ЛАЗЕРНАЯ АКТИВНАЯ СРЕДА Советский патент 1995 года по МПК H01S3/16 

Описание патента на изобретение SU1407368A1

Изобретение относится к области квантовой электроники, к лазерным активным средам на основе монокристаллов с центрами окраски (ЦО) и может быть использовано при создании плавно перестраиваемых по частоте квантовых усилителей и генераторов, работающих при комнатной температуре в области 520-750 нм.

Целью изобретения является снижение порога генерации F3+-центров при одновременном повышении оптической устойчивости F2-центров в лазерной активной среде на основе монокристалла фтористого лития.

Лазерная активная среда на основе монокристалла LiFc F2- и F3+-центрами содержит концентрации рабочих центров, определяемые коэффициентом их оптического поглощения на длине волны 460 нм в интервале 27-37 см-1 для F3+; 33-99 см-1 для F2-центров, а коэффициент поглощения сопутствующих F3-центров находится в интервале 0,01-2,3 см-1 на длине волны 380 нм.

Нижние границы указанных значений коэффициентов поглощения рабочих центров обусловлены тем, что дальнейшее уменьшение концентрации F2 и F3+-центров повышает величины пороговых плотностей накачки до значений, при которых имеет место оптическое разрушение F2-центров.

Нижняя граница коэффициента поглощения F3-центров соответствует минимально достигнутому значению коэффициента поглощения, полученному для лазерной среды LiF(F2, F3+) с указанной выше концентрацией рабочих центров.

При концентрации F3-центров, соответствующей верхней границе указанных выше концентраций (2,3 см-1), порог генерации, как показали испытания, приближается к 150 кВт/см2. При превышении этого значения уже наблюдается разрушение F2-центров. Следовательно, дальнейшее повышение нецелесообразно.

Верхняя граница указанного выше интервала концентрации (коэффициента поглощения) F3+-центров определяется потерями в области генерации F3+-центров. Дальнейшее увеличение коэффициента поглощения F3+-центров приводит к росту поглощения в спектральной области излучения этих центров и повышению порога.

Поскольку крыло полосы поглощения F2-центров распространяется на спектральную область генерации F3+-центров, то первые центры вносят потери при генерации вторыми центрами. Так как верхний предел концентрации F3+-центров ограничен, и вместе с тем, необходимо обеспечить одновременную генерацию двух типов центров окраски, то концентрация F2-центров должна быть связана с концентрацией F3+-центров. Как показали эксперименты, при коэффициентах поглощения F2 до 99 см-1, соответствующих верхней границе их концентрации, еще наблюдается генерация на обоих типах ЦО с порогами не превышающими 150 кВт/см2. Это и определяет верхнюю границу коэффициентов поглощения F2 ЦО.

Изобретение поясняется чертежами, где на фиг. 1,2 представлены спектры оптического поглощения и люминесценции лазерных активных сред LiF(F2, F3+).

П р и м е р 1. Лазерная среда представляет собой монокристалл LiF, содержащий F2 = и F3+-центры. F2-центры включают в свой состав две анионные вакансии, с двумя локализованными на них электронами. Полоса поглощения F2-центров имеет максимум на λm-441 нм, излучение - 680 нм. F3+-центры включают в свой состав три анионные вакансии с двумя локализованными на них электронами. Спектральные характеристики F3+-центров, соответственно λпогл = 458 нм, λизл= 540 нм. Имея в распоряжении спектры и зная соотношение интенсивностей полос в спектрах люминесценции, определяют концентрации рабочих центров по формулам
K = , K = Km-K, где Кm - суммарный коэффициент поглощения на длине волны 460 нм, см-1;
I/I- соотношение интенсивностей люминесценции F2 = и F3+-центров, соответственно;
/= 2,7 - соотношение квантовых выходов рабочих центров, определенное экспериментально.

Они составили, в единицах коэффициента поглощения К на длине волны 460 нм: K+ = 27 см-1; K = 33 см-1. Коэффициент поглощения сопутствующих F3-центров на длине волны 380 нм; K = 0,01 см-1. На фиг. 1 (кривая 1) представлены спектральные характеристики данной среды.

П р и м е р 2. Другая лазерная среда изготовлена на основе монокристалла фторида лития, содержащего рабочие центры в концентрации (кривая 2): K+ = 32,5 см-1; K = 49,0 см-1, а сопутствующие центры K = 0,38 см-1.

П р и м е р 3. Еще одна лазерная среда изготовлена на основе монокристалла LiF, содержащего рабочие центры в концентрации (фиг. 2, кривая 3): K+ = 37 см-1; K= 99 см-1, а также сопутствующие центры K = 2,3 см-1.

П р и м е р 4. Лазерная среда изготовлена на основе монокристалла фтористого лития, содержащего рабочие центры в концентрации (кривая 4): K = 48 см-1, K = 135 см-1. Коэффициент поглощения сопутствующих F3-центров K = 4,2 см-1.

