Способ измерения напряженности электрического поля в твердом диэлектрике Советский патент 1988 года по МПК G01R29/12 

I Изобретение относится к технике эл ктроизмерений, в частности к измерению электростатических полей, и мо|жет быть использовано для неразру- тающего контроля напряженности электростатического поля в диэлектриках,

I Цель изобретения - повьппениа точ- й о1сти и сокращение времени измерения.

Способ измерения напряженности электрического поля в твердом ди- этектрике реализуется следующим об- р«зом.

Плоскопараллельный, заряженный кгкйм-либо способом, диэлектрик облучгют потоком электромагнитного излучения слабой интенсивности, поглощающимся в слое толщиной г. При помощи электрометра регистрируют ток 1, т ка|6щий в диэлектрике. После первого и:1мерения тока I к образцу прикЛадыва ю произвольно выбранное напряжение и I и измеряют ток 1,. напряженность электрического поля определяют из вы- р ения

г tUt-U J h(i,-I,j)

h - толщина образца, м.

I Величины-/tJ, и и не должны быть пЬобивными для образца диэлектрика. |Е1сли в заряженном диэлектрике имеется напряженность электрического поля Е, i|o после приложения к электродам на- 1|ряжение результирующая напряженность 1 лектрического поля равна Е U, /h. 1:огда

Е

(1)

I, oi Е + ) ,

(2

где I, - ток, измеряемый в образце с приложенным напряжением U,.

1Гри изменении величины приложенного к образцу напряжения до значения

Uj ток во внешней цепи образца становится равным I,,

с.(Е . ).

U)

Из выражения (3) вычитаем выражение (2) и находим об

oL

h(l, - U)

и, - u

I/ei , и следовательно

С)

Q

5 Q 5

Q

0

Е

и, - иг

5

hU4-I) где 6i - коэффициент, который зависит от удельной объемной электрической проводимости материала.

Следовательно, при выполнении указанной последовательности операций исключается необходимость определения величины ei , за счет чего повьшается точность измерения и сокращается время измерения.

Формула изобретения

Способ измерения напряженности электрического поля в твердом диэлектрике, заключающийся в облучении диэлектрика потоком электромагнитного излучения, нормально падающего на диэлектрик, и измерении при этом тока I в диэлектрике, отличаю щи й- с я тем, что, с целью повьшения точности и сокращения времени измерения, дополнительно прикладывают к диэлектрику поочередно напряжения U и и2,измеряют при этом токи I , и 1 соответственно в диэлектрике и определяют напряженность электрического поля по формуле

F и - и. т , h4i;-Ii)

где h - толщина диэлектрика.

Изобретение может использоваться для неразрушающего контроля напряженности электростатического поля в диэлектриках и обеспечивает повьшение точности и сокращение времени измерения. Способ состоит в том, что заряженный плоскопараллельный диэлектрик облучают потоком эл.-магн. излучения падающего нормально на его поверхность, и регистрируют ток I, протекающий в диэлектрике. Затем к диэлект рику прикладывают последовательно напряжения U, измеряют соответст § вующие токи 1, 1 в диэлектрике.Напряженность эл. поля определяют по формуле Е I(U,-U,i)/ h-d,-), где h - толщина диэлектрика. Повьшение точности и сокращение времени измерения обусловлены тем, что не требуется определять коэф., зависящий от удельной объемной эл. проводимости диэлектрика. СЛ

Редактор В. Данко

Составитель П. Савельев

Техред А.Кравчук Корректор Г. Решетник

Заказ 5121/43

Тираж 772

.ВНИИПИ Государственного комитета СССР

по делам изобретений и открытий 113035, Москва, Ж-35, Раушская наб., д. 4/5

Подписное