Способ определения параметров колебаний объекта Советский патент 1988 года по МПК G01H9/00 

00

1чЭ

4

; Изобретение относится к измерительной ехнике и может быть ибЬользовано при ис- |;ледовании колебаний объектов методом го- .(юграфической интерферометрии. i Целью изобретения является увеличение 1нформативности за счет:обеспечения воз- ложности определения частоты колебаний и эасширения частотного диапазона определе- 1ИЯ амплитуд колебаний. I Способ осуществляется следующим образом.

I Освещают исследуемый объект когерентным излучением. Отраженное от объекта излучение, представляюш.ее собой предметную золну, направляют на фоторефрактивный ристалл типа Bii2TiO2o. Экспонируя кристалл, записывают на нем голограмму объекта с использованием модулированной по фазе по периодическому закону опорной волны. Одновре.менно с записью голограммы осуществляют освещение кристалла волной, направленной навстречу опорной волне, и восстанавливают этой волной голограмму.

Регистрируют интенсивность восстановленной волны и, изменяя частоту модуляции опорной волны, добиваются появления переменной составляющей в зависимости интенсивности восстановленной волны от времени. Фиксируют значение ым частоты модуляции, при котором появляется переменная составляющая и измеряют частоту Q переменной составляющей. После этого изменяют глубину модуляции до получения макси- |мальной величины переменной составляющей |И фиксируют это значение А глубины мо; |дуляции. По полученным данным рассчи- тывают значения частоты колебаний по {формуле О) (DM ± Q/2, при этом знак

0

5

0

5

0

«+ берется при увеличении частоты модуляции, а знак «- - при ее уменьщении, и значения амплитуды колебаний по формуле

Z A. 4л

Формула изобретения

Способ определения параметров колебаний объекта, заключающийся в том, что экспонируют фоторефрактивный кристалл опорной и предметной волнами когерентного излучения, одновременно осуществляют освещение кристалла волной, направленной навстречу опорной волне, восстанавливают кристалла голограмму и регистрируют восстановленную волну в виде зависимости ее интенсивности от времени, по которой определяют параметры колебаний объекта, отличающийся тем, что, с целью повыщения информативности, при экспонировании используют опорную волну, модулированную по фазе в соответствии с периодическим законом, частоту модуляции изменяют до появления переменной составляющей в зависимости интенсивности восстановленной волны от времени, фиксируют значение частот модуляции и переменной составляющей, при зафиксированной частоте моду/1яции изменяют глубину модуляции до получения макси- .мальной величины переменной составляющей и по зафиксированным значениям частот модуляции и переменной составляющей определяют частоту колебаний, а по глубине модуляции, соответствующей максимальному значению переменной составляющей, - амплитуду колебаний.

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано при исследовании колебаний объектов методом голографической интерферометрии. Целью изобретения является увеличение информативности за счет возможности определения частоты колебаний и расширения частотного диапазона определения амплитуд колебаний. Для этого при записи голограммы на фоторефрактивный кристалл используют модулированную по фазе опорную волну. Одновременно с записью осушест- вляют восстановление голограммы и регистрацию интенсивности восстановленной волны в зависимости от времени. Изменяя частоту модуляции, добиваются появления переменной составляющей в этой зависимости и по полученным значениям частоты модуляции в этот момент и частоты переменной составляющей рассчитывают частоту колебаний объекта. После этого изменяют глубину модуляции до получения максимального значения переменной составляющей и по полученному значению глубины модуляции определяют амплитуду колебаний. § (Л