Способ контроля герметичности корпусов полупроводниковых приборов Советский патент 1962 года по МПК G01M3/06 

Известны способы коит1)оля ;е1)1отпмносги замкичтых об-ьсмов по выдс.сн1по струи, пузырьков газа пли ноз.чуха.

Описываемый способ отлпч ются от язвестпых тем, что saNiKiiyTuii обтзсм, иапрг.мер корпус полупроволиикозого прибора, заполпяется ацетопом, спиртом или бспзпном- Иасьппспиые пары этпх заполнителе создают при нг1Г1теваппи корпуса большее лавлеппе. чем газ пли возл,ух. Поэто у появляется возм(кпость выявлении мельча11Ш)1Х дефектов оболочкиОпиеаппы способ резко повьлпает качество контроля герметпчпости корпусов полуп.рово;1ппко1,ых iipi6opOB, а кон,троля герметичпостп коптактпо сва)п н спая стекла с метал.юм.

Испытания, проведенные авторами, г.оказалп, что с помощью предложеппого способа выявляется бо.лвпшп проиепт иегерметпчпых приборов по сравнению с рапее пзвестшммп способами. Этот сиособ рекомеидовап для внедрения па ря;1е з;г-и чов.

Способ коптрлля ге 1метич ;остп корпусов полупроводниковых приборов, по которому о герметичиости корпусов C ;IHT по пузырькам, выделяюо1п% ся через дефект корпуса за счет и.збыточного давлеппя. создаваемо1о при нагреваппи корпуса, отличающийся тем. что, с целью повышенпя качества контроля герметичности корпусов полупроводниковых приборов, иоследние заиолняются ацетопом, спиртом или бензином.