Лазерные элементы выполнены в форме параллелепипедов из кристаллов, окрашенных облучением сильноточными импульсами электронов с длительностью 10 нс, энергией до 0,3 МэВ. При этом глубина проникновения электронов составила 300 мкм. За один импульс вводили в кристалл через поверхность 1 см-2 1,66 х 1013 электронов. Облучение проводили при комнатной температуре. Дозу для различных лазерных сред устанавливали различной, варьируя количество импульсов облучения. Лазерные элементы имели следующие размеры: 10 х 5 х 3 мм3. Исследуемый элемент выполнен на основе единого монокристалла, содержащего окрашенный слой толщиной 300 мкм и неокрашенную часть. Окрашенный слой, содержащий рабочие центры, прилегал к грани лазерного элемента размером 5 х 10 мм2. Оптическая плотность слоя D на λ= 460 нм измерялась с помощью спектрофотометра MPS-50L. По измеренному значению D с учетом спектров люминесценции находился коэффициент поглощения рабочих центров. Характеристики лазерных элементов приведены в таблице.

Коэффициенты поглощения ρ всех описанных предложенных элементов в спектральной области генерации 516-750 нм, характеризующие потери, не превышали 1 см-1. Малое значение отношения Р/К характерно для предложенных лазерных сред, поскольку условия облучения не способствовали образованию сложных агрегатных центров. В таблице приведены также значения пороговой плотности мощности накачки в схеме лазера с поперечной накачкой. Для накачки использовалась вторая гармоника перестраиваемого лазера на F2+-центрах в LiF-OH с λ= 457 ем, который накачивался лазером на рубине. Как следует из приведенных данных при коэффициенте K+ = 27-37 см-1 и K = 33-99 см-1, а также концентрации сопутствующих центров K = 0,01-2,3 см-1 порог накачки находится в интервале 60-150 кВт/см2.

Вместе с тем из таблицы следует, что при значениях K+ = 27 см-1и K = 33 см-1 величина порога плотности мощности накачки F3+-центров приближается к предельному значению, превышение над которым приводит к снижению оптической устойчивости F2-центров. Следовательно, дальнейшее уменьшение концентрации рабочих центров не целесообразно.

Для лазерной среды с K+ = 37 см-1 и K = 99 см-1 порог генерации F3+-центров достигает 150 кВт/см2 в связи с ростом потерь в области генерации F3+-центров в спектрах поглощения (см. фиг. 2, кривая) начинают проявляться агрегатные центры R (380 нм) с коэффициентом поглощения в максимуме K = 2,3 см-1 и N (520, 550 нм) - центры). Поэтому следует ограничиться значениями K+ = 27-37 см-1 и K = 33-99 см-1.

Изменения соотношения интенсивностей люминесценции рабочих центров в пользу F2-центров и рост потерь в области генерации F3+-центров приводит к тому, что наблюдается генерация только в красной области спектра. Примером является лазерная среда с K+ = 48 см-1 и K = 135 см-1; K = 4,2 см-1.

Для описанных лазерных элементов минимальное значение пороговой плотности мощности накачки для F3+-центров составило 60 кВт/см2. Минимальная пороговая энергия накачки F3+-центров - 45 мкДж. Более низкий порог позволяет работать в области малых плотностей мощности накачки (до 150 кВт/см2), благодаря чему повышается устойчивость F2-центров.

Таким образом, предлагаемая лазерная среда на основе монокристалла фтористого лития с F2 = и F3+-центрами окраски, дает возможность значительно снизить порог генерации F3+-центров, получив одновременно генерацию на двух типах ЦО (F2, F3+) с расширением спектральной области генерации (516-750 нм).

