Интерферометр для контроля выпуклых параболоидов Советский патент 1988 года по МПК G01B9/02 G01B11/24 

Описание патента на изобретение SU1425437A1

ни

to

Oi

со

контролируемой поверхности. Таким образом, контроль выпуклых параболо- :ндов с центральной рабочей зоной становится возможным проводить за один прием, исключив дополнительную и менее точную операцию контроля цент- ,рапьной зоны с помощью пробного стекла. Интерферометр содержит источник 1 :монохроматического излучения и последовательно установленные по ходу излучения фокусирующую оптическую систему 2, диафрагму 3, объектив 4, светоделитель 5, двойное плоское зеркало 6, второй светоделитель 10, входной объектив 9 системы регистрации интерференционной картины, экран 11, афо- кальнуш систему, состоящую из линзовых компонентов 7 и 8. 1 ил.

Похожие патенты SU1425437A1

название год авторы номер документа
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ АСФЕРИЧЕСКИХ ПОВЕРХНОСТЕЙ ВТОРОГО ПОРЯДКА 2009
  • Ларионов Николай Петрович
RU2396513C1
Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка 1990
  • Феоктистов Владимир Андреевич
SU1712778A1
Интерферометр для контроля формы поверхности выпуклых сферических деталей 1988
  • Пуряев Даниил Трофимович
  • Лазарева Наталия Леонидовна
  • Горшков Владимир Алексеевич
  • Фомин Олег Николаевич
SU1610248A1
Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка 1988
  • Феоктистов Владимир Андреевич
  • Хуснутдинов Амирхан Гильмутдинович
SU1627829A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ФОРМЫ РАЗНОПРОФИЛЬНЫХ ПОВЕРХНОСТЕЙ КРУПНОГАБАРИТНЫХ ОПТИЧЕСКИХ ДЕТАЛЕЙ 2017
  • Патрикеев Владимир Евгеньевич
  • Семенов Александр Павлович
  • Пуряев Даниил Трофимович
  • Дружин Владислав Владимирович
RU2663547C1
УСТРОЙСТВО ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПОЛОЖЕНИЙ ДЕФЕКТОВ НА АСФЕРИЧЕСКОЙ ПОВЕРХНОСТИ ОПТИЧЕСКОЙ ДЕТАЛИ (ВАРИАНТЫ) 2015
  • Ларионов Николай Петрович
  • Агачев Анатолий Романович
RU2612918C9
Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка 1988
  • Феоктистов Владимир Андреевич
SU1657947A1
ИНТЕРФЕРОМЕТР ДЛЯ КОНТРОЛЯ ТЕЛЕСКОПИЧЕСКИХ СИСТЕМ И ОБЪЕКТИВОВ 2012
  • Ларионов Николай Петрович
RU2518844C1
Интерферометр для контроля асферических поверхностей второго порядка 1987
  • Феоктистов Владимир Андреевич
  • Хуснутдинов Амирхан Гильмутдинович
  • Назмеев Мунир Минхадыевич
SU1523905A1
Интерферометр для контроля формы поверхности выпуклых сферических деталей 1978
  • Пуряев Д.Т.
SU1067909A1

Реферат патента 1988 года Интерферометр для контроля выпуклых параболоидов

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для технологического и аттестационного контроля выпуклых параболоидов в оптическом приборостроении. Цель изобретения - расширение диапа зона контралируе и х поверхностей, вышение точности и производительности контроля благодаря тому, -что оптическая система позволяет направить в рабочую ветвь интерферометра световой пучок, отраженный всеми зонами

Формула изобретения SU 1 425 437 A1

i 1

Изобретение относится к измерительной технике и может быть использовано для технологического и аттес- (тационного контроля выпукльк парабо- 1повдов в оптическом приборостроении.

Цель изобретения - расширение диапазона контролируемых поверхностей, повышение точности и производитель-, ности контроля благодаря тому, что ;световой пучок рабочей ветви направ- |ляется на контролируемую поверхность (пинзовым компонентом афокальной сис- ;темы, фокус которого совмещен с Й окусом поверхности. Это позволяет полностью осветить контролируемую поверхность и направить отраженньй все йи зонами контролируемой поверхности параллельный пучок в рабочую ветвь интерферометра, что дает возможность Контролировать выпуклые Цараболоиды с нерабочей, так и рабочей цент- ральной зоной, а также благодаря ому, что поверхность контролируется за один прием, что позволяет исключить дополнительную менее точную операцию контроля центральной рабочей зоны с помощью сферического пробного стекла.

