Оптико-электронная установка для контроля наличия микронных отверстий в полупрозрачных и плотных пленках Советский патент 1961 года по МПК G01B9/00 

Описание патента на изобретение SU141656A1

Обычно контроль наличия небольших отверстий в полупрозрачных и ПЛОТНЫХ пленках в заводских условиях производится визуально на поосвет что в производственных условиях яляется малопроизодительньш и неэффективным, так как не может гарантировать обнаружения всех имеющихся микронных отверстий в пленке.

Предлагаемая оптико-электронная установка для контроля наличия микронных отверстий в полупрозрачных и плотных пленках позволяет автоматизировать процесс контроля обнаружения небольших отверстий и осуществить непрерывность процесса измерения. Решение поставленной задачи обеспечивается применением в качестве развертываю; щего устройства вращающейся многогранной призмы, установленной за апертурной диафрагмой осветителя, которая расположена в фокальЗ ПЛОСКОСТИ объектива. Для проектирования изображения на катод фотоумножителя в плоскости, сопряженной с плоскостью контролируемой пленки, расположена диафрагма с прямоугольным отверстием приведена оптическая схема предлагаемой установки. Осветительная часть установки выполнена в виде источника света 1 сферического рефлектора 2, фильтра 3 и трехлинзового конденсора 4 который дает мнимое изображение источника cBeja в плоскости 5 С помощью сферических зеркал и 7 и наклонной полупрозрачной пластины 8 изображение источника света из точки О, рас.положенной в ПЛОСКОСТИ 5, переносится в точку О,, в которой расположен входной зрачок приемной части установки - апертурная диафрагмаТнад осветителем находится стол 10 с щелевой прорезью, закрытой защитным плоскопараллельным стеклом И.

А ертурная диафрагма 9 расположена в фокальной плоскости объектива, благодаря чему создается телецентрическии ход лучеи,

141656-2-.:

значительно улучшающий условия работы развертывающего устройства, выполненного-;В виде вращающейся многогранной призмы 12.

В плоскости /5, сопряженной с плоскостью контролируемого изделия 14, р1асп6яагйется диафрагма с прямоугольным отверстием, за которой расцо/южена конденсорная линза 15, проектирующая изображение на катод фотоумножителя 16. Призма 12 приводится в равномерное вращение от синхронного электродвигателя (на чертеже электродвигатель ,не показан), благодаря ; чему производится построчная развертка изображения контролируемой пленки в плоскйсти стола.

Для осуществления непрерывного процесса контроля пленка перемещается над столом перпендикулярно направлению развертки.

Электрическая часть установки-состоит из приемного устройства в виде фотоэлектронного умножителя, импульсного усилителя и блока питания.

Предлагаемая установка может быть рекомендована для массового контроля наличия микронных отверстий в полупрозрачных и плотных пленках на автоматических и поточных линиях оптико-механических заводов; гальванических цехах различных предприятий.

Предмет изобретения

Оптико-электронная установка для контроля наличия микронных отверстий в полупрозрачных и плотных пленках, отличающаяся тем, что, с целью автоматизации и осуществления непрерывности процесса измерения, за апертурной диафрагмой осветителя, расположенной в фокальной плоскости обтйктива, установлено развертывающее устройство в виде вращающейся многогранной призмы, а в плоскости, сопряженной с плоскостью контролируемого изделия, расположена диафрагма с прямоугольным отверстием, проектирующая изображение на катод фотоумножителя.

Похожие патенты SU141656A1

название год авторы номер документа
Насадка к кинопроектору для проектирования звездной системы на вогнутую сферическую поверхность 1933
  • Чуриловский В.Н.
SU40607A1
ЛАЗЕРНЫЙ ЦЕНТРАТОР ДЛЯ РЕНТГЕНОВСКОГО ИЗЛУЧАТЕЛЯ 2000
  • Маклашевский В.Я.
  • Кеткович А.А.
  • Филинов В.Н.
RU2179789C2
ВИДЕОСПЕКТРАЛЬНЫЙ КОМПАРАТОР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ЦЕННЫХ БУМАГ И ДОКУМЕНТОВ 1999
  • Санников Петр Алексеевич
  • Шумский Иван Петрович
  • Казеев Юрий Иванович
  • Бодров Виталий Юрьевич
RU2158961C1
Устройство для контроля качества изображения объектива 1990
  • Живов Виктор Михайлович
  • Свистунов Виктор Васильевич
SU1795411A1
ЭЛЕКТРОННЫЙ ЦВЕТОДЕЛИТЕЛЬ-ЦВЕТОКОРРЕКТОР 1964
  • Лебедь Г.Г.
  • Едемский В.А.
SU174070A1
ПРИБОР ДЛЯ ИЗМЕРЕНИЯ ПАРАМЕТРОВ ВНУТРИГЛАЗНЫХЭЛЕМЕНТОВ 1969
SU252665A1
Устройство для измерения крупногабаритных деталей 1957
  • Валитов А.М.
  • Романова Л.В.
  • Соболев Н.П.
  • Чуриловский В.Н.
SU113787A1
ДАТЧИК УГЛА ПОВОРОТА 2017
  • Колосов Михаил Петрович
  • Гебгарт Андрей Янович
RU2644994C1
РЕНТГЕНООПТИЧЕСКИЙ ЭНДОСКОП 2003
  • Кеткович А.А.
  • Маклашевский В.Я.
RU2239179C1
Интерференционный способ измерения термических изменений показателя преломления стекол и кристаллов и прибор для его осуществления 1960
  • Левин Б.М.
SU144304A1

Иллюстрации к изобретению SU 141 656 A1

Реферат патента 1961 года Оптико-электронная установка для контроля наличия микронных отверстий в полупрозрачных и плотных пленках

Формула изобретения SU 141 656 A1

(I го

t 31 2

SU 141 656 A1

Авторы

Марченко Б.М.

Целищев В.И.

Чуриловский В.Н.

Даты

1961-01-01Публикация

1960-11-22Подача