Похожие патенты SU1407368A1

название год авторы номер документа
СПОСОБ ПРИГОТОВЛЕНИЯ ЛАЗЕРНОЙ СРЕДЫ CF -ЦЕНТРАМИ ОКРАСКИ 1986
  • Мартынович Е.Ф.
  • Барышников В.И.
  • Щепина Л.И.
SU1447220A1
АКТИВНАЯ ЛАЗЕРНАЯ СРЕДА НА ОСНОВЕ МОНОКРИСТАЛЛА ФТОРИДА ЛИТИЯ С F-ЦЕНТРАМИ ОКРАСКИ И СПОСОБ ЕЕ ПОЛУЧЕНИЯ 1985
  • Мартынович Е.Ф.
  • Барышников В.И.
  • Григоров В.А.
  • Щепина Л.И.
SU1322948A1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МАТЕРИАЛА ДЛЯ АКТИВНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ И ПАССИВНЫХ ЗАТВОРОВ ЛАЗЕРОВ 1982
  • Иванов Н.А.
  • Хулугуров В.М.
  • Чепурной В.А.
  • Шнейдер А.Г.
SU1102458A1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ЛАЗЕРНОГО ЭЛЕМЕНТА 1985
  • Иванов Н.А.
  • Михаленко А.А.
  • Хулугуров В.М.
  • Непомнящих А.И.
SU1331394A1
КЕРАМИЧЕСКИЙ ЛАЗЕРНЫЙ МИКРОСТРУКТУРИРОВАННЫЙ МАТЕРИАЛ С ДВОЙНИКОВОЙ НАНОСТРУКТУРОЙ И СПОСОБ ЕГО ИЗГОТОВЛЕНИЯ 2007
  • Басиев Тасолтан Тазретович
  • Осико Вячеслав Васильевич
  • Конюшкин Василий Андреевич
  • Федоров Павел Павлович
  • Кузнецов Сергей Викторович
  • Дорошенко Максим Евгеньевич
RU2358045C2
ПЕРЕСТРАИВАЕМЫЙ ЛАЗЕР 1991
  • Басиев Тасолтан Тазретович[Ru]
  • Зверев Петр Георгиевич[Ru]
  • Миров Сергей Борисович[Ru]
  • Папашвили Александр Георгиевич[Ge]
  • Федоров Владимир Вадимович[Ru]
RU2023333C1
МАТЕРИАЛ ДЛЯ АКТИВНЫХ ЭЛЕМЕНТОВ ЛАЗЕРОВ, ПАССИВНЫХ ЛАЗЕРНЫХ ЗАТВОРОВ И АПОДИЗИРУЮЩИХ ДИАФРАГМ 1982
  • Лобанов Б.Д.
  • Максимова Н.Т.
  • Парфианович И.А.
  • Цирульник П.А.
  • Волкова Н.В.
  • Исянова Е.Д.
  • Васильев С.Г.
  • Симин Б.А.
SU1123499A1
ТВЕРДОТЕЛЬНЫЙ ЛАЗЕР ЖЕЛТОГО СПЕКТРАЛЬНОГО ДИАПАЗОНА 2000
  • Басиев Т.Т.
  • Дорошенко М.Е.
  • Зверев П.Г.
  • Прохоров А.М.
RU2178939C1
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ НЕЛИНЕЙНОГО МАТЕРИАЛА ДЛЯ ОБРАЩЕНИЯ ВОЛНОВОГО ФРОНТА ЭЛЕКТРОМАГНИТНОЙ ВОЛНЫ 1986
  • Иванов Н.А.
  • Иншаков Д.В.
  • Махро И.Г.
  • Хулугуров В.М.
SU1396795A1
АКТИВНЫЙ ЭЛЕМЕНТ ЛАЗЕРА 1979
  • Лобанов Б.Д.
  • Хулугуров В.М.
  • Парфианович И.А.
  • Максимова Н.Т.
  • Иванов Н.А.
SU762692A1

Иллюстрации к изобретению SU 1 407 368 A1

Реферат патента 1995 года ЛАЗЕРНАЯ АКТИВНАЯ СРЕДА

Изобретение относится к квантовой электронике, к лазерным активным средам на основе монокристаллов с центрами окраски (ЦО). Цель изобретения - снижение порога генерации F+3

-центров при одновременном повышении оптической устойчивости F2 -центров. Для этого лазерная активная среда на основе монокристалла LiF(F2F+3
) содержит концентрации рабочих центров, соответствующие коэффициентам поглощения на длине волны 460 мм в интервале 27-37 см-1 для F+3
= 33-99 см-1 для F2 -центров, а коэффициент поглощения сопутствующих F3 -центров находится в интервале 0,01-2,3 см-1 на длине волны 380 мм. Лазерная активная среда LiF(F2, F+3
) дает возможность получить одновременно генерацию на двух типах ЦО (F2, F+3
) с расширением спектральной области генерации (516-750 мм). 2 ил., 1 табл.

Формула изобретения SU 1 407 368 A1

ЛАЗЕРНАЯ АКТИВНАЯ СРЕДА на основе монокристалла фтористого лития с F2= F+3

-рабочими и сопутствующими F3 - центрами, отличающаяся тем, что, с целью снижения порога генерации F+3
- центров при одновременном повышении оптической устойчивости F2 - центров, концентрации рабочих центров соответствуют коэффициентам оптического поглощения на длине волны 460 нм в интервале 27 - 37 см-1 для F+3
-, в интервале 33 - 99 см-1 для F2 - центров и в интервале 0,01 - 2,3 см-1 на длине волны 380 нм для F3 - центров.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1995 года SU1407368A1

Li - xing Zheng, liang - feng Wan
double stimulated emission of mixed color centers in an Lif crystal
Optics
Commun, 1985, v.55, N 4, p.277-279.

SU 1 407 368 A1

Авторы

Мартынович Е.Ф.

Барышников В.И.

Григоров В.А.

Щепина Л.И.

Колесникова Т.А.

Даты

1995-03-27Публикация

1986-07-22Подача