На чертеже изображена оптическая схема предлагаемого интерферометра.

Интерферометр для контроля выпуклых параболоидов содержит источник 1 монохроматического излучения и последовательно установленные по ходу из лучения фокусирующую оптическую систему 2, диафрагму 3, объектив 4, светоделитель 5 для разделения излучения на две ветви - опорную и рабочую эталонное, зеркало, располохсенное в опорной ветви и выполненное в виде двойного зеркала 6, состоящего из

плоских зеркал, расположенных под углом 90 друг к другуJ оптическую систему, выполненную афокальной и состоящую из двух полокительньк линзовых компонентов 7 и 8, расположенных по разные стороны светодетителя 5,- систему (не чертеже не показана) регистрации интерференционной ка:рти- ны, включающую входной объектив 9,

второй светоделитель 10, экран 11.

Интерферометр работает следующим образом.

Свет от источника 1 монохроматического излучения фокусирующей оптической системой 2 направляется в диафрагму 3, установленную в фокусе объектива 4. Параллельный пучок, сформированный объективом 4 с помощью светоделителя 5, делится на

опорную и рабочую ветви. Параллельный пучок опорной ветви, отраженный двойным зеркалом 6, с помощью второго светоделителя. 10 направляется во входной объектив 9 системы регистрации интерференционной картины. Па- рйллельный пучок рабочей ветви проходит линзовый компонент 7 и направляется на контролируемую деталь 12 с выпуклой параболической поверхностью. Фокус параболической поверхности совмещают с фокусом F линзового компонента 7, а оптическую ось параболической поверхности - с оптиче с кой осью афокальной системы.

Отраженный от параболической поверхности параллельный пучок проходит афокальную систему и, пройдя светоделитель 10, попадает во входной объектив 9. Интерференционную картину, возникающую в результате взаимодействия рабочего и опорного пучков

наблюдают непосредственно глазом из фокуса Fj или на экране 11.

Формула изобретения

Интерферометр для контроля выпуклых параболоидов, содержащий источник монохроматического излучения и последовательно установленные по ходу излучения фокусирующую оптическую систему, диафрагму, объектив, расположенный так, что его фокус совмещен с диафрагмой, и первый светоделитель для разделения излучения на две вет- ви - спорную и рабочую, эталонное зеркало, расположенное в опорной ветви, оптическую систему, расположенную в рабочей ветви, и систему регистрации интерференционной картины, включающую входной объектив, отличающийся тем, что, с целью

расширения диапазона контролируемых поверхностей, повышения точности и производительности контроля, о.н снабжен вторым светоделителем, установ ленным между оптической системой par- бочей ветви и входным объективом параллельно первому светоделителю, оптическая система рабочей ветви выполнена афокальной, состоит из двух положительных линзовых компонентов, расположенных по разные стороны первого светоделителяj и установлена так, что оптическая ось системы совмещена с оптической осью входного объектива, а этялонное зеркало выполнено в виде двойного зеркала, состоящего из плоских зеркал, расположенных под углом 90° друг к другу, и установленного так, что оптическая ось опорной ветви совмещена с оптической осью входного объектива.

Документы, цитированные в отчете о поиске Патент 1988 года SU1425437A1

Пуряев Д.Т
Методы контроля оптических асферических поверхностей
- М.: Машиностроение, 1976, с
Дорожная спиртовая кухня 1918
  • Кузнецов В.Я.
SU98A1
рис
Способ сужения чугунных изделий 1922
  • Парфенов Н.Н.
SU38A1
Инюшин А.И
и Шифферс Л.А
Интерференционный метод контроля выпуклых параболических поверхностей
- OfQI, 1966, № 8, с
Способ изготовления электрических сопротивлений посредством осаждения слоя проводника на поверхности изолятора 1921
  • Андреев Н.Н.
  • Ландсберг Г.С.
SU19A1
Печь для непрерывного получения сернистого натрия 1921
  • Настюков А.М.
  • Настюков К.И.
SU1A1

SU 1 425 437 A1

Авторы

Феоктистов Владимир Андреевич

Назмеев Мунир Минхадыевич

Хуснутдинов Амирхан Гильмутдинович

Алипов Борис Алексеевич

Даты

1988-09-23Публикация

1987-03-30Подача