41О
2.0
Од /г)
Ияобретение относится к полиграфии, а именно к тест-объектам для контроля характеристик процессов при репродуцировании изображеяий.
Целью изобретения является попы- шение точности контроля путем устранения муара и моделирования свойств изображения.
На чертеже представлен тест-объект
Тест-объект содержит два нейтральны серых оптических клина 1, 2 с растровыми элементами 3 нерегулярной структуры с изменяющейся вдоль клина оптической гшотностью, линию 4 зеркальной симметрии оптических клиньев.
Тест-объект работает следующим образом .
Его репродуцируют с масштабированием и (или) растрированием вместе с оригиналом. По полученному изображению тест-объекта контролируют зону около линии 4 стыка оптических клиньев 1 и 2. На изображении тест-объекта у линии стыка исчезают растровые микроэлементы нерегулярной структуры. Ширина зоны исчезновения растровых элементов, их величина, например 15- 60 мм, и оптическая плотность, например 0,05-2,50 Б, являются количест- венной характеристикой процесса репродуцирования . По результатам контроля вносят изменения в режимы репродуцирования для уменьшения зоны исчезновения растровых микроэлементов. Зона исчезновения микрозлементов тем больше чем больше масштаб отличается от 100%, чем ниже частота растра, применяемого гфи растрировании, чем ниже качество
оптической системы и систем1 1 репродуцирования в целом.
Пример 1. Тест-объект, изготовленный на фотобумаге, воспроизведен на фотоаппарате AXZ-56 в масштабе 66% с прямым растрированием при- помощи контактного растра с линеату- рой 48 л/см на фотопленке ФТ41 с обработкой в проявителе Ф1-2.
Контроль проводится визуально по тест-объекту.
Зона около линии 4 стыка оптичес-- ких клиньев 1 и 2 без визуально различимых микроэлементов размером 15- 60 мкм охватывает интервал оптических плотностей до 0,4 Б. Поэтому при репродуцировании оригиналов в зтих условиях не воспроизводят детали размером менее 60 мкм и оптической плотностью менее 0,4 Б.
Пример 2. Тест-объект, изготовленный на фотопленке, воспроизведен на фотоаппарате AXZ-56 в масштабе 200% без растрирования на фотопленке FV2 с обработкой в разбавленном П1 проявителе ФТ-2. Контроль проводится по тест-объекту визуально. Зока около линии стыка 4 без визуально различимых микроэлементов размером 10-70 мкм охватывает интервал оптических плотностей до 0,2 Б. Поэтому при репродуцировании оригиналов в этих условиях не воспроизводятся детали размером менее 70 мкм и оптической плотностью менее 0,2 Б.
Ф,ормула изобретения
Тест-объект для контроля качества репродуцирования изображения преимущественно в процессах репродуцирования с изменением масштаба или растрированием, содержащий два нейтральных серых оптических клина с изменяющейся вдоль клина оптической плотностью, отличающийся тем, что, с целью повьш1ения точности контроля путем устранения муара и моделирования свойств реальйого изображения, оптические клинья тест-объекта снабжены растровыми микроэлементами и установлены друг к другу зонами меньших оптических ппотностей, гфичем растровые микроэлементы имеют нерегулярную структуру.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ РАСТРОВОГО КВАДРАТА С НЕРЕГУЛЯРНЫМ ЗАПОЛНЕНИЕМ ЯЧЕЕК ПЕЧАТНЫМИ ЭЛЕМЕНТАМИ | 2011 |
|
RU2466442C1 |
Способ изготовления растрового изображения | 1985 |
|
SU1283704A1 |
Способ контроля процесса проявления | 1990 |
|
SU1781664A1 |
Способ растровой электрофотографии | 1973 |
|
SU637780A1 |
СПОСОБ ПОЛУЧЕНИЯ СКРЫТОГО ИЗОБРАЖЕНИЯ | 2014 |
|
RU2587433C2 |
Тест-объект для контроля рабочих свойств проявителей типа "лит | 1986 |
|
SU1352441A1 |
Электрофотографический аппарат дляМНОгОцВЕТНОгО КОпиРОВАНия | 1976 |
|
SU822771A3 |
Тест-объект | 1984 |
|
SU1210124A1 |
Тест-объект для контроля процесса проявления | 1988 |
|
SU1686403A1 |
Способ изготовления контактного растра с нерегулярной структурой | 1988 |
|
SU1622877A2 |
Изобретение относится к тесту- объекту для контроля качества репродуцирования изображения и позволяет повысить точнос ь контроля путем устранения муара и моделирования свойств изображения. Тест-объект содержит два нейтральных серых оптических клина 1, 2с изменяющейся вдоль клина оптической плотностью. Клинья 1, 2 имеют растровые микроэлементы 3 нерегулярной структуры. Опт ческие клинья 1, 2 установлены друг к другу зонами меньших оптических плотностей. 1 ил. 45
Фризер X | |||
Фотографическая регистрация информации | |||
М.: Мир, 1978, с | |||
Способ получения сульфокислот из нефтяных дестиллатов, минеральных масел, парафина или церезина, обработанных серною кислотою | 1912 |
|
SU460A1 |
Авторы
Даты
1988-08-15—Публикация
1986-06-23—Подача