Изобретение относится к полупроводниковой электронике, в частности к технологии изготовления полупроводниковых приборов на основе материалов группы А3В5.
Цель изобретения повышение качества надежности контактов путем снижения значения переходного сопротивления. Омические контакты изготавливают следующим образом.
Полированные пластины арсенида галлия n-типа (концентрация N 1 2 ˙ 1018 см-3) перед нанесением контактных материалов обезжириваются и подвергаются очистке путем анодного окисления с последующей обработкой в соляной кислоте до снятия полученного окисла. Затем пластины промываются в деионизованной воде. Непосредственно после промывки осуществляется осаждение пленки палладия из 0,5%-ного водного раствора хлористого палладия при 70оС в течение 15 с. Толщина пленки палладия, полученная в таком режиме, соответствует 1000 . На пластины с палладием, нагретые до 300оС, напыляются пленки Ge (1000 ) и Ni (500 ) при давлении в рабочей камере установки 5 ˙ 10-6 мм рт.ст. После напыления пластины выдерживаются в вакууме при 300оС в течение 20 мин. Далее при необходимости на пластины осаждается пленка золота гальваническим способом в режиме, обеспечивающeм получение пленки толщиной 500 , после чего пластины подвергаются отжигу при 300оС в течение 20 мин.
Изобретение позволяет снизить значение контактного сопротивления к арсениду галлия до одного порядка, что в итоге позволяет повысить качество контактов, их надежность.
название | год | авторы | номер документа |
---|---|---|---|
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ МНОГОСЛОЙНОГО ОМИЧЕСКОГО КОНТАКТА К ПРИБОРУ НА ОСНОВЕ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ | 2014 |
|
RU2575977C1 |
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ МНОГОСЛОЙНОГО ОМИЧЕСКОГО КОНТАКТА ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ (ВАРИАНТЫ) | 2009 |
|
RU2391741C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛЕВЫХ ТРАНЗИСТОРОВ С ЗАТВОРОМ ШОТТКИ ИЗ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ | 1992 |
|
RU2068211C1 |
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ КОНТАКТА ДЛЯ НАНОГЕТЕРОСТРУКТУРЫ ФОТОЭЛЕКТРИЧЕСКОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ НА ОСНОВЕ АРСЕНИДА ГАЛЛИЯ | 2010 |
|
RU2428766C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ | 1993 |
|
RU2061278C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ | 2005 |
|
RU2292610C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ФОТОПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ НА ОСНОВЕ GaAs | 2013 |
|
RU2547004C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОМИЧЕСКИХ КОНТАКТОВ К ПЛАНАРНОЙ СТОРОНЕ СТРУКТУРЫ С ЛОКАЛЬНЫМИ ОБЛАСТЯМИ НИЗКОЛЕГИРОВАННЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВ ГРУППЫ АВ | 1993 |
|
RU2084988C1 |
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПРИБОРОВ | 1993 |
|
RU2061279C1 |
СПОСОБ ФОРМИРОВАНИЯ РАЗВОДКИ | 1992 |
|
RU2054745C1 |
Изобретение относится к полупроводниковой электронике, в частности к технологии изготовления полупроводниковых приборов. Цель изобретения уменьшение температурных погрешностей сейсмометра. Цель достигается следующим образом. Пластина арсенида галлия n-типа проводимости очищается способом химического травления. После очистки на его поверхность из раствора осаждается слой палладия толщиной 100 После отжига структуры при 2000 300°С в инертной среде, поверх слоя палладия методом напыления последовательно наносят слои германия, никеля или алюминия. Толщина слоя германия достигает от 100 до а толщина слоя никеля или алюминия от 500 до Для изготовления вывода поверх слоя никеля или алюминия гальваническим способом осаждается слой золота.
СПОСОБ ИЗГОТОВЛЕНИЯ ОМИЧЕСКИХ КОНТАКТОВ К АРСЕНИДУ ГАЛЛИЯ n-ТИПА ПРОВОДИМОСТИ, включающий химическую очистку пластины, нанесение германия и палладия, нагрев в инертной среде, отличающийся тем, что, с целью повышения качества и надежности контактов путем снижения переходного сопротивления, на пластину после химической очистки наносят химическим путем палладий, толщиной нагревают структуру до 200 300oС, германий наносят толщиной после чего наносят никель или алюминий, толщиной
I.C.Werthen "Ohmic contracts to n - Ga As using low - temperature anneal", J.Appl.Phys 52(2), February, 1981, p.p.1127-1129. |
Авторы
Даты
1995-12-10—Публикация
1986-07-23—Подача