СПОСОБ КОНТРОЛЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПАРАМЕТРОВ ВОГНУТЫХ ГОЛОГРАФИЧЕСКИХ ДИФРАКЦИОННЫХ РЕШЕТОК Советский патент 2002 года по МПК G02B5/32 

Способ контроля технологических параметров вогнутых голографических дифракционных решеток путем определения расстояния от вершины решетки, установленной в спектрографе, до ее спектрального изображения в меридиональной и сагиттальной плоскостях, отличающийся тем, что, с целью повышения точности контроля, устанавливают решетку в спектрографе по автоколлимационной схеме для заданной длины волны λ, измеряют угол ϕ падения и дифракции для заданной длины волны λ, после чего измеряют расстояния r_s и r_m от вершины решетки до ее спектрального изображения в меридиональной и сагиттальной плоскостях, а искомые технологические параметры l₁ и l₂ вычисляют по формулам


где

l₁ и l₂ - расстояния от вершины решетки до источников записи;
R_m и R_s - соответственно меридиональный и сагиттальный радиусы кривизны вогнутой поверхности решетки;
λ^* - длина волны записи голографической решетки;
i₁ и i₂ - углы, под которыми источники записи расположены по отношению к нормали к поверхности решетки.