЛОГРАФИЧЕСКИХ ДИФРАКЦИОННЫХ РЕШЕТОК 1982
  • Турухано Б.Г.
  • Горелик В.П.
  • Турухано Н.
  • Гордеев С.В.
RU1052095C
Устройство для измерения линейных перемещений 1987
  • Куинджи Владлен Владимирович
  • Стрежнев Степан Александрович
  • Баранов Александр Федорович
  • Саамова Татьяна Сергеевна
SU1499111A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 404 809 A1

Реферат патента 1988 года Оптический способ измерения линейных перемещений

Изобретение относится к оптическим методам измерения линейных перемещений объекта и может быть использовано в лазерной интерферометрии. Цель изобретения - поБыщение надежности измерений за счет повышения коэффициента использования световой энергии. Световой поток, генерируемый лазером, формируют в плоский, из которого получают опорный пучок, измерительный пучок, фаза которого изменяется пропорционально v инeйнoмy перемещению объекта. Совмещая ручки друг с другом под углом Y - /X/2d, выбирают р ешетку с шагом штрихов, равным ,й, и ориентируют ее, чтобы угол в между интерференционными полосами и штрихами решетки был равен углу Y. и по результатам анализа изменения освещенности муаровой картины и по числу периодов электрического сигнала судят о величине перемещения объекта. 2 ил. Ш

Формула изобретения SU 1 404 809 A1

Шаг муаровых полос от растрового сопряжения одинаковых по шагу решетки 10 и интерференционных полос определяется выражением

D.6p/0,(2)

Подставляя значение по формуле (1), получаем

D K/f-&.

(3)

Оптический способ измерения линейных перемещений объекта, заключающийся в том, что на объект направляют световой поток, формируют плоские опорный и измерительный пучки, совмещают их, регистрируют интерференционную картину и определяют

величину перемещения, отличающийся тем, что, с целью повышения надежности измерений, совмещение опорного и измерительного пучков осуществляют под углом Y

д/Х/й(, где К - длина волны света, d - поперечный размер меньшего из пучков, на интерференционную картину накладывают решетку с шагом , которую ориентируют так, чтобы угол между интерферен- циоными полосами и штрихами решетки был равен углу у. а о величине перемешения судят по смешению муаровых полос.

8ы)(.одной сигнал

ФигЛ

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1404809A1

Алякиеев С
А
и др
Лазерные измерители линейных перемещений для точного станкостроения
-Обзоры по электронной технике
Ин-т электроники
ПРИБОР ДЛЯ ЗАПИСИ И ВОСПРОИЗВЕДЕНИЯ ЗВУКОВ 1923
  • Андреев-Сальников В.А.
SU1974A1
Приспособление для точного наложения листов бумаги при снятии оттисков 1922
  • Асафов Н.И.
SU6A1
Очаг для массовой варки пищи, выпечки хлеба и кипячения воды 1921
  • Богач Б.И.
SU4A1

SU 1 404 809 A1

Авторы

Гладырь Владимир Иванович

Голыгин Николай Христофорович

Иванов Анатолий Сергеевич

Степанов Александр Владимирович

Даты

1988-06-23Публикация

1986-11-19Подача